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World File Search System光谱范围
空间应用LWIR检测器电子的设计和分析
•PICO1024是一个高分辨率1024x768图像传感器，音高为17 µm•对LWIR（8至14 µm）光谱范围敏感•基于无需硅（α-SI）的频谱范围•基于无需硅温度（α-SI）•-40°C至 +85°C之间的工作温度•提供-85°C•30-50 MK•热量<12 M.模拟视频信号（最多4个输出）•输入时钟信号：主时钟，集成时间，重置框架同步
基于液晶的光场调制及其它
液晶作为一种优良的电光材料，具有效率高、工作光谱范围广、可采用多种外场刺激（如电场/磁场、光照、热量）等优点，被广泛应用于光场调制。此外，其他材料如二氧化硅和一些氧化物基超表面、超材料、光子晶体、铌酸锂基非线性晶体等也在光场调制中发挥着独特的优势。关键词： - 光场调制 - 空间结构光束 - 相位 - 振幅 - 偏振 - 空间光调制 - 时域调制 - 频率调制 - 液晶
Inspec.x L 5.6/105 Vis-nir 0.5x
图像圆最大。[mm] 82放大倍率优化了0.5 REC。放大范围0.4…0.65 rec。工作距离[mm] 228…330光谱范围[NM] 400-1150 Azimuth标记是接口V -GROVEØ46H7滤波螺纹M43 x 0.75 Lenght [mm] 72.5直径[mm] 61.4重量[G]重量[G] 370储存温度[°C] -25…+70 ... +70工作温度[ +70 ... +70工作温度[°C] 7608-9031传感器盖玻璃（包括）0.76mm D263
斯巴鲁和罗曼太空望远镜
- 望远镜（L3Harris）：主镜和次镜已重新设计、抛光和镀膜； - 日冕仪中继光学元件已抛光和镀膜 - 广角仪器（GSFC/Ball） - 通过 WFI CDR - 已完成 ETU 马赛克板上所有 18 个工程测试单元（ETU）传感器芯片组件（SCA）的安装和对准 - 18 个飞行候选 SCA 中有 17 个在手 - 添加了新的 F213 滤光片（1.95-2.3）微米 - 现在具有覆盖镜子/探测器支持的整个光谱范围的成像滤光片
MCS100 UV/(N)IR 多组分过程光度计
使用气体滤波器相关法，由旋转气体滤波器生成的参考信号与浓度无关。该气体滤波器是一个微型单元，在高分压下充满了测量组分。来自光束源的光的测量气体光谱被气体滤波器消除。通过将空的滤光轮光圈旋转到光束路径中，可获得与浓度相关的测量信号。在两次测量期间，在第二个滤波器上旋转额外的干涉滤光片可以将光谱范围限制在测量组分的吸收带上。消光和其他信号处理的计算通过单光束双波长法进行。
MCS100 UV/(N)IR 多组分过程光度计
使用气体滤波器相关法，由旋转气体滤波器生成的参考信号与浓度无关。该气体滤波器是一个微型单元，在高分压下充满了测量组分。来自光束源的光的测量气体光谱被气体滤波器消除。通过将空的滤光轮光圈旋转到光束路径中，可获得与浓度相关的测量信号。在两次测量期间，在第二个滤波器上旋转额外的干涉滤光片可以将光谱范围限制在测量组分的吸收带上。消光和其他信号处理的计算通过单光束双波长法进行。
MCS100 UV/(N)IR 多组分过程光度计
使用气体滤波器相关法，由旋转气体滤波器生成的参考信号与浓度无关。该气体滤波器是一个微型单元，在高分压下充满了测量组分。来自光束源的光的测量气体光谱被气体滤波器消除。通过将空的滤光轮光圈旋转到光束路径中，可获得与浓度相关的测量信号。在两次测量期间，在第二个滤波器上旋转额外的干涉滤光片可以将光谱范围限制在测量组分的吸收带上。消光和其他信号处理的计算通过单光束双波长法进行。
MCS100 UV/(N)IR 多组分过程光度计
使用气体滤波器相关方法，由旋转气体滤波器产生的参考信号与浓度无关。该气体滤波器是一个在高分压下充满测量成分的微型单元。来自光束源的光的测量气体光谱被气体滤波器消除。通过将空的滤光轮光圈旋转到光束路径中，可获得与浓度相关的测量信号。在两次测量期间，将附加干涉滤光片旋转到第二个滤光片上，可以限制测量成分吸收带上的光谱范围。消光和其他信号处理的计算由单光束双波长法进行。
MCS100 UV/(N)IR 多组分过程光度计
使用气体滤波器相关法，由旋转气体滤波器生成的参考信号与浓度无关。该气体滤波器是一个微型单元，在高分压下充满了测量组分。来自光束源的光的测量气体光谱被气体滤波器消除。通过将空的滤光轮光圈旋转到光束路径中，可获得与浓度相关的测量信号。在两次测量期间，在第二个滤波器上旋转额外的干涉滤光片可以将光谱范围限制在测量组分的吸收带上。消光和其他信号处理的计算通过单光束双波长法进行。
具有堆叠量子点吸收器的CMOS图像传感器用于广谱成像
近年来，量子点材料作为光子吸收剂引起了人们的注意。它们的出色特性，包括高吸收系数，长载体扩散长度和低温兼容沉积，使其成为适合在多个光谱频段（例如可见的，近乎红外和X射线）中检测光子的合适候选物。这已被利用以开发宽光谱范围的图像传感器。图1显示了在CMOS芯片顶部沉积的量子点层的概念。CMOS过程的顶部金属用作与堆叠的量子点光子吸收器接触的像素底部电极。公共顶部电极由透明的导电层制成。