XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System射线
8.2.1-061 - 初次认证的射线检测 EMC 考试指南
联系信息................................................................................................................................ 2 目录.................................................................................................................................... 3 NRCan 国家无损检测认证机构服务概述........................................................................................ 4 重要通知................................................................................................................................. 4 成功建议：笔试.................................................................................................................... 5 射线检测 1 级...................................................................................................................... 6
适用于多环境应用的可视化 X 射线剂量测定
摘要：X 射线剂量检测在化学、材料和医学等各个科学领域都发挥着重要作用。然而，目前用于此目的的材料在即时和延迟辐射检测方面都面临着挑战。在这里，我们提出了一种用于多环境应用的视觉 X 射线剂量测定方法，利用 NaLuF 4 纳米晶体 (NC)，它在 X 射线辐照后会从绿色变为红色。通过调节 Ho 3+ 的浓度，可以利用交叉弛豫效应调整 NC 的发射颜色。此外，X 射线辐照会在 NaLuF 4:Ho 3+ NC 中诱导捕获中心的产生，在 X 射线辐照停止后，在机械刺激下产生机械发光 (ML) 行为。ML 强度与 X 射线剂量呈线性相关性，有助于检测延迟辐射。这项突破促进了缺陷检测、核医学、海关和民防领域的 X 射线剂量检查，从而增加了辐射监测和控制的机会。关键词：X 射线剂量检测、多环境、颜色可调、交叉弛豫
相关电子的紫外和 X 射线光谱学学校...
探究凝聚态物质的微观电子结构。虽然可以从光电效应的物理学中轻松理解其基本原理，但在将 PES 信号转换为有用信息之前，还需要进行许多假设和近似。假设学校的学员已经具备该方法的一些基本知识（作为实践者或理论家），我的入门讲座将尝试概述 PES 方法论的核心概念和思想，并为后续的 SUCCESS 讲座计划做好准备。除了显而易见的要点之外，我还将尝试涉及一些特殊问题，这些问题在标准文献中并不常见，但随着该技术发展到新的光子强度和/或能量范围，这些问题可能会变得相关。我计划涵盖的主题包括（不一定按此顺序，只要时间允许）：
Nueva Aeronáutica 受益于数字射线照相术。
Nueva Aeronáutica 成立于 2000 年，除其他服务外，还提供飞机维护服务。该公司可检测飞机上的裂纹、腐蚀和其他不连续性。在航空航天业，NDT 测试通常用于定位和检查缺陷，提供有关当前问题的详细信息，确保安全和高质量。NDT 测试方法使检查员（如 Nueva Aeronáutica 的检查员）能够检查飞机上难以在不拆卸的情况下到达的区域。
Nueva Aeronáutica 受益于数字射线照相术。
Nueva Aeronáutica 成立于 2000 年，除其他服务外，还提供飞机维护服务。该公司可检测飞机上的裂纹、腐蚀和其他不连续性。在航空航天业，NDT 测试通常用于定位和检查缺陷，提供有关当前问题的详细信息，确保安全和高质量。NDT 测试方法使检查员（如 Nueva Aeronáutica 的检查员）能够检查飞机上难以在不拆卸的情况下到达的区域。
数字射线成像系统的验收测试和质量控制
1 阿拉巴马州伯明翰市阿拉巴马大学伯明翰分校医学中心 2 威斯康星州斯科菲尔德市阿斯皮鲁斯沃索医院 3 德克萨斯州贝莱尔市独立顾问 4 宾夕法尼亚州立大学 宾夕法尼亚州赫尔希市 5 耶鲁纽黑文医院和耶鲁大学医学院 康涅狄格州吉福德市 6 明尼苏达州罗切斯特市梅奥诊所 7 美国食品药品监督管理局器械和放射健康中心 马里兰州银泉市 8 宾夕法尼亚州费城托马斯杰斐逊大学 9 独立 — 无关联 康涅狄格州西哈特福德市 10 德克萨斯大学 MD 安德森癌症中心 德克萨斯州休斯顿市 11 独立 — 无关联 密歇根州莱克林登市 12 威斯康星大学 威斯康星州麦迪逊市 13 俄克拉荷马大学健康科学中心 俄克拉荷马州俄克拉荷马市 14 康涅狄格州韦斯顿市 15 马什菲尔德诊所 威斯康星州马什菲尔德市 16 DeltaStrac LLC 马里兰州克拉克斯堡市 17 Varex 影像公司 纽约州彭菲尔德市 18 独立顾问，南卡罗来纳州辛普森维尔 19 佳能医疗研究美国公司，伊利诺伊州弗农山
射线成像和断层扫描闪烁体的需求、趋势和进展
摘要 —闪烁体是射线成像和断层扫描 (RadIT) 的重要材料，当使用电离辐射（例如 X 射线、高能带电粒子或中子）来揭示物质的光学不透明内部结构时。自从伦琴发现和发明以来，RadIT 现已有多种形式或模式，例如相位衬度 X 射线成像、相干 X 射线衍射成像、1 MeV 以上的高能 X 射线和 γ − 射线射线照相术、X 射线计算机断层扫描 (CT)、质子成像和断层扫描 (IT)、中子 IT、正电子发射断层扫描 (PET)、高能电子射线照相术、μ 子断层扫描等。高空间、时间分辨率、高灵敏度和辐射硬度等是 RadIT 性能的常见指标，除闪烁体外，粒子源（尤其是高亮度加速器和高功率激光器）、光电探测器（尤其是互补金属氧化物半导体 (CMOS) 像素化传感器阵列）以及最近的数据科学的进步也使这些指标得以实现。医学成像、无损检测、核安全和保障措施是 RadIT 的传统应用。快速增长或新兴的应用示例包括太空、增材制造 (AM)、机器视觉和虚拟现实或“元宇宙”。根据 RadIT 指标讨论了闪烁体指标，例如光产量、衰减时间和辐射硬度。SCINT22 会议期间展示了 160 多种闪烁体和应用。一些新的趋势包括无机和有机闪烁体复合材料或异质结构、钙钛矿和单晶微米厚薄膜的液相合成、最近使用多物理模型和数据科学来指导闪烁体的开发和发现、结构创新，如光子晶体、纳米闪烁体，
X射线专家：放射学中可预测的错误
医疗错误是结果，但如果没有对过去案件的艰苦审查，就难以研究。i应用算法工具来衡量最常见的医学评估之一中的错误程度和性质：胸部X射线解释。使用大型医院的匿名医疗记录，我将放射科医生关于心脏健康的主张与相同的机器学习预测进行了比较，并使用外源给予的血液测试在两者之间进行裁定。至少有58％的放射科医生会犯错误，发出的报告可以预见，这些报告误解了患者心脏健康的严重程度。纠正这些错误会将假阴性率降低23.5％，假阳性率降低了7.6％，而代表性不足和诊断不足的患者群体的准确性明确提高了。审慎的算法基准选择表明，大约三分之二的错误是可以解释的，因为个人放射科医生做出不一致的决策（表现不佳的“个人边界”），而三分之一反映了人类实践与算法预测之间的差距（A”机器边界）。与医学文献中的主要假设相比，错误并不能反映放射学家超重的显着信息；相反，它们系统地对患者风险的信号有系统地反应。在一起，这些结果表明，算法工具的比较强度在于它们的潜力减少人类判断的过多变异性。
老化研究X射线光谱的基本物理学
功能丧失的trem2变体与阿尔茨海默氏病（AD）的风险增加有关，表明这种先天免疫受体的激活可能是一种有用的治疗策略。在这里，我们描述了一种高亲和力的人类TREM2激活抗体，该抗体用单价转运蛋白受体（TFR）结合位点（称为抗体转运载体（ATV）），以促进血脑屏障经肿瘤。与标准的抗Trem2抗体相比，在小鼠外周递送时，ATV：TREM2显示出改善的脑生物分布和增强的信号传导。在人类诱导的多能干细胞（IPSC）衍生的小胶质细胞中，ATV：TREM2诱导增殖并改善了线粒体代谢。单细胞RNA测序和形态计量学表明，ATV：TREM2将小胶质细胞转移到了代谢响应式态，这些状态与淀粉样病理学诱导的小胶质细胞不同。在AD小鼠模型中，ATV：TREM2增强了脑小胶质细胞活性和葡萄糖代谢。因此，ATV：TREM2代表了一种有希望的改善小胶质功能并治疗AD患者中大脑低代谢的方法。
93 X射线衍射研究相状态...
图 1-b 显示了 n-Si 的衍射图案样品。它不同于n-Si的衍射图案具有 SiO 2 层的样品，在 X 射线衍射图上 2θ≈17.4° 处没有漫反射，结构反射 (111) α 的强度分别降低了 2.5 倍、三阶 (333) α 的强度降低了 1.7 倍，结构反射 (002) 的强度降低了，反射 (313)、(513) 和 (620) 的强度也增加了几个百分点，它们在 n-Si 衍射图谱的光谱中产生了衍射偏移样品在较小角度的一侧。晶粒尺寸和晶格参数由 n-Si 的 (111) 结构线的半宽度确定分别为 58 nm 和 а Si =0.5419 nm，略小于样品 n -Si 的晶格参数（а Si =0.5426 nm）SiO 2 层。但这会导致 n-Si 结构反射发生偏移衍射图案朝向较小的散射角。