XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System喷射流
喷射流 500
本文档中的信息如有更改，恕不另行通知，并不代表 Interactive Instruments, Inc. 的承诺。本文档中描述的软件根据许可协议或保密协议提供。软件的使用或复制必须符合协议条款。除许可协议或保密协议明确允许外，在任何媒体上复制软件均属违法。未经 Interactive Instruments, Inc. 书面许可，不得以任何形式或任何方式（电子或机械，包括影印和录制）复制或传播本手册的任何部分。 2014-2018 Interactive Instruments, Inc. 保留所有权利。在美国印刷。除非另有说明，否则本文示例中使用的公司、名称和日期均为虚构。印刷日期：2018 年 1 月 26 日
喷射流进行的单粒子效应测试结果...
卫星和其他航天器中使用的电子设备暴露在宇宙辐射中。为了确保这些设备的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多用于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 设备进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。