portevin-le Chatelier(PLC)效应通常在许多合金系统中发生,并导致流动应力变化。发生降水时,PLC的行为发生变化及其对流动应力的影响变得更加复杂,但尚未澄清。沉淀物和位错之间众所周知的相互作用机制是剪切(可剪切沉淀物)和绕过(不可切除的沉淀物)。这项研究系统地研究了三种情况下PLC效应对流动应力的影响,即,没有预屈,具有可剪切的沉淀物,并且具有不可剪切的沉淀物。这项研究是在ALMGZRSC合金上进行的,其中沉淀不会改变负责PLC的溶质物种的浓度。提出了考虑不同的脱位 - 屈光度相互作用的修改构型关系,这可以量化以上三种情况下PLC效应对流动应力的贡献。建模结果与在ALMG和ALMGSCZR合金上表现出PLC效应的实验的结果非常吻合。理论上证明了PLC诱导的加强可以占ALMG合金总流动应力的14.5%。当出现可剪切和不可剪切的沉淀物时,该百分比分别降至约4.5%和9.5%,表明沉淀会减弱PLC诱导的增强。可剪切的沉淀物可以缩短PLC的应变率范围,这比不可切除的沉淀物更有效地抑制PLC效应。最后,讨论了负责PLC诱导的强化和不同沉淀脱位相互作用的作用的内在机制。
使用三重晶体X射线衍射研究了光子退火对硼掺杂CZ-SI晶状体晶体结构中变形的影响。具有卤素灯灯(光子退火模式)和快速热退火的双面抛光硅晶片的整个表面的常规退火产生压缩变形。在相对较低的晶圆温度下(小于55°C),使用特殊的光电板将多个分离的晶圆区域(局部光子退火模式)提供局部退火,可产生拉伸变形。但是,如果退火晶片的反向侧面包含机械固定层,则不会观察到这种效果。已经提出了一种解释实验结果的机制,可用于合成光电转换器结构中的电荷泵。
真核基因组是由数千个复制起源重复的,这些复制起源是依次形成了复制簇的定义时空模式。DNA反应的时间顺序是通过染色质结构来确定的,并且更具体地通过RIF1稳定的染色质接触来确定。在这里,我们表明RIF1位于新合成的DNA附近。暴露于DNA复制抑制剂蚜虫蛋白的细胞中,RIF1的抗压显着降低了蛋白质在阳性DNA上分离的有效性,这表明蛋白质对蛋白质在新生DNA过程中的分离是由染色质拓扑降低的。RIF1来限制蚜虫治疗诱导的DNA病变的积累,并促进新生DNA附近的粘着素的募集。共同表明,通过RIF1对染色质拓扑的稳定限制了复制 - 相关的基因组不稳定性。
镍基高温合金GH3536广泛应用于航空航天工业,具有良好的强度和抗高温氧化性能。本研究采用选区激光熔化 (SLM) 工艺制备GH3536试件,并进行热处理 (HT),研究了SLM和SLM-HT试件的微观组织、残余应力、拉伸强度和硬度。实验结果表明,由于快速冷却,SLM试件处于过饱和固溶状态,残余拉应力沿制备方向周期性地存在于亚表面。热处理后,富钼碳化物从基体中析出,降低了固溶程度。此外,由于热处理,SLM引起的残余拉应力转化为压应力,亚表面残余应力的周期性分布消失。研究结果表明,热处理抑制了SLM试件的固溶强化和晶界强化,导致硬度和屈服强度降低,断裂伸长率增加53%。本研究可为SLM成形GH3536镍基高温合金的应用提供指导。
摘要 电子组件使用各种具有不同机械和热性能的聚合物材料来在恶劣的使用环境中提供保护。然而,机械性能的变化(例如热膨胀系数和弹性模量)会影响材料的选择过程,从而对电子产品的可靠性产生长期影响。通常,主要的可靠性问题是焊点疲劳,这是电子元件中大量故障的原因。因此,在预测可靠性时,有必要了解聚合物封装(涂层、灌封和底部填充)对焊点的影响。研究表明,当焊料中存在拉伸应力时,由于聚合物封装的热膨胀,疲劳寿命会大大缩短。拉伸应力的加入使焊点处于周期性多轴应力状态,这比传统的周期性剪切载荷更具破坏性。为了了解拉伸应力分量对微电子焊点疲劳寿命缩短的影响,有必要将其分离出来。因此,我们构建了一个独特的样本,以使无铅焊点经受波动的拉伸应力条件。本文介绍了热机械拉伸疲劳样本的构造和验证。热循环范围与灌封膨胀特性相匹配,以改变施加在焊点上的拉伸应力的大小。焊点几何形状的设计具有与 BGA 和 QFN 焊点相关的比例因子,同时保持简化的应力状态。进行了 FEA 建模,以观察焊点在热膨胀过程中的应力-应变行为,以适应各种灌封材料的特性。焊点中轴向应力的大小取决于热膨胀系数和模量以及热循环的峰值温度。样本热循环的结果有助于将由于灌封材料的热膨胀而导致焊点经历的拉伸应力的大小与各种膨胀特性相关联,并为封装电子封装中焊点的低周疲劳寿命提供了新的见解。简介大量电子元件故障归因于焊点疲劳故障。航空航天、汽车、工业和消费应用中的许多电子元件都在波动的温度下运行,这使焊点受到热机械疲劳 (TMF) 的影响。电子组件中的焊料疲劳是温度波动和元件与印刷电路板 (PBC) 之间热膨胀系数 (CTE) 不匹配的结果。在温度变化过程中,PCB 和元器件 CTE 的差异会引起材料膨胀差异,从而使焊点承受剪切载荷。为了减少芯片级封装 (CSP) 中焊点所承受的剪切应变,人们使用了各种底部填充材料来限制焊点的变形。芯片级焊料互连(例如倒装芯片封装中的焊料)尤其受益于底部填充材料,因为它可以重新分配热膨胀应力,从而限制施加在焊料凸点上的应变。除了限制剪切应变之外,底部填充材料的膨胀还会导致球栅阵列 (BGA) 焊点产生较大的法向应变。Kwak 等人使用光学显微镜的 2D DIC 技术测量了热循环下焊点的应变 [1]。他们发现,CTE 为 30 ppm/ºC 且玻璃化转变温度 (T g ) 为 80ºC 的底部填充材料在 100ºC 的温度下可以产生 6000 µƐ 的平均法向应变。这些高法向应变并不像 BGA 封装中的剪切应变那样表现出与中性点距离相同的依赖性。法向应变的大小与 CTE、弹性模量 (E)、封装尺寸和温度有着复杂的依赖关系。法向应变的增加使焊点受到剪切应变和轴向应变的组合影响,这反过来又使焊点在温度波动的条件下受到非比例循环载荷。
展示了基于 SiC 原子级自旋中心能级交叉弛豫的全光学测温技术。该技术利用了三重基态 S=1 中心零场分裂的巨大热位移,光致发光无法检测到(所谓的“暗”中心)耦合到相邻的自旋 3/2 中心,这些中心可以进行光学极化和读出(“亮”中心),并且不需要射频场。EPR 用于识别缺陷。交叉弛豫线的宽度几乎比全光学测温中使用的激发态能级反交叉线的宽度小一个数量级,并且由于由激发态的寿命决定,因此无法显着减小。由于温度偏移和信号强度与激发态能级反交叉大致相同,交叉弛豫信号可以将温度测量的灵敏度提高一个数量级以上。温度灵敏度估计约为 10 mK/Hz^1/2,体积约为 1 μm^3,由扫描共聚焦显微镜中的聚焦激光激发决定。利用“亮”自旋-3/2 中心和“暗”S=1 中心基态中的交叉弛豫进行温度传感,利用“亮”自旋-3/2 中心基态水平反交叉,可以使用相同的自旋系统实现具有亚微米空间分辨率的集成磁场和温度传感器。
摘要:植物在整个发育期都会承受非生物胁迫。非生物应力包括干旱,盐,热,冷,重金属,营养元素和氧化应激。改善植物对各种环境压力的反应对于植物的生存和实用性至关重要。WRKY转录因子具有特殊的结构(WRKY结构域),这使得WRKY转录因子具有不同的转录调节函数。WRKY转录因子不仅可以通过调节植物激素信号通路来调节非生物应激反应以及植物的生长和发育,而且还可以通过与W-Box [Tgacca/Tgacct]结合在其靶基因的启动子中通过与W-Box [TGACCA/TGACCT]结合来促进或抑制下游基因的表达。此外,WRKY转录因子不仅与其他转录因子家族相互作用,以调节植物防御对非生物胁迫的反应,而且还通过识别和与W-box的结合来自我调节,以调节其对非生物胁迫的防御反应。然而,近年来,关于高等植物中WRKY转录因子的调节作用的研究评论稀缺。在这篇综述中,我们着重于WRKY转录因子的结构和分类,以及鉴定其下游目标基因和参与对非生物压力的反应的分子机制,这可以提高植物在非生物压力下的耐受能力,我们还期待着未来的研究指导,并提供了对属性的影响,并提供了属性的影响。
AU:请确认所有标题级别均正确表示:随着气候变化日益威胁农业生产,扩大作物遗传多样性是许多农业环境中应对气候的重要战略。在本文中,我们将探索作物生物技术对这种多样化的贡献潜力,特别是在工业化系统中,方法是使用历史视角来构建围绕基因编辑最新创新的当前对话。我们挖掘了雄心勃勃的科学家在重组 DNA 早期对增强作物多样性的可能性的评论,并跟踪了这项技术的实施情况,该技术并未产生一些人预期的多样化。然后,我们转向最近关于基因编辑工具在这一目标方面的前景的说法。我们鼓励研究人员和其他利益相关者参与实验室以外的活动,如果他们希望看到在农业转型的关键时刻将技术上的可能性转化为实践。
为人类肌肉茎(Hmustem)细胞获得的临床前数据表明其在肌肉损伤的背景下的巨大修复能力。但是,它们的临床潜力受到移植后中等生存能力的限制。要克服这些局限性,它们在保护环境中的封装将是有益的。在这项研究中,研究了使用外部或内部凝胶化获得的可调节钙 - 阿尔金酸盐水凝胶作为Hmustem细胞封装的新策略。使用原子力显微镜通过压缩实验来表征这些水凝胶的机械性能。测量的弹性模量强烈取决于胶凝模式和钙/藻酸盐浓度。分别在内部和外部凝胶化后制备的水凝胶获得了从1到12.5 kPa和3.9至25 kPa的值。此外,水凝胶的机械性能差异是由其内部组织产生的,具有内部凝胶的各向同性结构,而外部模式导致各向异性。进一步表明,释放后,保留了藻类水凝胶中掺入的Hmustem细胞的生存力,形态和肌原分化char术。这些结果表明,封装在钙钙酸钙水凝胶中的Hmustem细胞保持其功能,从而可以开发肌肉再生方案以提高其治疗功效。
金属增材制造部件中的残余应力是一个众所周知的问题。它会导致样品在从构建板上取出时变形,并且对疲劳产生不利影响。了解打印样品中的残余应力如何受到工艺参数的影响对于制造商调整工艺参数或部件设计以限制残余应力的负面影响至关重要。在本文中,使用热机械有限元模型模拟增材制造样品中的残余应力。材料的弹塑性行为通过基于机制的材料模型来描述,该模型考虑了微观结构和松弛效应。通过将模型拟合到实验数据来校准有限元模型中的热源。将有限元模型的残余应力场与同步加速器 X 射线衍射测量获得的实验结果进行了比较。模型和测量的结果显示残余应力场具有相同的趋势。此外,结果表明,随着激光功率和扫描速度的改变,所产生的残余应力的趋势和幅度没有显著差异。2022 作者。由 Elsevier Ltd. 出版。这是一篇根据 CC BY 许可协议开放获取的文章(http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/)。