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原子力显微镜
参考文献 i https://en.wikipedia.org/wiki/Atomic_force_microscopy（最后访问时间：20/04/20） ii Giessibl, FJ (2003)。原子力显微镜的发展。现代物理评论，75 (3)，949。 iii Binnig, G.、Quate, CF 和 Gerber, C. (1986)。原子力显微镜。物理评论快报，56(9)，930。 iv Morita, S.、Giessibl, FJ、Meyer, E. 和 Wiesendanger, R. (Eds.)。(2015)。非接触式原子力显微镜（第 3 卷）。Springer。 v http://web.physik.uni-rostock.de/cluster/students/fp3/AFM_E.pdf（上次访问时间：30/04/20） vi https://myscope.training/legacy/spm/background/（上次访问时间：20/04/20） vii Hansma, HG (1996). 生物分子的原子力显微镜。真空科学与技术杂志 B：微电子和纳米结构处理、测量和现象，14(2)，1390-1394。 viii Filleter, T. 和 Bennewitz, R. (2010). 通过原子力显微镜研究 SiC (0001) 上石墨烯薄膜的结构和摩擦特性。物理评论 B，81(15)，155412。
高级光学组件的原子力显微镜
尽管干涉方法（例如WLI和PSI）在粗糙的表面上产生良好的结果（请参见图5下一页），但它们并不适合每个应用程序。例如，诸如干扰过滤器中使用的涂层可以引入相变形或额外的干扰条纹，从而导致结果不准确。包含具有非常不同光学特性的区域的样品也会产生测量误差。在宽波长范围内具有高传输的涂层，例如反射性涂料，可能无法充分反映出良好的测量。动态范围限制也是高度弯曲表面或具有急剧变化的表面的考虑。具有PSI，高度变化大于相邻像素之间的几百纳米可能会导致测量问题。
高级实验室原子力显微镜
样品持有人的主要任务是将样品保持在稳定的位置。它也可以配备功能单元，例如加热器或液体腔室。扫描头用于固定悬臂并将其移到样品上。通常，压电驱动器用作精确的电动机，在X和Y方向上扫描样品。z方向上的运动通常也由压电电动机执行。1扫描头最重要的部分是尖端，该尖端位于小悬臂末端。悬臂大约只有头发宽（0.1毫米），通常由硅或氮化硅制成（Si 3 N 4）。尖端本身通常具有4-30 nm的半径（见图2 a）。四季度光电二极管用作从悬臂背面反射的激光的检测单元（见图2 b）。
福岛第一核电站的红外辐射温度测量 - 防卫省/自卫队
3月20日（星期日）进行了第二次红外测量。测量结果将开始在该部的网站上公布。 防灾本部会议结束后，首席技术官向总理报告了第二次测量结果。
通过非接触式原子力显微镜
分子氧与半导体氧化物表面的相互作用在许多技术中起着关键作用。这个主题很难通过实验和理论来实现，这主要是由于多种施加电荷状态，吸附氧气的吸附构和反应通道。在这里，我们使用非接触原子力显微镜（AFM）和密度功能性the-Ory（DFT）的组合来解决金红石TIO 2（110）表面上的吸附O 2，这在金属氧化物的表面化学中提出了长期的挑战。我们表明，通过氧气量终止的化学惰性AFM尖端可以很好地解决吸附物种和底物的氧气sublattice。吸附的O 2分子可以从表面接受一个或两个电子极性，形成超氧或过氧物种。在与应用相关的任何条件下，过氧状态是最优选的。非侵入成像的可能性使我们能够解释与尖端注入电子/孔注入相关的行为，与紫外光的相互作用以及热退火的效果。
导电原子力显微镜中的MoiréFringes
moir e物理学在表征功能材料和物理特性的工程中起着重要作用，从应变驱动的运输现象到超导性。在这里，我们报告了在模型铁电ER（MN，TI）O 3上获得的导电原子力显微镜（CAFM）中Moir E条纹的观察。通过进行系统的研究，对关键实验参数对诸如扫描角度和像素密度等新兴的Moir e Fringes的影响，我们证明，观察到的条纹由于应用的栅格扫描和样本互动性的叠加而产生，并将测量的调节型对电导率进行分类，从而在扫描的Moir e vistanning scanning Moir e效应中分类。我们的发现对于CAFM对Moir E工程材料中当地运输现象的研究至关重要，这为将外在的和固有的Moir E效应区分开提供了一般指南。此外，这些实验提供了一种可能提高灵敏度的途径，通过通过更长期的MOIR E模式在空间分辨率限制下探测电导量的变化来推动局部运输测量的分辨率限制。