1. 相信自己 2. 有条理 3. 时间管理 4. 形成成功的课堂常规 5. 做好笔记 6. 使用阅读策略/技巧 7. 更聪明地学习 8. 制定考试策略 9. 减少考试焦虑 10. 寻求支持
Niveditha Devasenapathy博士是一名医生,拥有印度卫生研究的博士学位。她在临床研究方法中拥有15年的校外和校园教学经验。她热衷于研究研究人员提高研究质量的研究能力。她目前负责乔治学院的学术临床试验部门。她还使用较低的资源密集型方法积极从事优化临床试验数据的管理。她目前的研究兴趣是使用数字技术改善膝盖后置换后的患者护理,并参与与风湿性心脏病有关的试验
发现肿瘤特异性分子依赖性可能会改善癌症疗法的开发。必需的工具包括遗传和化学扰动,每种方法都有其优点和局限性。化学扰动可以很容易地大规模应用于原发性癌症样本,但由于一种化合物对多种蛋白质具有亲和力,因此对命中的机制理解和进一步的药物开发通常很复杂。为了从体外药物敏感性曲线计算推断出单个癌症的特定分子依赖性,我们开发了一个数学模型,使用蛋白质-药物亲和力曲线的测量值对这些数据进行解卷积。通过整合药物激酶分析数据集和几种药物反应数据集,我们的方法 DepInfeR 正确识别了已知的蛋白激酶依赖性,包括 HER2+ 乳腺癌细胞系的 EGFR 依赖性、具有 FLT3 -ITD 突变的急性髓细胞白血病 (AML) 的 FLT3 依赖性以及两种主要慢性淋巴细胞白血病 (CLL) 亚型对 B 细胞受体途径的差异依赖性。此外,我们的方法发现了新的亚组特定依赖性,包括以前未报告的高危 CLL 对检查点激酶 1 (CHEK1) 的依赖性。该方法还生成了 117 个 CLL 样本异构集中激酶依赖性的详细图谱。将多药理学表型反卷积为潜在的因果分子依赖性的能力应该会增加高通量药物反应检测在功能精准肿瘤学中的效用。
。CC-BY-NC-ND 4.0 国际许可证永久有效。它是在预印本(未经同行评审认证)下提供的,作者/资助者已授予 bioRxiv 许可,可以在该版本中显示预印本。版权所有者于 2022 年 1 月 12 日发布了此版本。;https://doi.org/10.1101/2022.01.11.475864 doi:bioRxiv 预印本
本研究重点关注最近对英语作为第二语言的接受技能(阅读和听力)测试中受访者使用的应试策略的研究,旨在研究研究的不同方面。现有研究主要采用定量设计;定性方法起着补充作用。对阅读测试中使用的策略的研究远远多于对听力测试中使用的策略的研究。许多研究调查了类似的一般主题,例如所使用的策略类型、应试策略与受访者语言能力的关系以及策略使用的有效性。还出现了新的研究方向,例如调查在特定情况下使用策略组的特定顺序,即测试项目的难度逐渐增加。研究中考虑了研究的实际应用,包括测试验证、项目类型对测试敏感性以及与其在测试中的使用相关的后续建议,或与应试策略指导相关的建议。
位英语 考试 特点 , 采用多 功能 的编排 方法 , 不仅 有助 于考生 理解记 忆单 词 , 准 确掌 握词的 运用 , 而且 能够 使 考生 快 速扩
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。