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FY-25 有源 LDO/CWO 初级分立...
1. 井甲板控制军官 2. 军官同等资格/或职位：CONN/OOD UW、CICWO、TOPWO 3. 船长、小型船舶主管 (OIC) 4. 船舶操作、锚泊、线路操作、井甲板操作、航行补给和起重机安全军官 5. 深入了解技术数据管理信息系统 (TDMIS)、联合区域技术图书馆 (CORETL)、高级技术信息支持 (ATIS) 和船级咨询 (CLADS) 信息系统的行政工作知识 新加入的军官应被派往 LHD、LHA、LPD、LSD 和 CVN 上执行传统海上职责 (BOSN/AFL)，以及各自海军海滩大队 (ACU/BMU/ACB) 内的 OIC 职位。分配的每个职位都要求申请人迅速成为其领域的常驻技术专家。申请人必须拥有丰富多彩的职业经历，并且在受聘后可在全球范围内任职。
推荐引用 推荐引用 Andrew C. Michaels，《人工智能、法律变革与权力分立》，88 U. Cin. L. Rev. 1083 (2020) 可访问以下网址：https://scholarship.law.uc.edu/uclr/vol88/iss4/4
本文支持第三条法官应保持人性这一主张，但这一主张比人们想象的更具争议性。一些当代法律学术文献在不同程度上认为，用人工智能（“AI”）取代人为法律将会或应该发生。最直接的是，尤金·沃洛克 (Eugene Volokh) 最近提出了一个有趣的思想实验，提出了一个基本问题：如果人工智能发展到可以充分模仿司法意见书写的程度，我们应该接受人工智能法官吗？沃洛克教授认为我们应该接受，但本文不敢苟同。尽管人工智能技术目前还远未达到这一点，但本文还是对沃洛克教授的思想实验进行了探讨，希望它能为人类在法律体系中的重要性提供一些有价值的见解。在沃洛克教授看来，最终的司法意见才是最重要的；他坚持认为：“如果一个系统可靠地得出我们认为合理的意见，我们就应该接受它，而不必坚持某种预先确定的意见产生方式。” 1 本文对这一基本前提提出质疑。司法机构不仅仅是一个意见工厂。在产生意见的过程中，人为的参与具有重要价值。在这方面，最常见的论点可能是，该过程促进了程序公正，从而使公众更深入地接受结果和司法系统的合法性。2 但本文试图提请人们注意一些相关但不同的原因，这些原因表明该过程本身具有重要价值，这些原因似乎在本文献中没有得到充分考虑。
高压功率分立器件和模块
Microchip 的 IGBT 产品为各种高压和高功率应用提供高质量解决方案。开关频率范围从传导损耗最小的 DC 到极高功率密度开关模式电源 (SMPS) 应用的 150 kHz。下图显示了每种产品类型的频率范围。每种 IGBT 产品都代表了最新的 IGBT 技术，为目标应用提供了最佳的性能/成本组合。共有六个产品系列，采用三种不同的 IGBT 技术：非穿通 (NPT)、穿通 (PT) 和场截止。
半导体分立器件专业制造商
银河是一家专注于分立器件研发、制造和销售的IDM半导体公司，主要产品包括各类二极管、碳化硅、MOSFET、晶体管、模拟IC、光耦、LED等分立半导体器件，可为客户提供适用性强、可靠性高的系列产品和技术解决方案，满足客户一站式采购需求，产品广泛应用于电脑及周边设备、家用电器、适配器及电源、网络通讯、汽车电子、工业控制等诸多领域。
空间分立器件的 PCB 板级测试
MIL-PRF-19500 [8]、MIL-STD-883 [4] 和 MIL-STD-750 [3] 是美国国防后勤局制定的标准，定义了半导体的性能要求、测试方法和检查，以确保它们在指定条件下运行，在我们的例子中，即太空。IPC-J-STD-001ES 太空附录 [7]、IPC-TM-650 [5] 和 IPC-9701A [6] 是联合行业标准，旨在确保电气元件和焊接元件可以在其指定环境中运行。IPC-TM-650 [5] 测试方法手册描述了这些标准中的许多测试。ECSS-Q-ST-70-08C [1] 是一项欧洲标准，可确保手工焊接的设备高度可靠，并能承受不同环境下的振动、冲击和环境。ECCS-Q-ST-70-38C [2] 标准确保表面贴装和其他技术的高可靠性焊接。ECSS-Q-ST-70-07 [9] 是一项确保自动焊接接头可靠性的标准，而这正是 IR HiRel 所执行的。由于环境测试参考了 ECSS-Q-ST-70-08C [1] 标准中列出的测试，因此未引用此标准。
用于分立功率器件状态监测和剩余使用寿命预测的复合故障前兆
摘要 — 为了防止电力电子系统中发生灾难性故障，已经确定了多种故障前兆来表征功率器件的退化。然而，在确定支持高精度剩余使用寿命 (RUL) 预测的合适故障前兆方面存在一些实际挑战。本文提出了一种充分利用潜在故障前兆来制定复合故障前兆 (CFP) 的方法，其中 CFP 直接根据退化模型进行优化以提高预测性能。明确推导了退化模型的 RUL 估计值，以方便前兆质量计算。对于 CFP 公式，采用遗传规划方法以非线性方式整合潜在故障前兆。结果，阐述了一个可以为给定的 RUL 预测模型制定出更好故障前兆的框架。通过 SiC MOSFET 的功率循环测试结果验证了所提出的方法。