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诊断 X 射线系统的性能标准和
制造商提供的透视或射线照相，并使用一组与该模式唯一关联的技术因素或其他控制设置进行选择。可以通过单个控件的操作来选择该模式的不同技术因素和控制设置集。不同操作模式的示例包括正常透视（模拟或数字）、高级控制透视、电影射线照相（模拟或数字）、数字减影血管造影、使用透视图像接收器的电子射线照相和光点记录。在特定操作模式下，影响空气比释动能、AKR 或图像质量的某些系统变量，例如图像放大率、X 射线场大小、脉冲率、脉冲持续时间、脉冲数，
X 射线标准和应用的新技术
摘要 过去十年，X 射线技术取得了非常迅速的进展。可用源的亮度和相干性显著提高。本报告特别关注所谓的“台式”X 射线激光源的发展、强超短光脉冲高阶谐波的产生以及软 X 射线光学的进展。这些技术相结合开辟了计量和研究的新领域，它们还大大缩小了曾经需要加速器大小源的实验，从而使这项工作更广泛地应用于工业和小规模科学。这很可能导致更广泛地采用 X 射线技术，特别是那些使用相干 X 射线的技术。更具推测性地，讨论了与核能级相互作用的可能性。穆斯堡尔能级具有高能量和非常高的品质因数，因此可能用作 X 射线频率参考；实现这一点需要 X 射线技术和计量技术的进一步显著进步。
航空电子元件X射线检查
航空电子设备利用半导体、印刷电路板组件 (pcba) 和锂离子电池等组件，这些组件有助于在小巧精致的封装中提供非凡的创新和功能。预测显示，航空电子设备市场将从 2019 年的 685 亿美元强劲增长至 2024 年的 869 亿美元。增长归因于航空电子设备的先进性推动了新设计、新功能和新连接，从而改善了飞机运行，同时提高了安全性，例如防撞系统和卫星导航。这些好处伴随着巨大的责任，因为航空电子设备在飞机正常运行中起着至关重要的作用。因此，如今的成功飞行在很大程度上取决于航空电子组件的质量，通常是微观层面上不可见元素的质量。在整个航空业中，航空电子设备的影响是巨大而普遍的。
通过射线追踪表征室内无线信道...
摘要 — 我们研究了无线电信道模拟器在预测特定环境中的信道响应方面的可靠性。已知表面几何布局和材料特性的室内环境适合进行这种特定场地的模拟。我们通过将其预测与特定静态环境中的测量值进行比较来评估该方法的性能。在测量和模拟的一组路径上，路径损耗、Ricean K 因子和 RMS 延迟扩展具有良好的一致性，这表明可以使用设计良好的无线电模拟器可靠地预测系统行为。通常，通过这种或类似技术获得的无线信道模型不会捕捉由于环境中人员移动而导致的信道响应的时间变化。我们使用随机过程处理信道响应的时变部分。通过对几种典型办公场景进行信道探测实验，我们表明自回归过程可用于为几种不同的运动场景建模随时间变化的抽头增益。
HPC+AI 助力 X 射线科学
Yao, Y.、Chan, H.、Sankaranarayanan, S.、Balaprakash, P.、Harder, RJ 和 Cherukara, MJ (2022)。AutoPhaseNN：3D 纳米级布拉格相干衍射成像的无监督物理感知深度学习。npj 计算材料，8(1)，1-8。
高效多层膜实现的射线状态
尽管软 X 射线区域与新兴能源转换技术息息相关，但由于 X 射线光学基础问题，该区域很少得到利用。相比之下，软 X 射线和硬 X 射线区域则广泛应用于基于光栅[1,2]或晶体[3]单色仪的同步辐射装置，以便为光谱学或显微镜学提供高光子通量和高能量分辨率的光子束。[4–6] 传统的单层涂层平面光栅单色仪（PGM）在软 X 射线范围内效率相对较低，并且由于入射光子束的掠射角非常小，杂散光不可忽略。基于晶体的单色仪在几乎垂直入射条件下的软 X 射线区域工作，这会导致热负荷和热不稳定性。
3D X 射线显微镜概述
封面：X 射线显微镜对不同材料（包括地质材料、电气材料和高级材料）产生的图像选择（从顶部开始顺时针方向）。分割显示 100 毫米碳酸盐岩芯的岩性分类。使用蔡司 Xradia 520 Versa X 射线显微镜上的 FPX 探测器进行成像。此渲染图由 ORS Visual SI Advanced 创建。蔡司 Xradia 520 Versa 成像的手机相机镜头组件。棕色部分是内部断层扫描的叠加。使用蔡司 Xradia 810 Ultra 对固体氧化物燃料电池 (SOFC) 的一部分进行成像。可以看到 SOFC 的三层。多孔顶部部分是阴极，它是一种镧-锶-锰氧化物 (LSM) 组合物。LSM 网络已根据其局部厚度进行颜色标记。蓝色表示薄，红色表示厚。样品的中心是电解质，由氧化钇稳定氧化锆 (YSZ) 制成。在样品的这一部分，图像显示的不是固体 YSZ，而是 YSZ 中存在的空隙。一个空隙被标记为橙色，因为它还连接到电池下部的孔隙网络。底层是阳极，它是镍和 YSZ 的多孔复合材料。YSZ 为蓝色，镍为红色。
DiffractGPT：通过 X 射线确定原子结构...
图 1：JARVIS-DFT (JDFT) 数据库中的晶格和空间群数据分布以及一些模拟 XRD 图案与实验测量值的比较。a) JDFT 原子结构数据库中的晶格和空间群分布。b) 硅的模拟和实验 PXRD。实验数据取自 RRUFF 数据库，ID 为 R050145，而模拟数据取自 JDFT ID JVASP-1002，c) 硼化镧的模拟和实验 PXRD。实验数据是作为这项工作的一部分获得的，而模拟数据取自 JDFT，ID 为 15014，d) 碳化硅（莫桑石）的模拟和实验 PXRD。实验数据取自 RRUFF 数据库，ID 为 R061083，而模拟数据取自 JDFT ID JVASP-107，e) 硼化镁的模拟和实验 PXRD。实验数据是作为这项工作的一部分获得的，而模拟数据来自 JDFT ID JVASP- 1151，f) 碳化铪的模拟和实验 PXRD。实验数据是作为这项工作的一部分获得的，而模拟数据来自 JDFT ID JVASP-17957。
航空电子元件的X射线检查
航空电子设备利用半导体、印刷电路板组件 (pcba) 和锂离子电池等组件，这些组件有助于在小巧精致的封装中提供非凡的创新和功能。预测显示，航空电子设备市场将从 2019 年的 685 亿美元强劲增长至 2024 年的 869 亿美元。增长归因于航空电子设备的先进性推动了新设计、新功能和新连接，从而改善了飞机运行，同时提高了安全性，例如防撞系统和卫星导航。这些好处伴随着巨大的责任，因为航空电子设备在飞机正常运行中起着至关重要的作用。因此，如今的成功飞行在很大程度上取决于航空电子组件的质量，通常是微观层面上不可见元素的质量。在整个航空业中，航空电子设备的影响是巨大而普遍的。
使用晶圆射线示踪剂
摘要：功率转换效率（PCE）是评估太阳能电池的输出特性的主要参数。抗反射涂层（ARC）起着抑制太阳能电池表面的光损失的作用，从而增强了PCE。本文研究了晶体硅（C-SI）太阳能电池上双层抗反射涂层（DLARC）的不同材料。使用PV Lighthouse软件的晶圆射线示踪剂完成模拟硅太阳能电池的总体过程方法。检查了具有不同类型的双层的五个光捕获（LT）方案。c-Si的最大电势光电密度（J MAX）用ARC显示出比参考c-Si（无弧）的J max的改善。lt方案II：SIO 2 /TIO 2产生J Max的最大值，其中该值为42.20 mA /cm 2。这表明方案II具有最高的J MAX增强功能，值为10.01％。这一发现意味着DLARC适用于减少光损失，因此有效地提高了太阳能电池的性能。关键字：光伏，太阳能电池，抗反射涂层，光捕获，射线跟踪1。简介