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国防电子产品可靠性要求 - DTIC
传统可靠性评估方法侧重于可靠性预测，而 PoF 方法则关注预防、检测和纠正与产品设计、制造和操作相关的故障。PoF 方法的基础是产品要求的定义，包括在操作和非操作期间暴露于温度、湿度、振动、冲击、腐蚀、辐射和电力等应力，以确定产品可能如何发生故障。然后进行可靠性评估，针对主要故障部位，并确定产品是否能达到预期寿命，或者是否必须采取其他措施来提高其稳健性。
CEPP将驾驶可实现的，订单和可靠的...
与其他需要公用事业公司使用更多清洁能源但可能将其中一些成本传递给纳税人的电力部门政策相比，CEPP旨在降低客户成本。根据计划，公用事业必须将其100％的赠款用于客户和工人福利，包括直接账单援助，清洁能源和能源效率投资，以及通过能源系统的变化为工人提供支持。此外，根据该计划，公用事业的付款必须由公用事业公司的股东和所有者而不是纳税人支付。利用最佳实践的实用程序，例如全源竞争性采购，可以进一步降低电力成本。17
故障模式和面向可靠性的系统设计...
未来电动飞机和混合动力飞机对电力的需求不断增加，机载系统的高功率电力转换研究工作一直在进行中。航空系统的安全关键性质使航空电力转换器的可靠性成为关键的设计考虑因素。本文研究了电力电子系统的可靠性，重点研究了关键子部件的寿命限制因素。为起动发电机驱动转换器建模了不同系统电压水平下的电压源功率转换器的可靠性。一个关键的观察结果是，Si IGBT 器件足以满足低压和中压系统（高达 540 V）的可靠性要求。在更高的系统电压（高于 540 V）下，使用 Si IGBT 进行设计需要多级拓扑。在恒定功率曲线驱动中，转换器直流链路中薄膜电容器的磨损故障对系统可靠性的影响最小。在没有增强电压降额的多级拓扑中，系统可靠性主要受宇宙射线引起的随机故障影响。仿真结果表明，在高系统电压 (810 V) 下，带有 SiC mosfet 的 2 L 拓扑在可靠性方面优于基于 Si IGBT 的 3 L 拓扑。
可靠性设计：- NASA 技术报告服务器
中心自 1963 年起聘用他为航空技术专家。目前，作为任务安全与保障办公室设计、分析和故障指标工作的兼职，他负责产品保证管理，并教授课程以协助 NASA 的培训需求。Lalli 先生毕业于凯斯西储大学，获得理学学士学位和理学硕士学位电气工程。1959 年，作为 Case 的研究助理，后来在 PicatinnyArsenal，他帮助开发了电子引信和特殊设备。1956 年至 1963 年，他在 TRW 担任设计、领导和集团工程师。Lalli 先生是俄亥俄州的注册工程师，也是 Eta Kappa Nu、IEEE、IPC、ANSI 和 ASME 的成员。
非电子零件可靠性数据 1991 - MWFTR
对于特定设备，存在大量的可靠性经验。它包含两种计算组件级故障率的基本方法，即“零件应力法和零件计数法”。零件计数法只需要有限的信息（例如组件类型、复杂性和零件质量）即可计算零件故障率。手册的零件计数部分是通过将更复杂的零件应力法的模型因子分配给通常预期的略微保守的估计值而得出的。所有特定的默认值均在手册的附录 A 中提供。零件应力法需要更多信息（例如外壳或结温以及电气工作和额定条件）来执行故障率计算。在手册制定之前，每个承包商都有自己独特的数据集，必须完全了解其来源，然后才能进行有意义的设计比较。
功率控制器的可靠性预测 - DTIC
[ 直流控制器是一种微电子混合设备。采用了 MIL-HDBK-217B 通知 2《电子设备可靠性预测》第 2.1.7 节中的混合故障率预测模型和程序。这种预测方法需要识别单个电子零件和基板，以及每个零件的单独电应力数据。热应力是由混合封装温度和零件功率耗散引起的。
可靠性和可维护性 (RAM) 培训
认识到需要帮助项目经理更好地理解安全和保障技术，Gary G. Kelm、Frank J. Barber 和 Frank J. Barina 编写了附录 B。Kam L. Wong 使用 Charles Ryerson 和 Irwin Quart 提供的信息和概念编写了我们之前的工作簿 RP-1253 的第一章；感谢 North-Holland, Inc. 允许重印部分图表和文本。感谢 Fredrick D. Gregory、Michael A. Greenfield 博士、Peter Rutledge 博士、Vernon W. Wessel 和 Frank Robinson, Jr. 的鼓励和支持，让专业开发团队为我们的 NASA 安全培训课程 017 开发这本新工作簿。Henry A. Malec 已经去世，我们将怀念他。人们将永远记住他为推动可靠性协会所做的努力。他编写了本书原版的第 7、10 和 11 章。Martha Wetherholt 和 Tom Ziemianski 编写了第 8 章和第 9 章。感谢数字设备公司的数字出版社提供第 7 章中的软件评估材料。Vincent R. LaUi，现任美国宇航局格伦研究中心（俄亥俄州克利夫兰）风险管理顾问，编写了一些新章节和附录 C，添加了一些问题，并编辑和负责本手册修订版的最终 NASA 印刷。
AD-A223 647 可靠性分析/评估... - DTIC
MIL-HDBK-217E 微电路部分中的故障率预测模型，以确定它们是否适用于最先进的设备；(2) 根据需要修改或推断现有模型以反映当前和未来
国际可靠性入门和... - DTIC
估计每次收集这些信息的公共报告负担超过 1 小时，包括审查说明、搜索现有数据源、收集和维护所需数据以及完成和审查信息收集的时间。请发送有关此负担估计或此信息收集的任何其他方面的评论。包括减轻此负担的建议，发送至 Woshington 总部服务部。信息运营和报告理事会，1215 Jefferson Davis Highwoy。1204 套房。弗吉尼亚州阿灵顿 22202-4302。并寄至管理办公室预算、文书工作减少项目 10704-0188），华盛顿特区 20503。1.仅供机构使用（留空）2.报告日期 1997 年 3 月
空间应用 MEMS 可靠性保证指南
可靠性模型的应用 ................................................................ 16 故障 .............................................................. 18 .............................................................. 9 附加阅读材料 ..............................................................................................