人们对 229 Th 核中低能级同质异能态 3 / 2 + ( E < 10 eV)产生了浓厚的兴趣,因为可以设计超精密核钟 [1, 2, 3, 4]、光学范围的核激光器 [5, 6] 和 VUV 范围的核发光二极管 [7],以及研究许多不寻常的过程:激光辐射通过电子桥处的电子壳层激发和衰变 229 m Th [8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15],通过边界条件 [16] 或化学环境 [17, 18] 控制同质异能能级 γ 衰变,229 m Th 异构体的 α 衰变 [19] 及其伴随的轫致辐射 [20],精细结构常数和强相互作用参数变化的相对影响 [21, 22, 23]、长时间衰变定律的指数性检验 [24] 等。229 m Th 同质异能态的激发能量是所有已知原子核中最低的。根据最新数据 [25],它的能量 E is 为 8.19±0.12 eV。这个结果与文献 [26] 中获得的 E is = 8.28±0.17 eV 值接近,也与文献 [27] 测量的 E is = 8.10±0.17 eV 和文献 [28] 中的 E is = 7.8±0.5 eV 接近。在此之前,在 1990 年至 2007 年的相当长的一段时间内,人们认为 E is < 5 eV [29, 30]。目前,233 U 的 α 衰变实际上是获得 229 m Th 异构体的唯一方法。目前无法通过激光辐射有效激发 229 m Th,因为这需要比现在更精确地了解跃迁能量。因此,在工作 [7] 中,提出通过非弹性电子散射激发 229 m Th。事实证明,在束流能量区域 E ≈ 10 eV 内,激发截面达到 10 − 25 cm 2 的值。如此大的截面表明,使用带负电的粒子束获得 229 m Th 的方法是有前途的。作为工作 [7] 的延续,我们在此考虑低能μ子与 229 Th 核的非弹性散射过程。此类工作的先决条件可能是以下考虑。在 Born 近似中,核激发到能量为 E 的同质异能态的截面在文献 [31] 中通过分析获得,在文献 [32] 中通过分析获得。磁偶极子 ( M 1) 跃迁和电四极子 ( E 2) 跃迁的截面形式为 [31, 32]
仅根据要求加快治疗的首字母中包含的信息加急处理的请求。OCC征求加急处理请求时,OCC将在可行的情况下尽快处理记录。(v)如果OCC拒绝加急处理请求,请求者可以根据本节(d)段对拒绝提出上诉。如果请求者在纸上提出上诉,则必须明确标记信封和上诉本身,‘呼吁加快加工。''(vi)OCC将迅速考虑上诉,并将裁定的请求通知请求。* * * * * *(d) * * * *(1)过程。请求者可以提出不利的确定,包括拒绝记录请求,根据本节(c)(5)款的加急处理请求,以及根据§4.17(b)(4)的费用豁免或减少的请求。所有上诉必须在初始确定日期后的90个日历日内以书面形式提交。上诉必须包括支持披露请求记录的情况和论点。对拒绝加急处理的初步决定的上诉也必须遵循本节(c)(5)(v)款中规定的程序。(2)上诉确定。主计长或审计长的代表确定是否授予拒绝的上诉:(i)OCC记录请求; (ii)加快处理的请求;或(iii)放弃或减少费用。* * * * *■3。修订和重新发布如下:修订第4.16条作者:■a。修改和重新发布(a)(1)段; ■b。修订(b)(1)(i)和(ii)款;和■c。在第(b)(2)(v)款中删除“’”一词,除非OCC有实质性的理由相信信息披露将导致竞争危害''。
任意横截面的轴向应力监测是一项具有挑战性的任务。桁条是飞机蒙皮结构的主要轴向承载部件,具有典型的复杂横截面。本文研究了基于声弹性导波的压电锆钛酸铅 (PZT) 传感器的任意横截面轴向应力监测策略。为了选择对任意横截面轴向应力监测敏感的适当导波频率和模式,使用声弹性理论结合半解析有限元法研究特征导波。推导出模态形状,表明这些纵向模态对轴向应力更敏感。还考虑使用 PZT 换能器阵列来最大化所需模式。压电传感器用于在实验中激发和检测导波。给出了 T 型桁条的声弹性测量结果,表明该方法用于轴向应力监测的可行性。
Th 核中的低能同质异能态 (eV) 已引起人们的广泛兴趣,因为它可以用于设计超精密核钟[1-4]、光学范围的核激光器[5,6]和 VUV 范围的核发光二极管[7],也可以用于研究许多不寻常的过程:Th 在激光辐射下通过电子桥处的电子壳层激发和衰变[8-15],通过边界条件 [16]或化学环境 [17,18]控制同质异能能级衰变,Th 异构体的衰变[19]及其伴随的轫致辐射[20],精细结构常数和强相互作用参数变化的相对效应[21-23],长时间内衰变定律的指数性检验[24],等等。
合作。咨询小组每个都关注一个技术领域,定期开会审查计划的主要部分,分配相对优先级,并确定需要进一步关注的具体关键问题。对于选定的特定主题,咨询小组会赞助子小组,这些小组会对用户需求、当前知识状态和现有数据资源进行详细研究,并以此为基础推荐一项或多项数据汇编活动。本次大会
Charles W. Haines 博士、Panchapakesan Venkataraman 博士、Mark H. Kempski 博士、Chris Nilsen 博士(他不知不觉地引导我走上了贝塞尔曲线的道路)、George Komorowski 先生和 David Hathaway,均为 RTT 机械工程系的教职员工。
图 11 不同配置层偏压下 CSOI 器件瞬态电流典型曲线 ( a ) 和 CSOI SRAM 电路的单粒子翻转截面变化 ( b ) Fig. 11 Typical transient current curve of CSOI device (a) and single event upset cross-section variation of CSOI SRAM circuit (b) under different configuration layer biases
3D型号-YP28U2_MODEL -PDF 3D型号-YP28U2_MODEL -IGES 3D型号-YP28U2_MODEL -Step目录 - 完整线Burndy目录目录-H-截面H-额外的分布产品交叉截面图像