关于产品是否适用于某些类型的应用的声明是基于 Vishay 对 Vishay 产品在通用应用中通常提出的典型要求的了解。此类声明不是关于产品是否适用于特定应用的约束性声明。客户有责任验证具有产品规格中所述属性的特定产品是否适用于特定应用。数据表和/或规格中提供的参数可能因不同应用而异,性能也可能随时间而变化。所有操作参数(包括典型参数)必须由客户的技术专家针对每个客户应用进行验证。产品规格不会扩大或以其他方式修改 Vishay 的购买条款和条件,包括但不限于其中表达的保修。
功率模块中的引线键合是封装中最薄弱的环节之一,通常会导致整个功率模块故障。与 CTE 不匹配相关的引线键合中的热机械应力会导致裂纹扩散到键合界面附近的区域。在本文中,键合过程后的扫描电子显微镜 (SEM) 分析清楚地显示了引线和芯片金属化界面附近的小晶粒和不同的纹理。为了提高引线键合的可靠性,建议在功率模块制造后进行热处理。热处理通过增加晶粒尺寸、降低位错密度和合并引线和金属化的晶粒,对键合区域产生积极影响。此外,已进行的功率循环显示,与由未经处理的相同(交付时)功率 IGBT 模块组成的参考产品相比,经过热处理的功率模块的使用寿命有所增加。
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单片微电路(或集成电路)。一种微电路,仅由在单个半导体基板上或内部原位形成的元件组成,其中至少一个元件形成在基板内。大多数合格的 QML 供应商都使用铝楔形键合,大概是为了保持 IC 上的键合为单金属。
影响印模质量和良好边缘贴合度的最具挑战性的因素之一是龈排挤方法,其目的是将牙龈与牙齿分离,以暴露准备好的牙齿的终点线。龈沟液的出血和污染可能会与龈沟内的印模材料争夺空间,导致准备不清晰和边缘缺乏细节。此外,此类程序可能会损坏 PDL 并引起永久性萎缩。与传统排挤线相比,可流动复合材料电缆由于粘度较低、适应性更强且具有弹性,可在印模记录过程中提供适当的边缘密封和可见性。本报告的目的是通过在最终印模记录过程中使用可流动复合材料,介绍一种全新的创新方法,用于在修复和修复治疗中控制牙龈出血和龈排挤。在这些病例报告中,使用可流动复合线技术代替传统龈线,在拍摄传统的最终印模或数字扫描之前修改和细化牙龈组织。两例患者在 2 年的随访期内接受了固定修复和贴面治疗。此外,在最终修复体粘接之前或临时牙冠下使用可流动复合线作为临时修复体。因此,清洁健康的牙龈组织使最终修复体的粘接更快、更容易。两例患者都声称,他们的修复治疗(包括使用可流动复合线暂时收缩牙龈)在一年的随访中取得了良好的效果。总之,可流动复合线技术是一种有用的工具,可通过提供出色的
摘要 焊料的润湿性对于实现电子元件和印刷电路板 (PCB) 之间的良好可焊性非常重要。锡 (Sn) 镀层被广泛用于促进焊料在基板上的润湿性。然而,必须考虑足够的锡镀层厚度才能获得良好的润湿性和可焊性。因此,本研究调查了电子引线连接器的锡镀层厚度及其对润湿性和电连接的影响。在电子引线连接器表面应用了两种类型的锡镀层厚度,~3 μm 和 5 μm。研究发现,~3 μm 的薄锡镀层厚度会导致电连接失败,并且焊点润湿性和可焊性不足。5 μm 的较厚锡镀层厚度表现出更好的润湿性和可焊性。此外,电连接也通过了,这意味着较厚的锡镀层厚度提供了良好的焊点建立,从而带来了良好的电连接。还观察到,较厚的锡镀层厚度实现了更好的焊料润湿性。场发射扫描电子显微镜 (FESEM) 的结果表明,对于较薄的锡镀层厚度 (~3 μm),引线连接器表面的金属间化合物 (IMC) 层生长被视为异常,其中 IMC 层被消耗并渗透到锡涂层的表面。这导致薄锡镀层与焊料的可焊性较差,无法形成焊点。本研究的结果有助于更好地理解考虑足够的锡镀层厚度的重要性,以避免锡镀层处的 IMC 消耗,以及更好的润湿性、可焊性和焊点质量,这对于表面贴装技术 (SMT) 尤其适用于电子引线连接器应用。
随着现代科技与信息产业的飞速发展,集成电路向大型化、超大型化方向发展,这就要求引线框架材料具有更高、更优异的性能[4]。铜合金材料的强度为550MPa~600MPa,电气强度为75%~80%IACS;要达到上述性能要求,这类高性能铜合金多为时效强化型合金。据报道,Cu-Cr-Zr合金是最理想的铜合金材料。目前,国内尚无厂家能够工业化生产引线框架材料Cu-Cr-Zr合金。对于Cu-Cr-Zr合金,国内近年来,苏州有色金属研究所、华东电炉厂、江酒科学院物理研究所等单位已对C18150哈金小锭进行了部分试验研究,但从工艺设计和热处理方面看在强度、应力恢复等综合性能上与国外企业相比还存在巨大差距[5]。
[1]《超声波焊接》,第 8 章,载于:《焊接手册》第 9 版第 3 卷,《焊接工艺》,第 2 部分,美国焊接学会,迈阿密,2007 年。[2] AA Fedulova、Yu.A. Ustinov、EP Kotov、VP Shustov 和 ERYavich,《多层印刷电路板技术》,无线电和通信,莫斯科,1990 年(俄罗斯语)。[3] QJ Chen、A. Pagba、D. Reynoso、S. Thomas 和 HJ Toc,《铜线及其他 - 银线是铜的替代品吗?》 , 载于:2010 年第 12 届电子封装技术会议,IEEE,2010 年,第 591-596 页。[4] P. Liu、L. Tong、J. Wang、L. Shi 和 H. Tang,铜线键合技术的挑战与发展,微电子可靠性,2012 年,第 52 卷,第 6 期,第 1092-1098 页。[5] ZW Zhong,使用铜线的引线键合,微电子国际,2009 年,第 26 卷,第 1 期,第 10-16 页。 [6] A. Shah、T. Rockey、H. Xu、I. Qin、W. Jie、O. Yauw 和 B. Chylak,《银线先进引线键合技术》,载于:2015 IEEE 第 17 届电子封装与技术会议 (EPTC),IEEE,2015 年,第 1-8 页。[7] ZW Zhong,《使用铜线或绝缘线的引线键合概述》,《微电子可靠性》,2011 年,第 51 卷,第 1 期,第 4-12 页。
楔形键合机使用超声波能量将金属线键合到金属基板上,整个过程仅需几毫秒。在大批量生产中,故障会导致停机和成本增加。在线监控系统用于减少故障并确定根本原因。我们开发并测试了一种算法来对超声波线键合生产中的异常值进行分类。该算法用于大型线楔形键合机,以测量和分析过程信号并检测和分类键合异常值。它可以帮助键合机操作员、生产主管和工艺工程师检测工艺偏差并解决潜在的根本原因。该算法测量键合信号,例如变形、超声波电流和超声波频率。根据键合顺序和工艺参数,键合会自动分为子组,然后对子组内的信号进行归一化。对于异常值分类,从归一化信号中提取特征并将其组合成故障类别值。污染、无线、高变形、线错位和基板不稳定等故障类别是独立计算的。我们测量了大型铝线键合故障类别的检测率,并演示了该算法如何根据信号计算故障类别值。此外,我们还展示了如何定义新的信号特征和故障类别来检测特定于生产或罕见的故障类别。关键词楔形键合机、超声波引线键合、异常值分类、键合故障、检测算法。
(2008) 指出,RSM 可以清楚地预测参数交互作用和平方项的显著性。RSM 技术可以根据显著参数、它们的交互作用和平方项对响应进行建模。因此,该方法是一种比田口方法更好的优化工具。田口方法的大多数应用都解决单响应问题,对多响应问题的关注有限 (Su, 2013)。在解决多响应问题时,应用传统的田口方法会导致在确定最佳参数设置时产生冲突。也就是说,当找到满足质量特性 A 的最佳参数组合时,可能无法满足质量特性 B。在实践中,工程师通常使用反复试验来调整引线键合参数。为了在不损失质量的情况下降低制造成本,铜线