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杜邦工业解决方案
前瞻性陈述涉及不同程度的不确定事项，且受风险、不确定性和假设的影响，其中许多不在杜邦的控制范围内，可能导致实际结果与前瞻性陈述中表达的结果存在重大差异。前瞻性陈述并非对未来结果的保证。可能导致杜邦公司的实际结果与此类前瞻性陈述中预测的结果大不相同的一些重要因素包括但不限于：（i）各方在将 M&M 业务剥离给塞拉尼斯的时机、完成情况以及会计和税务处理方面满足预期的能力，包括（x）未能获得必要的监管批准、预期的税务处理或未能满足拟议交易的任何其他条件，（y）不可预见的负债、未来资本支出、收入、费用、收益、协同效应、经济绩效、负债、财务状况、损失、未来前景、业务和管理战略可能影响拟议交易的价值、时机或进行，以及（z）将 M&M 业务剥离给塞拉尼斯范围内的业务线分离的风险和成本以及进行和/或实施、时机和对业务运营的影响，（ii）Delrin® 业务剥离的时机和结果，包括达成最终协议，以及实现拟议交易的风险、成本和能力，以及（iii）Delrin® 业务剥离的时机和结果，包括达成最终协议，以及实现拟议交易的风险、成本和能力，以及（iv）Delrin® 业务剥离的时机和结果，包括达成最终协议，以及实现拟议交易的风险、成本和能力，以及（v）Delrin® 业务剥离的时机和结果，包括达成最终协议，以及实现拟议交易的风险、成本和能力，以及（vi）Delrin® 业务剥离的时机和结果，包括达成最终协议，以及实现拟议交易的风险、成本和能力，以及（vii）Delrin® 业务剥离的时机和结果，包括达成最终协议，以及实现拟议交易的风险、成本和能力，以及（viii ...追求 Delrin® 业务剥离所带来的收益；(iii) 实现与合并、收购、剥离和其他投资组合变更行动相关的预期税收待遇的能力以及相关税收和其他法律变化的影响；(iv) 某些遗留债务的赔偿；(v) 与各方各自业绩相关的风险和成本，以及杜邦、科迪华和科慕之间分担未来合格 PFAS 成本的安排的影响；(vi) 未能按预期条款及时完成交易（或根本无法完成交易），实现预期收益，有效管理和实现与合并、收购、剥离和其他投资组合变更（包括预期的 Rogers 收购和 M&M 剥离）相关的预期协同效应和运营效率； (vii) 风险和不确定因素，包括成本增加以及获得原材料和满足客户需求的能力，与运营和供应链影响或中断有关，这些影响或中断可能由 COVID-19 疫情及其应对行动、地缘政治和天气相关事件等造成；(viii) 抵消原材料、能源和物流等投入成本增加的能力；以及 (ix) 杜邦业务和运营面临的其他风险；每项风险均在杜邦最新的年度报告以及随后向美国证券交易委员会提交的当前和定期报告中进一步讨论。证券交易委员会。未列出的因素可能会对前瞻性陈述的实现造成重大的额外障碍。与前瞻性陈述中预期的结果相比，结果出现重大差异的后果可能包括但不限于业务或供应链中断、运营问题、财务损失、对第三方的法律责任和类似风险，其中任何一项都可能对杜邦的综合财务状况、经营成果、信用评级或流动性产生重大不利影响。您不应过分依赖前瞻性陈述，这些陈述仅代表其发表之日的观点。杜邦不承担在情况发生变化时公开提供对任何前瞻性陈述的修订或更新的义务，无论是由于新信息、未来发展还是其他原因，除非证券和其他适用法律另有要求。
Synopsys，Inc。的预期收购ANSYS，Inc。
（b）与光学软件和光子学软件有关，概念会通过资产转移概念概述的摘要剥离，该概述的光学解决方案组（OSG剥离业务），一个独立的业务部门，由概念组成的独立业务部门，包括整个全球光学和光子光子设备设备设计和模拟业务，供钥匙到Keysight或另一个合适的购买者。OSG撤资业务包括[]，Synopsys的Optics软件产品（代码V，LightTools，LucidShape，IMSYM），Pipeline []软件产品（[]），Photonic软件产品（RSOFT光电设备工具），所有相关的IP和所有相关服务，以及相关服务，客户合同，人员和四个工具，人员，人员和四个工具。2适用于OSG撤资业务工具的所有互操作性协议将被剥离并转移到OSG撤资业务。
商业服务并购更新 - 2024 年第一季度
SilverSun (NAS: SSNT) 是一家总部位于新泽西州的应用程序开发、技术和咨询服务提供商，该公司于 2024 年 1 月以 10 亿美元的价格将多数股权出售给 Jacobs Private Equity (“JPE”)。JPE 打算剥离 SSNT 的现有业务，并将剥离的所有股份分配给 SSNT 的股东。剩余的公司将成为重大收购的独立平台。
隔热的Fastrax基平台
•可以将面板放置在Fastrax的基础上或传统的基础上•拐角是预制的•有10英尺长的可用•面板高度。无需切割。板准备倒入。•预填充和回填现成的外墙•将面板高到高。无需切割<用喷雾泡沫粘合舌和凹槽。需要剥离•100％可回收和环保用喷雾泡沫粘合舌和凹槽。需要剥离•100％可回收和环保
nnt-2024-nilindustrialday-abstract-booklet.pdf
9。工程学院10。医学学院11。Skåne大学医院12. 艾迪恩科学园13。 Medicon Village 14。 Max IV 15。 科学村16。 欧洲剥离来源（ESS）Skåne大学医院12.艾迪恩科学园13。Medicon Village 14。Max IV 15。科学村16。欧洲剥离来源（ESS）
根据温度和相对湿度计算吸湿性和...使用有限元分析
摘要：近年来，半导体封装结构不断薄型化、复杂化，随着厚度减小，因材料不匹配引起的界面剥离现象会进一步增加，因此界面的可靠性是工业领域中的关键问题。尤其在半导体封装中广泛使用的聚合物受温度和湿度的影响较大。因此，本研究通过有限元分析对不同温度条件下封装结构界面的剥离情况进行预测，考虑吸湿和解吸的水分。通过吸湿试验获得了材料的扩散率和饱和含水量等性能。通过TMA和TGA分析了每种材料吸湿后的吸湿膨胀系数。进行微剪切试验，评估考虑湿度影响下各界面在不同温度下的黏附强度。进行了考虑温度和吸湿变形的界面剥离有限元分析。因此，考虑到回流过程中的原位水分解吸和温度行为，成功预测了界面分层。
爆炸性和潜在危险指南...
浸渍剥离法的优点是它是最温和的测试方法，如果化学物质对冲击敏感，这一点很重要。它还有另一个显著的优点：它可以在一定程度上检测二烷基过氧化物、多过氧化物和环状过氧化物，而其他方法（也许硫酸钛法除外）无法有效检测这些化合物。一些溶剂，特别是异丙醚和二恶烷，可能会形成大量且危险的这些高反应产物。此外，标准的过氧化物去除程序可能会去除所有的氢过氧化物，但会留下危险水平的烷基过氧化物、多过氧化物和环状过氧化物。常规的硫氰酸亚铁和碘法在这种情况下可能会产生假阴性，但浸渍剥离法可能会检测到剩余的过氧化物，尽管可能不是定量的。然而，浸渍剥离法很难用于与水不混溶的低挥发性化学品。
全印刷超高响应度 MoS2 纳米片...
二维材料具有独特的光电特性，是可调、高性能光电器件的有希望的候选材料，而这些光电器件对于光学检测和量子通信至关重要。[1–3] 为了实现二维纳米片的可扩展生产，液相剥离 (LPE) 已被广泛探索，但与微机械剥离相比，其电子性能往往会受到影响。[4–6] 在 LPE 中，块状晶体被剥离成几层纳米片，通常使用超声波能量在适当的溶剂和/或稳定剂存在下，然后通过离心选择尺寸。[7] 虽然单个 LPE 纳米片可能表现出很高的光电质量，但基于渗透纳米片薄膜的器件通常会存在纳米片之间较大的接触电阻。 [7–9] 降低片间电阻的一种策略是优化 LPE 工艺，以获得具有较大横向尺寸的高纵横比纳米片，从而减少片间连接的数量和
在金属沉积过程中，MIM顶部金属剥离与过渡流相关的研究Chang'e Weng，Tertius Rivers，Moreen Minkoff，
对金属沉积过程中的MIM顶部金属剥离的研究Chang'e Weng，Tertius Rivers，Moreen Minkoff，Ron Herring，Richard Ducusin，Richard Ducusin，Jinhong Yang Yang和Joseph Chinn Qorvo，2300 Ne Brookwook Wookwwood，Ne Brookwood Parkway，Hillsboro，Hillsboro等503-615-9820关键字：MIM，过渡流，脱皮，溅射，金属，Knudsen编号，电容器泄漏相关测试失败的电容器摘要研究揭示了金属绝缘仪金属金属（MIM）顶部金属剥离和金属沉积工具之间的相关性。简介金属 - 绝缘子 - 金属（MIM）电容是基于GAA的RF技术的重要组成部分1,2,3,4。MIM电容器由底部金属板，介电层和顶部金属板组成。MIM电容器的制造涉及多个过程步骤。互连金属零层通常用作MIM底板。在该金属下方或顶部的缺陷可能导致MIM电容器缺陷4。氮化硅或氧化物被广泛用作电容器介电层，并使用PECVD过程沉积。介电层厚度和粗糙度的变化直接影响电容器性能。蒸发或溅射的Ti/pt/au金属堆栈通常用作MIM顶部金属。由于MIM顶部金属通过层间介电VIA连接到下一个上部金属层，因此在MIM金属沉积过程中形成的缺陷也可能导致电容器和通过与通过相关的参数故障。由于MIM过程的复杂性，在过程中无法在串联检测到的缺陷可以在各种过程步骤中形成。过程取决于缺陷的性质和位置，过程控制监视器（PCM）和Diesort测试可以筛选出一些有缺陷的模具，但是除非使用更具破坏性的测试，否则可能无法检测到某些缺陷。MIM电容器的缺陷通过PCM和Diesort测试是一个可靠性的问题。手机制造商和RF设备制造公司的研究都表明，MIM电容器故障是许多早期现场故障的主要原因1,3,4。在Qorvo中，开发了一种电压斜坡方法来检测MIM电容器缺陷4。评估每个单个模具，并在低压区域4中筛选出缺陷的模具。通常需要改进过程来解决相关的测试失败。在本文中，我们讨论了迪索（Diesort）在迪索（Diesort）检测到的电容器泄漏故障的研究，该泄漏失败与MIM顶部金属剥离有关。