摘要:光学遥感数据的大气校正需要确定气溶胶和气体的光学特性。提出了一种方法,该方法允许从无云情况下的投影像素中以低于 5 m 的空间采样间隔检测光学遥感数据的气溶胶散射效应。导出的气溶胶光学厚度分布用于改进大气补偿。第一步,一种新颖的光谱投影检测算法使用光谱指数确定阴影区域。对投影掩模的评估显示整体分类准确率在 80% 的水平上。使用这种导出的阴影图,将 ATCOR 大气补偿方法迭代应用于阴影区域,以找到最佳气溶胶量。通过分析完全阴影像素与直接照明区域的物理大气校正来找到气溶胶光学厚度。基于阴影的气溶胶光学厚度估计方法 (SHAOT) 在机载成像光谱数据以及摄影测量数据上进行了测试。对于所研究的测试案例,使用这种导出的气溶胶光学厚度进行大气校正的反射率值的精度可以从 3-4% 提高到优于 2% 的水平。
tib.eu › viewer › content › targetFileName=...MSDF(多传感器数据融合)的概念和技术利用了...计算负担非常大,因此目标算法。
作者:AN Surendran · 2021 · 被引用 19 次 — MFS1 分离 Tag1 细胞。MFS2 分离 Tag2 细胞。作用于粒子的力是磁力和阻力。(c) Tag 的光学图像。1 ...
图3。(a)从左到右的顶行:边缘SEM,能量色散光谱(EDS)分析,显示了TIO 2纳米分布的分布以及高指数平面化a 〜4.25 µm和H〜1.8 µm的高指数平面底物S的红色激光衍射模式。 (b)中排:平面底物u的边缘SEM和红色激光衍射模式(A〜16 µm,H〜4.1 µm)。请注意大型无特征中央和六角形散射模式。(c)A 〜15 µm和H〜7 µm的近距离商业MLA的光学图像,以及(d)平面化弥漫性随机结构(基板M)的光学图像; OLED均在所有这些PE上用TiO 2纳米颗粒的高指数像素层制造。
图 S1。石墨烯/ -RuCl 3 器件制造。(A) 石墨烯/ - RuCl 3 器件组装的四个步骤图。在第一步中,使用 PC 涂层玻璃载玻片拾取 SiO 2 /Si 基板上剥离的 - RuCl 3。在第二步中,使用 -RuCl 3 /PC 转移载玻片拾取剥离的石墨烯。在第三步中,翻转转移载玻片并将 PC 从玻璃载玻片上分层并放置在 SiO 2 /Si 芯片上。在最后一步中,使用微焊接方法将铟触点沉积在器件上。1 (B) 石墨烯/ - RuCl 3 器件的光学图像,其中石墨烯以红色勾勒出轮廓, -RuCl 3 以绿色勾勒出轮廓。(C) (B) 中所示堆栈的高对比度放大图像。 (D)沉积铟触点后的石墨烯/-RuCl 3 器件的光学图像。
摘要在本文中,我们旨在使用深层神经网络从多云的光学图像和对齐的合成孔径雷达(SAR)图像中恢复无云的光学图像。与以前的方法相反,我们观察到卫星图像特征通常没有首选方向。通过使网络层遵守改变输入图像的方向的几何约束,可以将此见解纳入神经座的设计中,只能改变相应的输出图像的方向,而不必影响秘密的质量或细节。我们构建了一个多模式旋转 - 等级神经网络,称为EquICR(Equivariant Cloud Removal),该网络准确地编码了此几何。在接受公共SEN12MSCR数据集接受培训时,我们观察到使用EquiCR的重建图像质量的改善,与使用深度学习无内置旋转等效性相比。有趣的是,在更困难的情况下,当云覆盖量很高或训练数据集很小时,EquiCR对基线方法的改善更大。
这些报告多年来首次以印刷形式出现,尽管它们一直很受欢迎。其中第一篇描述了在实验室中制作 Davis-Gibson 滤光片以产生日光的程序。这些滤光片已被引用到光度测定、比色测定和摄影领域的许多国家和国际标准中,但该出版物多年来一直无法获得。第二篇是 2007 年举行的光学图像评估研讨会的论文集
摘要:考古学家经常依靠被动机载光学遥感技术来为(欧洲)景观考古项目提供一些核心数据。尽管这一考古领域经历了许多技术和理论的演变,但主要的航空摄影调查以及不太常见的考古机载侦察方法仍然受到许多固有偏差的影响,这些偏差是由低于标准的采样策略、成本、仪器可用性和后处理问题造成的。本文从景观(考古学)的概念开始,并用它来构建考古机载遥感。在介绍了对已经扭曲的考古人群进行采样时减少偏差的必要性并扩展了航空调查的“理论中立”主张之后,本文提出了八个关键特征,这些特征都有可能增加或减少使用被动传感器收集机载光学图像时的主观性和偏差。在此背景下,本文随后对景观考古学在过去几十年中依赖的各种被动机载光学成像解决方案进行了一些技术方法论反思。在这样做时,它对这些高度主观的方法对景观考古学的有效性和适用性提出了质疑。最后,本文提出了一种新的、更客观的利用被动传感器进行航空光学图像采集的方法。在讨论中,本文认为
(ad) 光学、(eh) 顶视图 SEM;(il) AFM 和 (mp) 175 微米蓝宝石上层 ITO 的导电 AFM 图像,底层 Al 2 O 3 缓冲层厚度不同:(a、e、i、m) 0 nm;(b、f、g、n) 20 nm;(c、g、k、o) 40 nm 和 (d、h、l、p) 60 nm。(a) 至 (d) 中的光学图像的比例尺为 100 μm,其他图像 (e) 至 (p) 的比例尺为 300 nm。