2019年12月Rev.0.9 1/8©2019 SDC Microelectronics Co.,Ltd。www.sdc-semi.com0.9 1/8©2019 SDC Microelectronics Co.,Ltd。www.sdc-semi.com
虽然氦气MS泄漏检测系统对小于10 -11 STD CC/sec的泄漏率敏感,但商业真空密封件仅因小于10 -10 STD CC/sec的泄漏率而获得认证。在这些情况下,可实现的敏感性与所报道的灵敏度之间的差异并不是由于存在较小的可测量泄漏(<10 -11 std cc/sec)。相反,降低的认证是由于难以使用可启用硬件进行可靠的泄漏测试。例如,所有金属焊接接头都可以轻松且可靠地证明泄漏速率低于10-11。对于大多数可启用的vacuum组件而言,这种类型的关节是不切实际的。即使在铜垫圈密封件的情况下,密封的过程不仅太耗时了,而且还会在外观上更改成品零件。
(a) 估计发生 CBRN 威胁的区域的技术 我们将构建一个系统原型,该系统可以根据事件发生时当地的天气条件和数据,使用逆模拟方法来计算源的估计区域CBRN 检测设备的分散状态导致 CBRN 威胁产生
MPS43B 是独特的 MPS43 仪器的第二代产品,将一流的精度和性能集成到一个非常小的外壳中。改进的全平板配有集成电源开关,增强了环境保护。它使用户能够享受空气数据测试特性,并体验紧凑的尺寸和便携性,这是更传统设计的产品无法实现的。坚固轻巧的外壳满足了航空航天工业的苛刻要求,并提供了其他产品无法提供的无与伦比的成本和拥有优势。
(第 14 届 TWI 在线研讨会)基于电弧的增材制造(AM),也称为定向能量沉积(DED)电弧或线弧增材制造(WAAM),引起了核能、石油和天然气、航空航天、建筑和海洋等广泛行业的极大兴趣。其沉积速率较高,有望用于大型承重结构。 TWI 的技术专长结合了数十年的理论和实践知识、经验和能力,涉及一系列 AM 工艺和支持技术,例如冶金学、材料分析和无损评估。 TWI 拥有一套综合的 AM 研究计划,其中包括过程监控、建模和仿真、AM 设计、产品工程和数字系统集成。 该网络研讨会将介绍 TWI 对 DED arc AM 正在进行的一些研究,并讨论它如何为未来的数字化制造流程做出贡献。这将包括材料、工艺、监测和质量保证等部分,还将介绍能源和其他行业的研究实例。 ◆ 讲师:徐雷博士(电弧焊部门首席项目负责人)<提供翻译>