* 通讯作者:陈洪生、李世龙、钱浩良,浙江大学信息与电子工程学院量子信息交叉学科中心、现代光学仪器国家重点实验室,杭州 310027,浙江大学;浙江大学-杭州全球科技创新中心、浙江省先进微纳电子器件与智能系统重点实验室,杭州 310027,浙江大学;浙江大学 ZJU-UIUC 学院国际联合创新中心,海宁 314400,浙江大学,电子邮箱:hansomchen@zju.edu.cn (H. Chen)、shilong.li@zju.edu.cn (S. Li)、haoliangqian@zju.edu.cn (H. Qian)。https://orcid.org/0000-0002-5735-9781 (H. Chen)。 https://orcid.org/0000-0003-4200-9479 (H. Qian) 王海腾、牛俊如、陈巧璐、邵华和杨逸浩,浙江大学信息与电子工程学院现代光学仪器国家重点实验室量子信息交叉学科中心,杭州 310027,中国;浙江大学-杭州全球科技创新中心、浙江省先进微纳电子器件与智能系统重点实验室,杭州 310027,中国;浙江大学 ZJU-UIUC 学院国际联合创新中心,海宁 314400,中国 赵思涵,浙江大学物理学院量子信息交叉学科中心、硅与先进半导体材料国家重点实验室、浙江省量子技术与器件重点实验室,杭州 310058,中国。 https://orcid.org/0000-0003-2162-734X
Santec 的企业理念是通过光学技术的创新为世界提供新价值。我们开发、制造并向光传输设备制造商销售光通信组件。我们还为光学测量、光学处理和光学信息处理领域提供采用 LCOS 技术的空间光调制器。
本文介绍了用于空间数据链路应用的 GaAs 行波电光调制器阵列的设计注意事项。调制器设计的核心是低损耗折叠光学配置,可在设备的一端提供直接的直线射频 (RF) 接入,而所有光纤端口均位于另一端。此配置是多通道应用所需的密集单片调制器阵列的关键推动因素。它还可以实现更紧凑的封装、改进的光纤处理,并通过消除 RF 馈电装置中的方向变化来实现高调制带宽和低纹波。单个 Mach-Zehnder (MZ) 和单片双并行 (IQ) 调制器都已评估高达 70 GHz,带宽约为 50 GHz,低频开/关电压摆幅 (V π ) 为 4.6 V(电压长度乘积为 8.3 Vcm)。折叠式设备比传统的“直线式”调制器要紧凑得多,而适度的设备阵列(例如 × 4)可以容纳在与单个调制器尺寸相似的封装中。讨论了独立寻址 MZ 调制器单片阵列(每个都有自己的输入光纤)的设计考虑因素,并提出了实用配置。
H-412 AOM 将来自相干光源的光聚焦到光学介质内的合适光束腰,该介质由低损耗、光学级二氧化碲晶体组成。光线按比例被引导到初级强衍射级,角度取决于所应用的 RF 源波形的频率。先进的相干换能器阵列技术与精确的数字驱动技术相结合,使 H-412 AOM 能够在 RF 相位调制模式或传统的开/关脉冲 RF 模式下运行,以延长开/关对比度,而光束指向稳定性并不重要。操作需要 L3Harris H-400 AOM 系列兼容驱动器和接口电缆。
H-411 AOM 将来自相干光源的光线聚焦到光学介质内的合适光束腰,该介质由低损耗、光学级二氧化碲晶体组成。光线按比例引导到初级强衍射级,角度取决于所应用的射频源波形的频率。先进的相干换能器阵列技术与精确的数字驱动技术相结合,使 H-411 AOM 可以在射频相位调制模式或传统的开/关脉冲射频模式下运行,以延长开/关对比度,而光束指向稳定性并不重要。操作需要 L3Harris H-400 系列兼容驱动器和接口电缆。
H-401 AOM 将来自相干光源的光线聚焦到光学介质内的合适光束腰,该介质由低损耗、紫外线级熔融石英组成。光线按比例引导到初级强衍射级,角度取决于所应用的 RF 源波形的频率。先进的相干换能器阵列技术与精确的数字驱动技术相结合,使 H-401 AOM 能够在 RF 相位调制模式下运行,或在传统的开/关脉冲 RF 模式下运行,以延长开/关对比度,其中光束指向稳定性并不重要。与 H-400 AOM 系列兼容的驱动器和接口电缆是与 H-401 AOM 一起使用所必需的。
L3Harris 型号 H-101 AOM 是一种高速布鲁斯特窗口设备。它旨在支持脉冲拾取和模式锁定应用,这些应用需要比提供类似调制能力的单晶设备更高的光功率处理能力。来自相干光源的光聚焦到光学介质内的光束腰,该介质由低损耗、紫外线级熔融石英组成。当通过合适的射频 (RF) 源引入声脉冲时,光按比例引导到初级强衍射级。RF 输入信号通过单晶压电换能器转换为等效行进声脉冲,该换能器在高真空下合金粘合到熔融石英基板上。
参考文献和链接 [1] J. Aloimonos,“回复,我所学到的”,图像理解,第60,号1,页74-85(1994 年)。[2] C.-E. Liedtke,“图像分析中的智能方法”,Proc.SPIE,第3478,页2-10(1998 年)。[3] W. Osten,“主动光学计量学 - 通过示例定义”,Proc.SPIE,第3478,页。11-25(1998)。[4] W. Osten,M. Kujawinska,“主动相位测量计量学。”在:P.K.Rastogi 和 D. Inaudi(编辑。):光学无损检测和检测趋势,Elsevier Science B.V. 2000,页。45-69。[5] W. Osten,W. Jüptner,“用于主动光学 3D 检测的新光源和传感器”,Proc.SPIE Vol.3897,页。314-327(1999)。[6] Vialux GmbH,ALP 产品表,Chemnitz 2003,www.vialux.de。[7] C. Pruss,H. Tiziani,“使用膜镜进行非球面测试的动态零透镜”,Opt。Comm。233,15-19(2004)。[8] W. Li,Th。Bothe,W. Osten,M. Kalms,“物体自适应图案投影 - 第一部分:逆图案的生成”,Opt。& Las Eng。41 ,页。31-50 (2004)。[9] B. E. A. Saleh、M. C. Teich,《光子学基础》,John Wiley & Sons Inc. 纽约 (1991)。[10] W. Osten、W.、Jüptner,“用于 3D 形状和变形测量的现代光学传感器”,LaserOpto Oktober Vol。32,页。51-57 (2000) [11] Th。Bothe、W. Osten、A. Gesierich、W. Jüptner,“紧凑型 3D 相机”,Proc.SPIE Vol。4778,页。48-59(2002 年)。[12] B. Carlson,“光阀技术的新突破”,《高级成像》,第 62-63 页(1998 年)[13] S. Krüger、G. Wernicke、W. Osten、D. Kayser、N. Demoli、H. Gruber,“通过在卷积处理器中使用小波滤波器进行干涉条纹图案中的故障检测和特征分析”,《电子成像杂志》第 10 卷,第228-233(2001 年)。