增加受控原子和量子比特的数量的必要先决条件是允许应用相应数量信号的微结构,例如B. 通过整合微波线。这是通过叠加的结构实现的,类似于多层电路板。PTB 结构由一组厚金属导体层组成,这些层彼此通过电介质隔开,并通过通孔选择性地相互连接。金属层的数量原则上是不受限制的,因为每一层都具有高度精确的整体平面化。该工艺仅使用与环境超高真空以及低温操作对原子和离子捕获的严格要求相兼容的材料;此外,该结构的高频特性非常优异。
增加受控原子和量子比特的数量的必要先决条件是允许应用相应数量信号的微结构,例如B.通过整合微波线路。这是通过叠加结构实现的,类似于多层电路板。 PTB 结构由一组厚金属导体层组成,这些层彼此通过电介质隔开,并通过通孔选择性地相互连接。原则上,金属层的数量是不受限制的,因为每一层都具有高度精确的整体平面化。该工艺仅使用符合环境超高真空对原子和离子捕获的严格要求以及低温操作的材料;此外,该结构的高频特性非常优异。
增加受控原子和量子比特的数量的一个基本前提是允许应用相应量信号的微结构,例如B.通过整合微波线路。这是通过叠加结构实现的,类似于多层电路板。 PTB 结构由一组厚金属导体层组成,这些层彼此通过电介质隔开,并通过通孔选择性地相互连接。原则上,金属层的数量是不受限制的,因为每一层都具有高度精确的整体平面化。该工艺仅使用符合环境超高真空对原子和离子捕获的严格要求以及低温操作的材料;此外,该结构的高频特性非常优异。
增加受控原子和量子比特的数量的一个基本前提是允许应用相应量信号的微结构,例如B.通过整合微波线路。这是通过叠加结构实现的,类似于多层电路板。 PTB 结构由一组厚金属导体层组成,这些层彼此通过电介质隔开,并通过通孔选择性地相互连接。原则上,金属层的数量是不受限制的,因为每一层都具有高度精确的整体平面化。该工艺仅使用符合环境超高真空对原子和离子捕获的严格要求以及低温操作的材料;此外,该结构的高频特性非常优异。
ICPT 作为平面化/CMP 的国际研讨会,为讨论包括 FEOL 和 BEOL CMP、3D/TSV、CMP 基础、抛光工艺、耗材、设备、绿色设备、新应用、计量、清洁、缺陷控制、工艺控制、CMP 替代品、SiC、GaN、蓝宝石和钻石在内的技术提供了绝佳的机会。会议为研究人员和工程师提供了一个会面、讨论和分享各自知识领域经验的地方。无论演讲者来自哪个国家或组织,担任什么职位,或在哪个技术领域积累了经验或成为专家,都希望在平等的基础上进行热情洋溢的演讲和讨论,就像晶圆表面一样平坦。
Cyclotene™ 3000 系列先进电子树脂源自 B 阶段双苯并环丁烯 (BCB) 单体,是 Cyclotene™ 系列产品中的干法蚀刻级产品,专门用作微电子器件制造中的旋涂电介质材料。Cyclotene™ 树脂是低介电常数和低介电损耗材料,具有吸湿性低、不起气、低温固化和平面化性能优异等特点(图 1)。Cyclotene™ 产品的特性如表 1 所示。Cyclotene™ 树脂已广泛应用于各种电子应用,包括硅和复合半导体钝化、层间电介质、平板显示器、IC 封装、集成无源器件、MEMS、晶圆键合和 3D 集成以及光电元件。杜邦公司有四种 Cyclotene™ 3000 系列产品可供商业化供应,如表 2 所示。
fl,美国victor.vilar@skywatertechnology.com摘要高级晶圆级包装已经不断发展,由于当前的焊料碰撞技术的限制,需要缩小到Sub-10um螺距。混合键合技术促进了在3D垂直堆栈配置中紧密间隔的金属垫的互连。这种包装技术的优点启用了子10UM音高设计,增加了I/O密度,扩展设备带宽,减少功率需求,提高设备速度等。本文的重点是讨论确保基于CU的晶片(W2W)混合键合的方法学,其中包括但不限于对所使用的测试工具的描述,化学机械平面化,元学,等离子激活,粘合技术,粘合技术,退火,CSAM反馈和交叉剖面,以验证金属对金属金属垫的扩散。关键词:混合键合,化学机械平面化[CMP],血浆激活,计量学,退火,CSAM,W2W,3D垂直堆栈,先进包装,原子力显微镜[AFM],避孕,凹槽,凹槽,凹槽,圆形,圆形,扁平度。引言晶圆键是晚期半导体制造技术,可以在晶圆水平上整合不同的材料和结构。这些技术在各种电子和光子设备的开发中起着至关重要的作用,例如微电动系统(MEMS),传感器,光子学和先进的集成电路。这允许集成不同的材料,这对于在高级设备中实现所需的功能至关重要。在高级别的过程中,过程通常涉及以下步骤:晶圆键可以根据氧化物和混合键合的粘结机制和材料分类为各种类型,是本文介绍的两种突出方法。a)氧化物晶片键:氧化物晶圆粘结,也称为直接键合或融合键,涉及通过在界面上利用强硅氧(SI-O)键的形成将两个硅晶片连接在一起。
Sara Iraci 等人在本文中,我们介绍了一种基于 NbxTi(1-x)N (NbTiN) 的超导双金属级 (2ML) BEOL 单元工艺,该工艺是在 imec 的 300 毫米试验线上使用半镶嵌流程和 193i 光刻技术开发的。该单元工艺的特点是直接金属蚀刻线的最小临界尺寸 (CD) 为 50 nm,浅平面化通孔的最小 CD 为 80 nm,沉积温度为 420 °C,与 CMOS BEOL 电介质兼容。50 nm NbTiN 线的归一化线电阻表明,95% 的器件符合预期电阻 800-1200 Ω/µm,与覆盖膜电阻率一致。低温测量表明,NbTiN 导线和通孔的临界温度为 12-13.5 K,临界电流密度为 80- 113mA/µm2。▪ 低电阻堆叠通孔金属化用于未来的互连,Marleen H. van
铅锆钛酸盐(PZT)是一种广泛用于微电动机电(MEMS)技术的压电材料,主要是由于其强烈的压电和机电耦合系数[1]。然而,由于PT缓冲液的损失,传统上用于生长PZT薄膜[2],因此其在光子综合电路(图片)中的应用受到限制。通过化学溶液沉积(CSD)方法[3],具有透明缓冲层(LA 2 O 2 CO 3)生长的PZT膜[3],并通过Pockel的调节证明了其在光子应用中的潜力[4]。但是,在这种方法中使用的薄缓冲层的自旋涂层需要平面样品表面,从而限制了其范围。微转移打印(µ tp)可能是绕过这种瓶颈的一种方法[5]。在本文中,我们报告了悬挂的长度高达4 mm的悬挂式PZT优惠券,宽度高达120 µm。然后,我们成功传输了SI基板上的PZT优惠券。这些结果证明了一种可以使PZT膜在芯片的所需位置中稳定的,而完整芯片均匀地平面化的技术。此外,此方法可以为各种光子学应用程序设计MEMS执行器提供额外的自由。
Rajwant Sidhu,博士; DDI,CORP。摘要:IPC 6012B表3-2中指定的铜包装板是为了提高PCB的可靠性,该铜板是针对PCB的可靠性,该可靠性是通过需要平面化和表面上限的VIA结构设计的。 PCB在没有包裹板的情况下构建的PCB更容易容易出现与枪管铜与表面铜的互连之间的分离相关的故障。 可靠性的提高是铜包裹厚度的函数,该曲线厚度支持IPC II类和III类程序的差异。 一般规则是“包装板越厚,可靠性越好”。铜厚度的增加,与包装板相关,但是与PCB制造商生产具有高密度和精细特征的产品的能力。 制造精美特征的一般规则是“铜越少,制造性越好。” DDI Corp开发的技术。 称为Flat-wrap™提供的铜包装溶液不需要在填充板孔的外表面上积聚铜。 这可以提高可靠性,而无需牺牲具有高密度和/或精细功能的设计能力。 这项技术在过程中也有助于非破坏性铜厚度测量,并确保整个板表面的铜包裹厚度的一致性。 在这项技术中,填充板孔的外表面铜厚度将控制铜包裹厚度。 在需要多个铜包装的印刷电路板设计中,该技术的好处更为明显。Rajwant Sidhu,博士; DDI,CORP。摘要:IPC 6012B表3-2中指定的铜包装板是为了提高PCB的可靠性,该铜板是针对PCB的可靠性,该可靠性是通过需要平面化和表面上限的VIA结构设计的。PCB在没有包裹板的情况下构建的PCB更容易容易出现与枪管铜与表面铜的互连之间的分离相关的故障。可靠性的提高是铜包裹厚度的函数,该曲线厚度支持IPC II类和III类程序的差异。一般规则是“包装板越厚,可靠性越好”。铜厚度的增加,与包装板相关,但是与PCB制造商生产具有高密度和精细特征的产品的能力。制造精美特征的一般规则是“铜越少,制造性越好。” DDI Corp开发的技术。称为Flat-wrap™提供的铜包装溶液不需要在填充板孔的外表面上积聚铜。这可以提高可靠性,而无需牺牲具有高密度和/或精细功能的设计能力。这项技术在过程中也有助于非破坏性铜厚度测量,并确保整个板表面的铜包裹厚度的一致性。在这项技术中,填充板孔的外表面铜厚度将控制铜包裹厚度。在需要多个铜包装的印刷电路板设计中,该技术的好处更为明显。本文探讨了铜包板的当前过程问题,并讨论了新技术在制造和可靠性方面提供的好处。简介:多层PCB生产是一种不断发展的,越来越复杂的处理技术,客户需求,设计规则和产品规格。将多次添加新的过程以满足某些需求,但并不容易并完全集成到现有过程网络中。总是有一个更好的方法来改善和简化制造过程。IPC在IPC 6012B规格中添加了铜包板的需求,需要从填充的板孔中镀有铜板才能继续围绕孔的膝盖围绕并表面上。引入了此要求,以提高由于表面特征/盖和板孔壁之间的分离而导致故障的可靠性。由于铜包装板而引起的表面铜厚度增加给制造商制造和设计人员设计PCB的挑战带来了额外的挑战。本文重点介绍了处理IPC 6012B中指定的铜包装要求的当前问题以及称为Flat-Wrap™的新技术的好处。IPC 6012包装镀金规范:IPC-6012B指定铜包装板应从填充的板孔连续到板条结构的外表面,并至少延伸至至少25微米(984微英寸),其中需要一个环形环。图1显示了此要求。图2显示,通过加工(打磨,蚀刻,平面化等)的任何减少包装板的减少。不允许导致包装不足。IPC-6012B表3-2给出了铜包裹厚度的要求。2类设计的连续最小包裹要求为0.000197“,对于3类设计为0.000472”。