摘要:三氧化钼 (MoO 3 ) 是一种重要的过渡金属氧化物 (TMO),由于其在现有技术和新兴技术(包括催化、能源和数据存储、电致变色器件和传感器)中的潜力,在过去几十年中得到了广泛的研究。最近,人们对二维 (2D) 材料的兴趣日益浓厚,与块体材料相比,二维材料通常具有丰富的有趣特性和功能,这导致了对 2D MoO 3 的研究。然而,大面积真正的 2D(单原子层至几原子层厚)MoO 3 尚未实现。在这里,我们展示了一种简单的方法来获得晶圆级单层非晶态 MoO3,该方法使用 2D MoS2 作为起始材料,然后在低至 120°C 的基板温度下进行紫外臭氧氧化。这种简单而有效的过程可产生具有晶圆级同质性的光滑、连续、均匀和稳定的单层氧化物,这通过几种表征技术得到证实,包括原子力显微镜、多种光谱方法和扫描透射电子显微镜。此外,使用亚纳米 MoO3 作为夹在两个金属电极之间的活性层,我们展示了最薄的基于氧化物的非挥发性电阻开关存储器,该存储器具有低压操作和高开/关比。这些结果(可能可扩展到其他 TMO)将使进一步探索亚纳米化学计量 MoO3 成为可能,扩展超薄柔性氧化物材料和器件的前沿。关键词:晶圆级、单层、氧化钼、非晶态、电阻开关存储器
Kulicke&Soffa自2008年以来,英国和爱尔兰的Hub Dicing Blades专有分销商已被扩展到包括奥地利,德国,荷兰和葡萄牙。注释编辑此新闻稿是由Inseto(英国)发行的,受技术内容创建和通信机构声明(www.declaration.co.uk,+44(0)1522 789000)的限制。如果您对此公告有任何编辑询问,请联系Mandy Warrilow,新闻官员,mandy@declaration.co.uk。,如果您需要与本新闻稿有关的文章或任何其他形式的副本,请联系技术作者Richard Warrilow,Richard@declaration.co.uk。请致电+44(0)1264 334505与Matt Brown联系,或通过电子邮件(matt.brown@inseto.co.uk)与所有广告和赞助事务有关。关于Inteto(UK)Limited成立于1987年和ISO 9001:2015自2005年以来的认证,Inteto是针对半导体,微电动和高级技术领域的设备和相关材料的领先技术分销商,以及电子,自动化和工业制造的粘合剂。公司有三个部门,即:
为了分析 UBM 疲劳,使用热机械有限元模拟研究了圆形衬垫界面处的载荷。由于 Hutchinson 和 Sou [15] 推断出拉伸法向载荷的界面韧性远低于剪切载荷,因此重点关注法向载荷。模拟研究了 T = -40°C 至 125°C 的温度范围。在低温下 (T = -40°C) 存在最高的拉伸法向载荷。这可以通过焊球材料在低温下蠕变减少 [16] 来解释,这会导致更高的弹性应力。此外,在低温下可以检测到焊球的倾斜。倾斜是由 PCB 和封装的 CTE 不匹配引起的。因此,拉伸法向应力位于界面朝向封装周边的一侧(见图 3)。图 3 中的色标直观地显示了拉伸和压缩应力的定性分布。这些模拟结果与分层实验结果相一致(见图 1):在焊盘的相同外部区域也发现了分层。
高击穿电压:GaN器件可以处理高电压 高电子迁移率:GaN晶体管用于无线通信的功率放大器 高电子迁移率:GaAs表现出优异的电子传输特性,使其适用于高频应用 低噪声系数:基于GaAs的器件通常用于敏感RF接收器的低噪声放大器(LNA) 高功率处理能力:GaAs功率放大器在RF通信系统中普遍存在。
结果表明,由于背景图像噪声比颗粒尺寸更占主导地位,因此无法辨别晶圆上的颗粒。另一方面,所提出的方法可以以最小的串扰检查晶圆表面,并且使用实验定义的 HSV 颜色空间模型,可以按类型分离颗粒。生成的图像在视觉上清晰,没有颗粒和背景之间的串扰。所提出的方法简单、快速且易于使用,并表现出良好的颗粒分类性能。因此,该方法有望用于晶圆缺陷检测步骤,增强晶圆缺陷分类过程。
简单的摘要:在犊牛中,圆炎是一种或所有脐带结构的感染。这是新生小牛中第三大常见的疾病。这项纵向临床试验的目的是评估圆锥炎与被动免疫转移失败之间的关联。从2020年11月至2021年3月,每周两次访问法国中部的22个牛牛。女性(n = 463)和雄性(n = 501)牛犊的健康评分是两次:在第一次访问期间1至9天之间,在第二次访问期间8至16天之间。渐炎被定义为肿胀的脐带(大于20 mm)或疼痛反应或脐带排放或超声异常。在第一次访问期间,收集了血液样本,用于血清测量总固体百分比(TS-%brix)和总蛋白质(TP)。三百只犊牛(32.3%)出现渐肠炎。被动免疫转移的失败定义为血清%brix <8.1或tp <5.1 g/dl。在骨膜炎的患病率与被动免疫转移失败之间没有统计关联。在牛 - 钙系统中,农场水平的管理因素(产犊困难,住房卫生和脐带消毒)似乎对这种疾病的风险有更多影响。
ST Microelectronics 和 LETI:S. Lhostis、A. Farcy、E. Deloffre、F. Lorut 等人在拉斯维加斯电子元件和技术会议 ECTC 上发表演讲(2016 年)。