摘要 — 氧化镓 (Ga 2 O 3 ) 是一种新兴的超宽带隙半导体,在辐射探测中的应用引起了广泛关注。在本文中,我们利用金属有机化学气相沉积 (MOCVD) 在蓝宝石上生长的高电阻率非故意掺杂 (UID) ε-Ga 2 O 3 薄膜制造了超快 X 射线探测器。该探测器采用横向金属半导体金属 (MSM) 结构,在 100 V 时表现出 < 2 nA 的低暗电流,在 40 V 和 X 射线剂量率为 0.383 Gy/s 时其灵敏度高达 28.6 nC/Gy 或 ∼ 1 . 0 × 10 6 nC/(Gy · cm 3 )。在切换 X 射线照明下观察到探测器稳定且可重复的瞬态响应。此外,该探测器实现了全宽50 ns的脉冲X射线探测,其时间分辨率约为7.1 ns。这些结果表明,MOCVD生长的高电阻率UID ε-Ga 2 O 3薄膜在超快X射线探测方面具有巨大的潜力。
1米兰大学物理系,经Celoria 16,I-20133 I-20133意大利米兰; guglielmo.mastroserio@gmail.com 2defisíca,Eebe,Eebe,UniversityCitycnica de Catalunya,AV。Eduard Maristany 16, 08019 Barcelona, Spain 3 National Astro Phyica Institute, Astronomical Observatory of Brera, Via E. Bianchi 46, 23807 Merate (LC), Italy 4 Astrophysics, Department of Physics, University of Oxford, Keble Road, Oxford Ox1 3rh, UK 5 Inf-Astronomical Observatory of Rome, via Frascati 33, I-00076,Monte Porzio Catone(RM),意大利6个Inf-ipps,通过Del Fosso del Cavaliere,100,00133 Rome,意大利罗马7 INAF,INAF,空间和宇宙物理Astro哲学研究所,通过U.Eduard Maristany 16, 08019 Barcelona, Spain 3 National Astro Phyica Institute, Astronomical Observatory of Brera, Via E. Bianchi 46, 23807 Merate (LC), Italy 4 Astrophysics, Department of Physics, University of Oxford, Keble Road, Oxford Ox1 3rh, UK 5 Inf-Astronomical Observatory of Rome, via Frascati 33, I-00076,Monte Porzio Catone(RM),意大利6个Inf-ipps,通过Del Fosso del Cavaliere,100,00133 Rome,意大利罗马7 INAF,INAF,空间和宇宙物理Astro哲学研究所,通过U.La Malfa 153,I-90146意大利巴勒莫8号天体物理与太空科学中心(CASS),纽约大学阿布扎比大学,阿布扎比大学,邮政信箱129188,阿布扎比,阿联酋9号,捷克捷克大学天文学研究所 e-38205 La Laguna, Tenerife, Spain 11 Department de Astrofísica, Universidad de la Laguna, E-38206 La Laguna, Tenerife, Spain 12 Tor Vergata University of Rome, Via della Research Scientifica 1, i-00133 Rome, Italy Sapienza University of Rome, Piazzale Aldo Moro, 5, i-00185 Rome, Italy 14马萨诸塞州马萨诸塞州理工学院的MIT Kavli天体物理学研究所,剑桥,但02139,使用Cagliari的15 INAF-ASTRONSORALICAL OBServatory,通过Della Scienza 5,I-09047,I-09047,Selargius(CA),Selargius(CA),ITALY ITALY研究,Itliari,Sp Monserriari,Sp Monserrato 0.7 7.77.77。意大利太空科学研究所(ICE,CSIC),UAB校园,Carrer de Can s / n,08193,西班牙巴塞罗那,18学院,18860年,巴塞罗那Castelldefels(Barcelona),Spain 19号 Palermo, Italy 20 Irap, University of Toulouse, CNRS, UPS, CNES, 9, Avenue du Colonel Roche BP 44346 F-31028 Toulouse, Cedex 4, France 21 Department of Physics & Astronomy, Butler University, 4600 Sunset Avenue, Indianapolis, in 46208, uses 22 Department of Physics and Astronomy, University of Southampton, SO17 1BJ,英国收到2024年8月9日; 2024年11月15日审核员;于11月28日接受2024;出版了2025 Janogy 3
关键词:机制,X射线散射,疲劳,应变,脱位阐明钢的氢含量机制是因为可以一次激活多种机制或甚至可能需要协同的共同存在激活的事实,这使钢的氢含量机制变得复杂。一些领先的氢化氢提议机制包括氢增强的脱粘(HEDE),氢增强的局部可塑性(帮助)机制和纳米玻璃体合并机制(NVC)。在HEDE中,一旦氢浓度达到临界浓度,氢在高三轴应力位置的积累会导致Fe-FE键的衰弱。在帮助中,引入氢气会影响Fe格子中位错的行为,通常会增强钢框架中的脱位迁移率。在NVC中,预计氢会导致空缺的稳定和促进(“纳米级空隙”)团聚。对这些机制的完全理解,它们与疲劳特性的关系以及它们相互作用的相互作用需要一次测量,能够一次探测所有三种机制。在这里,我们同时提出高能X射线衍射(HEXRD)和小角度的X射线散射(SAXS)测量,在氢气中钢裂纹的原位疲劳期间。HexrD测量值探测HEDE并通过确定应变密度的确定; SAXS测量通过测定纳米孔尺寸分布的NVC。 ,我们将在空气和氢气中生长的裂纹尖端之前提出应变,脱位密度和孔径分布。HexrD测量值探测HEDE并通过确定应变密度的确定; SAXS测量通过测定纳米孔尺寸分布的NVC。,我们将在空气和氢气中生长的裂纹尖端之前提出应变,脱位密度和孔径分布。我们将在帮助,HEDE和NVC机制的背景下讨论空气中在空气中和氢中生长的裂纹尖端之间的差异。
X射线首先是由W. Roentgen博士在德国于1895年发现的,目前已在包括物理,工业和医学诊断在内的广泛领域中使用。X射线应用的检测器范围跨越了一个广泛的范围,包括A-SI检测器,单晶检测器和复合探测器。有很多类型的检测器,特别是由SI单晶制成的。应用包括牙科X射线成像和医疗设备领域中的X射线CT(计算机断层扫描),以及对行李,食品和工业产品的无损检查;物理实验;等等。在低能X射线区域中称为软X射线区域,从几百eV到约20 keV,使用了直接检测器,例如Si Pin Photodiodes,Si APD和CCD区域图像传感器。这些检测器提供了高检测效率和高能量分辨率,因此用于X射线分析,X射线天文观察,物理实验等。由于物体的渗透效率很高,因此在工业和医疗设备中使用了高于软X射线的硬X射线区域。闪烁体检测器在这些应用中广泛使用。这些检测器使用闪烁体将X射线转换为可见光,并检测到可见光以间接检测X射线。尤其是在医学领域,使用具有较大光敏区域的X射线检测器的数字X射线方法已成为主流,取代了传统的基于胶片的方法。对于X射线探测器,Hamamatsu提供SI光电二极管,SI APD,CCD区域图像传感器和CMOS区域图像传感器,平板传感器等。在非破坏性检查中,双能量成像允许通过同时检测高能量和低能X射线来捕获深色调的图像。
许多上述系统可以以颗粒物质的形式存在,其中诸如形态,布置,组成和孔隙率等参数控制其功能特性。颗粒可以表现出内在的内部孔网络。另外,以聚集的形式或填充成颗粒,柱或反应时,会从其填料结构中创建其他颗粒孔隙空间。当将这些不同的孔隙空间组合在一起时,会出现分层孔系统,可以根据运输,反应动力学或动态吸附来量身定制以提供增强的性质。[3,5,14]评估粒子和孔统计的评估,例如粒子和孔径,互连性,折磨或封闭/开放式孔隙率是表征和随后优化此类材料的关键。单个颗粒,它们作为功能结构的团聚形式以及组合的颗粒内和颗粒孔隙空间通常延伸到几个长度尺度上。内部孔的范围从微(<2 nm)到介孔(2 - 50 nm)的状态,直至较大的大孔(> 50 nm),而颗粒间孔通常是较大的大孔。[14]单个颗粒的大小只有几nm到几十µm,它们的团聚和包装结构通常是宏观尺寸的。[5]难度是对所有必要的,函数确定的特征的完整评估,仅使用一种3D表征技术就无法执行。
辐射束的RMS半径由两个竞争效应确定:光学引导(光束聚焦)和衍射(梁膨胀)。最小辐射半径大约是Fodo晶格中X和Y电子束半径的较大。
朱丽叶·夏本(Juliette Charbonnel),纳塔恰(Natacha Darmet),克莱尔·德里斯(Claire Deilhes),洛迪维奇·布奇(Lodivic Broche),城市雷蒂尔(City Reytier)等。全稳态蛋糕的安全评估:一种创新的方法论,它是一种使用situ synchrotrotron x射线广播的创新方法。ACS应用能源材料,2022,̿10.1021/acsaem.2C01514。̄̄̄2378188
朱丽叶·夏本(Juliette Charbonnel),纳塔恰(Natacha Darmet),克莱尔·德里斯(Claire Deilhes),洛迪维奇·布奇(Lodivic Broche),城市雷蒂尔(City Reytier)等。全稳态蛋糕的安全评估:一种创新的方法论,它是一种使用situ synchrotrotron x射线广播的创新方法。ACS应用能源材料,2022,̿10.1021/acsaem.2C01514。̄̄̄2378188
K β x 射线发射光谱是分析 3 d 过渡金属系统电子结构及其超快动力学的有力探针。选择性增强特定光谱区域将提高这种灵敏度并提供全新的见解。最近,我们报道了使用 x 射线自由电子激光观察和分析了 Mn 溶液中 K α 放大的自发 x 射线发射以产生 1 s 芯空穴粒子数反转 [Kroll 等人,Phys. Rev. Lett. 120,133203 (2018) ]。要将这种新方法应用于化学上更敏感但更弱的 K β x 射线发射线,需要一种机制来胜过 K α 发射的主导放大。本文报告了使用两种颜色的 x 射线自由电子激光脉冲对 NaMnO 4 溶液中种子放大 K β x 射线发射的观察结果,一种用于产生 1 s 核心空穴粒子数反转,另一种用于种子放大 K β 发射。将观察到的种子放大 K β 发射信号与相同立体角中的传统 K β 发射信号进行比较,我们获得了超过 10 5 的信号增强。我们的发现是增强和控制 K β 光谱选定最终状态的发射的第一步,可应用于化学和材料科学。
进入中子射线照相术。中子射线照相术是一种使用中子辐射而不是 X 射线的检查方法。中子辐射与原子核相互作用,而不是像 X 射线那样与电子云相互作用,它很容易穿过致密的材料,但会被密度较低的材料阻碍。这是一种在许多方面补充 X 射线检查的检查技术。它在检查具有致密外壳和由较轻材料组成的内部结构的物体时特别有用。然而,传统上,产生中子辐射所需的设备非常昂贵且笨重;自 20 世纪 50 年代中子射线照相术成为一种可行的工业检测技术以来,直到最近,只有特定的非发电研究反应堆设施才有能力进行中子射线照相术。