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World File Search System宇宙辐射
机组人员和太空人员的宇宙辐射暴露
除了国际原子能机构外，BSS还由欧洲委员会，联合国食品和农业组织，国际劳工组织，经济合作与发展组织核能局，泛美健康组织，联合国环境环境计划和世界卫生组织共同赞助。
CARI 文档：大气中的辐射传输
来自太阳和星际空间的原始宇宙辐射以不同的量进入地球大气层。在地球大气层之外，宇宙辐射受到太阳活动和地球磁场的调节。一旦辐射进入地球大气层，它就会以相同的方式与地球大气层相互作用，无论其来源是太阳还是银河系。自 1980 年代末以来，民航研究所（即民航研究所 - 现民航医学研究所或 CAMI 的前身）一直在开发用于计算宇宙辐射在大气中电离辐射剂量的软件。对于 CARI-6 及更早版本，用于计算大气中时间和位置相关剂量率的方法包括从预先计算的银河宇宙辐射剂量率数据库中进行插值，这些剂量率涵盖广泛的输入条件（纬度、经度、太阳活动和海拔）。这些早期数据库不适合计算太阳质子事件剂量率。它们的最大高度也被限制在 87,000 英尺，而在 60,000 英尺以上的高度，有效剂量会越来越不准确。本报告介绍了 CARI-7 和 -7A 中使用的计算大气中宇宙辐射粒子通量和剂量的方法。该方法包括从预先计算的粒子进入地球大气层的蒙特卡罗模拟数据库中构建代表性的宇宙辐射流贡献。新方法虽然比旧方法稍慢，但它提高了高海拔的准确性，并且很容易应用于银河宇宙辐射和太阳粒子事件。虽然 CARI-7 处理数据的方式与蒙特卡罗模拟最一致，但 CARI-7A 为用户提供了处理这些数据的更多选项。
申请注意Mosfet Coolmos™CFD7A宇宙辐射对汽车上充电器中高压半导体的效果
质量和可靠性专家通常使用图1中的图形表示形式描述了产品人群的寿命，通常称为浴缸曲线。浴缸曲线由三个时期组成：婴儿死亡率期的失败率降低；其次是正常的寿命（也称为“使用寿命”），其失败率较低，相对恒定；并以磨损期结束，表现出越来越多的故障率。通过采用适当的测试程序，可以将婴儿死亡率失败降低到可忽略的价值，而磨损失败并不是一个问题，因为当产品设计良好时，只有在指定的寿命结束后才发生。另一方面，顾名思义，随机失败在产品的整个生命周期内随机发生，因此其故障率是恒定的。因此，这种失败是产品在产品使用寿命期间观察到的故障率的主要因素。
在低温条件下通过软伽马射线辐照表征 Si 和 SiC 功率器件中的载流子倍增
载流子倍增因子的特性是设计坚固可靠的功率半导体器件以及评估其对地面宇宙辐射引起故障的敏感性的关键问题。本文提出了一种低温恒温装置，以将使用来自 Am 241 放射源的软伽马辐射的非侵入式电荷谱技术应用于广泛的 Si 和 SiC 器件。本文提供了一种关系，将液氮温度下测得的倍增因子转换为环境温度下测得的倍增因子。本文提出了一种专用的模拟方案，将 TCAD 和 Monte Carlo 工具结合起来，以预测收集到的电荷的光谱并定位倍增因子的热点。最后，在强调了电荷倍增因子与地面宇宙辐射下的功率器件故障率之间的相关性之后，建议将本技术作为评估安全操作区的补充方法。
高精度粒子天体物理学作为宇宙中的新窗口，具有反物质在轨道（Aladino）中的大型接受探测器
抽象的多通用剂天体物理学基于宇宙辐射的检测，其准确性最高。在过去的20年中，太空中的出现太空播种磁光谱仪（AMS-01，Pamela，AMS-02）能够测量将带电的宇宙辐射与反物质分开的带电的宇宙辐射，并与最高的能量相同，可以与最高的能量相同，以确定最高的宇宙射线（CRS）组成部分。这些事态发展开始了精确的宇宙射线物理学时代，从而访问了丰富的高能量天体物理学计划，该计划涉及诸如Matter-Antimters不对称性，暗物质的间接检测以及对CRS的起源，加速和CRS繁殖及其与国际媒介的相互作用的基本问题。在本文中，我们解决了上述科学问题，在第二代，大量接纳，超导磁光谱仪的背景下，在欧洲航天局的Voyage 2050长期计划的背景下，提出的作为使命：反物质在轨道上的大型接受探测器（Aladino）将在能量和速度范围内的分离范围，从而延伸到两种范围之间，以较大的态度/分离量，并使倾斜度分离均匀地分离，并将倾斜度分开，而倾向于散发倾斜度，而淡淡的倾斜度，则可以在范围内进行分离。适用于解决并可能解决现代宇宙学最令人困惑的问题。
研究使用 TeO2-WO3-Bi2O3-MoO3-SiO 基玻璃屏蔽伽马射线和电子辐射的效率，以保护电子电路免受电离辐射的负面影响
摘要：本文探讨了碲化物玻璃中的 MoO 3 和 SiO 添加剂对在辐射背景或宇宙辐射增加的条件下工作的电子微电路的屏蔽特性和保护的影响。之所以选择 MoO 3 和 SiO 掺杂剂，是因为它们的特性（包括绝缘特性）可以避免辐射损伤引起的击穿过程。这项研究的意义在于提出使用防护玻璃保护电子电路中最重要的组件免受电离辐射负面影响的方法，电离辐射可能会导致故障或导致电子设备不稳定。使用标准方法评估伽马和电子辐射的屏蔽效率，以确定放置在屏蔽后面并受到不同剂量辐照的微电路的阈值电压（∆U）值的变化。结果表明，玻璃结构中 MoO 3 和 SiO 含量的增加可使伽马辐射屏蔽效率提高高达 90%，同时在长时间暴露于电离辐射的情况下仍能保持微电路性能的稳定性。根据所得结果，我们可以得出结论：使用基于 TeO 2 –WO 3 –Bi 2 O 3 –MoO 3 –SiO 的防护玻璃非常有希望为在背景辐射或宇宙辐射增加的条件下工作的微电路和半导体器件的主要部件提供局部保护。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
什么是背景辐射？ - 俄亥俄州卫生部
什么是自然背景辐射？自然背景辐射是公众每天暴露于环境中自然发生的辐射的水平。是来自天然来源的电离辐射，例如来自土壤中的放射性核素的基于地球的辐射或源自外层空间的宇宙辐射。估计约占总背景曝光的50％。自然背景水平在一个位置到另一个位置的差异很大。体内的自然放射性呢？人体中存在许多自然存在的放射性材料的小痕迹。这些主要来自我们吃的食物中存在的天然放射性核素，例如香蕉和巴西坚果，以及我们呼吸的空气中。这些同位素包括tri骨，碳14和钾40。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。