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半导体微电子学和纳米电子学项目
历史回顾 NIST 的前身是美国国家标准局 (NBS)，该局于 20 世纪 50 年代中期开始工作，以满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在 20 世纪 60 年代初，该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法，其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五项工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。由 EIA 专家小组推荐的第二个项目解决了晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
半导体微电子学和纳米电子学项目
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在 20 世纪 60 年代初，该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法，其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐，旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
半导体微电子学和纳米电子学项目
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在 20 世纪 60 年代初，该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法，其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐，旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
半导体微电子和纳米电子项目
NIST的前身国家标准局（NBS）于20世纪50年代中期开始工作，以满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在20世纪60年代初，该局向美国材料与试验协会（ASTM）和（美国）电子工业协会（EIA）寻求行业指导。ASTM的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS科学家开发了一种实用的非破坏性方法，其精度是以前破坏性方法的十倍。该方法为五项工业标准和广泛用于校准工业测量仪器的电阻率标准参考材料奠定了基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐，旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机制。该项目的成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
半导体微电子学和纳米电子学项目
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在 20 世纪 60 年代初，该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法，其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐，旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
联合视觉ALVIUM G1-811C，2/3“ 8.1MP C-MOUNT，GIGE POE颜色摄像机＃23-562
相关视觉Alvium G1 Gige Poe相机具有轻巧，紧凑的外形尺寸，并将已建立的Gige视觉标准的优势与Alvium Platform的灵活性相结合。CHIP（SOC）技术上的ALVIUM®系统提供了一个全面的图像处理库，可用于高级图像校正和预处理功能，以减轻主机计算机和处理器的工作负载。这些相机具有最新的工业标准硬件，并且可以轻松地集成到任何视觉系统中，同时确保长期可用性和可靠性。具有精确的传感器对齐，增强的清洁度，固定的图案噪声校正和缺陷像素校正，最大24.6MP的分辨率以及最多可提供276 fps。相关视觉alvium g1 gige poe摄像头在后面板上具有千兆以太网端口，可提供各种单色和颜色选项，并带有C型安装镜头或S-Mount镜头界面。
半导体微电子学和纳米电子学项目
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用，但在 20 世纪 60 年代初，该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法，其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐，旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用，包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
使用 ML 技术认证安全相关系统：ACAS-Xu 经验
在航空电子领域，飞机系统的认证由监管机构管辖，例如欧洲的 EASA 和美国的 FAA。EASA 制定了认证规范 (CS 2x.1301/1309)，定义了规定系统适航性的要求。除此之外，当局还发布了 AMC/AC（可接受的合规方法/咨询通函），以承认使用工业标准（复杂系统为 ED-79A/ARP4754A、软件项目为 ED-12C/DO-178C 和硬件项目为 ED-80/DO-254）开发系统是可接受的方法，可以证明系统行为、软件和/或硬件项目实现的操作功能符合监管要求。在用于认证目的的方法中，保证案例概念并不是新鲜事物。安全领域是最早阐述安全案例概念的领域之一。安全案例最初由 Tim Kelly [KBMB97] 理论化，然后由 John Rushby [Rus15] 概括。特别是在 [Rus15] 中，Rushby 声称在行业中引入这种方法对系统和软件保证和认证做出了重大贡献。
飞机维修三级文凭（军用飞机武器维修） (2675-03)
中心可以使用中心内专门指定的区域进行评估，例如，安装专用电气系统、校准和设置电动机和驱动设备（泵、压缩机和发电机）。设备、系统和机械必须符合工业标准，并且能够在正常工作条件下使用，例如，电动机必须具有施加足够功率的方法，并且不能连接以显示运动。请注意，为了收集必要的证据，需要定期接触可飞行的飞机。中心人员配备 中心工作人员必须满足此资格的职业专业知识要求。这些要求如下：工作人员应具备其提供培训领域的技术能力和/或还应具有提供培训的经验。提供这些资格的员工必须能够证明他们符合以下职业专业知识要求。他们应该： 在他们提供培训的领域具有职业能力或技术知识，和/或具有提供培训的经验。这些知识必须与所提供的培训达到相同的水平
受紫外线辐射影响的莲花种子的微生物和物理化学变化
莲花种子敏感易腐和褐变。但是，很少有出版物强调UV-C治疗的应用。这项工作的目的是评估UV-C辐射对储存期间4℃储存过程中莲花种子的物理化学和微生物质量的潜在影响，持续8天。评估了5分钟和10分钟的UV-C暴露时间。结果表明，10分钟-UV-C处理的莲花种子的总可行数量达到了泰国工业标准研究所（TISI）脆皮莲花种子（TCPS 490-2547）（≤3log cfu/g）的标准质量，尽管所有处理的酵母和模具均未受UV-C辐射的影响。此外，与对照处理相比，在UV -C处理的样品中发现了10分钟，酚含量的降低水平不受UV -C的影响，而酚含量的积累和产物软化的延迟。因此，处理10分钟的UV-C可以用作控制储存期间莲花种子产品总细菌数量生长的一种有希望的方法。