基于 CRISPR 的基因组编辑技术的出现彻底改变了分子生物学,为操纵遗传物质提供了无与伦比的精度。这项变革性技术为医学、农业和生物技术的突破铺平了道路。然而,CRISPR 的全部潜力仍然受到一个关键瓶颈的限制:将其成分有效地递送到靶细胞。脱靶效应、免疫原性和有限的组织特异性等挑战继续阻碍其从实验室到临床的转化。1 为了克服这些障碍,研究人员现在正在探索纳米封装作为优化 CRISPR 递送的下一代策略。2 CRISPR 递送传统上依赖于病毒载体、化学转染(脂质转染)和物理方法,如电穿孔/核转染和微注射。3 虽然病毒载体效率很高,但它们的使用受到免疫原性、尺寸限制和插入诱变风险的限制。脂质转染使用
电子邮件地址:ekpum@delsu.edu.ng 摘要 本文讨论了微电子应用中的热传导。 使用 ANSYS 有限元设计软件设计模型,使用 Design Expert 软件进行响应面法 (RSM) 分析。 分析的成分包括散热器底座 (HSB) 厚度、热界面材料 (TIM) 厚度和芯片厚度。 我们生成了一个实验设计,该实验设计包含 15 个中心复合设计 (CCD),针对这些因素的编码水平(低 (-) 和高 (+))。 将热流施加到芯片,同时将对流系数施加到散热器。 使用温度解来计算 15 次 CCD 实验运行的热阻响应。 RSM 研究的结果提出了 HSB 厚度、TIM 厚度和芯片厚度的最佳(最小化分析)组合分别为 3.5 mm、0.04 mm 和 0.75 mm。而由提出的最佳参数可以实现 0.31052 K/W 的最佳平均热阻。 关键词:RSM;CCD;热阻;温度;微电子学 1. 引言 尽管人们越来越关注微电子设备的热管理,但它仍然是一个挑战。大多数关于微电子设备热量管理的研究都集中在散热器上 [1-4]。然而,了解电子封装中热量的传导和管理方式对于组装过程中使用的组件的开发至关重要。有效散发电子设备热量的方法之一是确保组装过程中使用的组件具有正确的规格和质量。这可以通过确保基于工程规范对所使用的组件进行优化来实现。优化设计规范的方法有很多,但很多研究人员 [5-8] 已经使用响应面法 (RSM) 和其他优化方法来优化不同应用的组件。 Oghenejoboh [9] 采用响应面法分析了西瓜皮活性炭对合成废水中镍(II)离子的生物吸附。研究
注意:• 此饼形图代表所有先进封装平台(扇入/扇出 WLP、倒装芯片包括 2.5D/3D 和嵌入式芯片)的叠加。• 倒装芯片值作为总产能输入,扇入、扇出、3D 堆叠和嵌入式芯片作为总产量输入。• 客户未提供倒装芯片产量值 – 全球利用率约为产能的 85-90%。
I.简介 板级可靠性测试 (BLRT) 也称为互连可靠性测试。这是一种用于评估将 IC 封装安装到印刷电路板 (PB) 后各种电子封装(例如 IC 和区域阵列封装 (BGA、CSP、WLCSP 等)的焊料连接质量和可靠性的方法。热循环测试期间焊点的可靠性是一个关键问题。BLRT 所需的典型热循环条件为 -40°C 至 +125°C。[1,2] 这是为了确保在极端工作条件下的可靠封装性能。BLRT 的当前趋势是进行环境和机械冲击测试的组合,以确保组件在现场能够生存。在大多数情况下,这些是用户定义的测试,具有指定的验收标准,供应商必须在制造发布之前满足这些标准。本文介绍了通过 BLRT 测试对晶圆级芯片规模封装 (WLCSP) 射频开关进行的测试,并回顾了过程控制、测试结果、故障模式和经验教训。II.WLCSP 封装和组装工艺流程概述 WLCSP 封装组装包括晶圆探针、晶圆凸块、背面研磨、激光标记、晶圆锯、分割和芯片卷带。由于 IC 凸块为 200 微米,间距为 400-500 微米,因此这些封装未安装在中介层上或进行包覆成型,而是直接进行表面贴装。图 1 和图 2 显示了 WLCSP 封装的顶视图和后视图。
光子集成电路 (PIC) 长期以来一直被视为彻底改变光学的颠覆性平台。在成熟的电子集成电路制造工业代工厂基础设施的基础上,PIC 的制造取得了显著进展。然而,由于 PIC 的光学对准公差严格,因此需要专用封装仪器,因此 PIC 的封装往往成为阻碍其可扩展部署的主要障碍。双光子光刻 (TPL) 是一种具有深亚波长分辨率的激光直写三维 (3-D) 图案化技术,已成为集成光子封装的一种有前途的解决方案。本研究概述了该技术,强调了 TPL 封装方案的最新进展及其在主流光子行业中的应用前景。
引言 低温共烧陶瓷 (LTCC) 用于高频应用、集成冷却系统和嵌入式无源元件 [1-3],以及通过集成整体系统部件来提高系统密度 [2, 4]。LTCC 还被用于制造双面电力电子模块的中介层 [5-9]。双面模块具有互感最小化、双面冷却能力和更高功率密度等优点。然而,它们的设计和制造也存在一些挑战。考虑到功率模块的合理厚度,功率模块顶层和底层之间的绝缘是设计阶段必须首先仔细考虑的关键设计问题之一。另一个挑战是整个功率模块的机械支撑。在没有底板的双面功率模块中,直接键合铜 (DBC) 基板和冷却附件的整个重量可能会直接施加在半导体裸片上。这会给功率半导体芯片及其电气互连带来巨大的应力和应变,最终可能导致功率模块故障。印刷电路板 (PCB) 被用作中介层 [10],但 PCB 和功率芯片之间的热膨胀系数 (CTE) 失配远高于陶瓷基材料。LTCC 的 CTE (̴ ~4.4 ppm/°C) 非常接近碳化硅器件的 CTE (4.0 ppm/°C)。因此,这提高了模块的可靠性 [7]。此外,LTCC 结构内的嵌入通孔和电气互连使 LTCC 成为功率模块应用的多功能中介层。
电子设计自动化 (EDA) 和多物理建模(电气、热和机械)支持的芯片封装系统协同设计是先进半导体封装的关键基础技术。全球半导体行业都依赖这些软件工具来开发先进的半导体封装产品,用于消费电子、运输、航空航天、数据中心、物联网、人工智能、工业和可再生能源等市场的微电子和电力电子封装。美国、欧洲、印度和世界各地最近颁布的芯片法案就是明证,这些行业需要员工具备由 EDA 和多物理建模与仿真支持的协同设计数字技能。这是一门实践课程,包含理论和设计、建模和仿真工具的使用。课程目标/学习成果
由多物理建模(电气、热和机械)支持的芯片封装系统协同设计是先进半导体封装的关键基础技术,可满足超越摩尔定律(例如超越摩尔定律)的需求。全球半导体行业正依靠这些软件工具为消费电子、运输、航空航天、数据中心、物联网、人工智能、工业和可再生能源等市场的微电子和电力电子封装开发先进的半导体封装产品。美国、欧洲、印度和世界各地最近颁布的芯片法案证明了这一点,这些行业需要员工具备由多物理建模和仿真支持的协同设计数字技能。这是一门讲座和实践课程,包含设计、建模和仿真技术的理论和使用。课程目标/学习成果
摘要 逻辑、存储器、光子、模拟和其他增值功能的异构集成是提高电子系统效率、性能和带宽同时有助于降低总体制造成本的一种方法。为充分利用异构集成的优势,设计人员需要更精细分辨率的重分布层图案和更大的封装尺寸,以最大限度地提高系统级封装集成的可能性。大封装电子系统的生产非常适合面板级封装 (PLP),而在整个矩形面板上实现均匀的亚微米图案化是一项关键的光刻挑战。为应对这一挑战,佳能开发出第一台能够在 500 毫米面板上实现亚微米分辨率的光刻曝光系统或步进机。步进机具有面板处理系统,可处理最大尺寸为 515 mm x 515 mm 的面板,还配备了宽视场投影镜头,其最大数值孔径为 0.24,像场为 52 mm x 68 mm。本文将报告使用面板步进机的亚微米 PLP 工艺的评估结果,并介绍高分辨率 PLP 工艺的挑战,包括翘曲面板处理。将报告覆铜板 (CCL) 基板的工艺结果,包括图案均匀性、相邻镜头拼接精度和包含扇出工艺中常见的芯片放置误差的基板上的叠加精度。关键词先进封装、扇出、面板级封装、步进机、亚微米、光刻、系统级封装