cds薄膜是通过化学沉积在玻璃基材上制备的,以便在薄膜光电接种者中作为缓冲层的潜在用途。使用X射线相分析和拉曼光谱法,确定在最佳技术条件下合成的CD膜在六边形的wurtzite结构中结晶。已经表明,沉积时间会影响合成材料的生长速率,形态和微观结构特征。随着在给定溶液温度下的沉积时间的增加,观察到表面粗糙度的显着降低,伴随着晶体簇和微结构缺陷的大小减少。CD膜的光节间隙为2.53 - 2.57 eV。光致发光光谱中明显的绿色发射带的存在表明CD膜具有高度的结晶度,最小的缺陷密度。
涂料和封装技术PowderMet具有令人印象深刻的涂料和封装技术组合,以便提供通行器处理,以封装广泛的材料,并利用我们独特的流化床化学沉积(FBCVD)技术,以及我们的SOL-GEL和HIDELOMENEMENEMENTALLEMENEMENTALLEMENTALLEMENTALMENEMENTALLEMENTALMENTALLURGY PROCECTER。我们可以处理一系列小至100纳米的材料,但要保持受控的涂层厚度。Powdermet为各种材料平台的各种行业提供了研发和通行涂料服务。左侧的透射电子显微镜(TEM)图像显示了我们在该粒子整个表面上的封装的一致性(8.3 nm,足够小,其中10,000多个适合人毛的直径)。
序言:本课程旨在让研究生(VLSI 专业)深入了解 VLSI 的最新技术。本课程的主要目标是让学生熟悉器件制造和特性,以展示不同器件操作的基本概念及其在某些实际应用中的特性。洁净室、真空技术、薄膜或纳米结构物理和化学沉积是本课程不可或缺的一部分。此外,它将向学生说明课堂教学中讨论的概念,并提供在实验室中构建、感受和测试真实系统的机会。此外,学生还将在实验室中制造应用导向设备,例如 MOS 电容二极管、光电探测器、生物或气体传感器。总而言之,本课程的目标是让学生了解最新的微电子制造加工技术。
在过去的 50 年里,真空技术已经得到了长足的发展和成熟,但在工业应用方面仍然存在重大挑战需要克服,以确保真空处理产品的可靠性和质量,并提高日益复杂的真空工艺的成本效率。现有的真空测量标准为平衡条件下的纯气体提供从 10 -9 Pa 到 10 5 Pa 的可追溯性。然而,工业过程很少使用纯气体(例如电子制造中的物理和化学气相沉积或硬化工具的涂层等),并且经常在压力动态变化的非平衡环境中进行(例如光盘制造中的物理和化学沉积)。缺乏工业相关标准和可追溯性意味着制造商和最终用户通常难以获得其工艺参数的可靠和有代表性的测量结果。
这些金属从矿山,矿石加工单元和其他类似行业的提取过程每年在化学过程中产生大量的废水。废水中相对较高的or浓度浓度清楚地表明了其净化的必要性,以保护环境的健康[8]。去除重金属和放射性金属的常见方法包括一种或一种蒸发方法的组合,化学沉积[9],电化学处理[10],离子交换[11,12],溶剂提取[13,14],反渗透[15],膜过程[16-18],以及膜过程[16-18],以及ADSOREPTIONS [19-–21]。这些方法中的每一种都有优点和缺点,根据条件,选择了每种方法或它们的组合。吸附过程用于从水溶液中去除重金属。因此,由于其经济学,灵活性和可重复性,吸附方法比其他方法更有趣[22-24]。
摘要。随着技术的开发,传统锂电池中的石墨材料由于人们相对较低的特定能力,有限的充电和排放率以及安全性差而无法满足需求。硅具有很高的理论特异性能力,远远超过了传统的石墨负电极材料,使硅纳米颗粒成为提高锂离子电池能量密度的理想选择。在本文中,我们首先介绍硅纳米颗粒阳极及其制备方法:机械球铣削和热裂纹,并在其中介绍了粘合剂的应用。其次,引入了硅纳米线阳极及其制备的化学沉积方法,并引入了高性能的硅纳米线锂电池。第三,引入了硅薄膜阳极和两种复合膜的制备。最后,总结了三种类型的硅纳米阳极。本文对基于硅的锂离子电池的未来研究具有参考意义。
该研究的目的是确定硫化镍薄膜的光学特性,即,来自化学浴沉积方法(CBD)的反射率,吸光度,透射率和能量带隙,与几个波长相关,并与各种紫外线(UV)范围相关,以确定其潜在的效果。使用硫酸盐,硫代硫酸钠和三乙醇胺(TEA)溶液,将镍硫化物薄膜化学沉积。基于Avantes单光束扫描UV-SpectroPhotopormeter,NIS薄膜的光学特性,这是光谱吸光度,反射率和透射率。发现NIS薄膜在所需的波长紫外线范围内具有很高的透明度,用于光疗的应用,低吸收系数可最大程度地减少能量损失和最大化增益,低反射可用于最大程度地减少反射损失,并最大程度地减少光耦合效率和1.98 EV的能量带差异,使其具有1.98 EV的evap em emememememecondoctor材料。nis薄膜中的薄膜被证明具有光疗中光放大器的所需特性特性。
摘要 在以HNO 3 为氧化剂的HF溶液中,银催化刻蚀p型硅变得更加容易。在浸入刻蚀剂溶液之前,在p-Si(100)表面化学沉积银(Ag)。通过在HF/HNO 3 中染色刻蚀,在p-Si上也生成了多孔硅层(PSL)。采用电化学阻抗谱(EIS)、扫描电子显微镜(SEM)、能量色散X射线(EDX)、原子力显微镜(AFM)和X射线衍射(XRD)来评估所生成的PSL的性能。根据SEM,浓度为1×10 −3 M的Ag +离子是在HF/HNO 3 中化学刻蚀之前在Si上沉积的最佳浓度,可得到具有均匀分布的孔隙的PSL。 EIS 数据显示,涂覆的 Si 在 22 M HF/0.5 M HNO 3 中的溶解速度比未处理的 Si 快,从而形成均匀的规则圆形孔 PSL,SEM 显微照片证明了这一点。使用具有两个时间常数的可接受电路模型来拟合实验阻抗值。蚀刻剂 HF 或氧化剂 HNO 3 的浓度增加有助于 Si 的溶解和 PS 的快速发展。AFM 分析表明,随着蚀刻时间的增加,Si 表面的孔宽和粗糙度增加。使用 X 射线光谱衍射来确定不同蚀刻时间后 PSL 的结晶度。