XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System按下测试
TRI 20 TRI 30 TRI 40 TRA 3000 雷达高度计单元
高度范围：40 英尺至 2500 英尺。数字显示分辨率：40 英尺至 100 英尺之间为 5 英尺。100 英尺至 300 英尺之间为 10 英尺。300 英尺至 1000 英尺之间为 20 英尺。1000 英尺至 2500 英尺之间为 50 英尺。显示滞后：小于上述分辨率的一半 显示更新率：最低 2 次/秒 解锁显示：解锁时显示空白 决断高度：以 100 英尺为增量设置，0 英尺至 900 英尺。听觉 DH 警报：音频音调，1 Khz，可从外部获得 视觉 DH 警报：前面板 DH 灯，后连接器处提供外部 DH 灯控制 自检：按下测试按钮时，显示屏将读取 R/T 单元的测试高度并保持约 25 秒。如果高度下降通过选定的决断高度，则 DH 视觉和听觉警报将启动。显示：类型 - LED，红色七段调光 - 自动控制数据输入/控制：决断高度旋钮，以 100 英尺为增量输入所需 DH，0 至 900 英尺自检按钮，按下时启动测试模式
物流物流在研究中的应用 div>
目前，微型电子产品在工业世界中发挥了重要作用。微产品重要的电子电子，例如芯片，微处理是用作机器中央处理器的芯片微型计算机但是，微电源产品很小，因此因此，当生产过程中的浪费从这样的案件中找到原因是很困难的。从搜索问题原因通过工作测试过程后，导致芯片的裂缝，没有发现员工和机械过程会导致引起芯片因为必须按下测试过程以使电路连接到电源。但是压力说的是在设备上指定，并在整个测试过程中报告压力机相等。并发现会有工作有些仅引起芯片。因此，这项研究认为，电路板董事会的弯曲导致芯片因此，在工作期间从测试机上压迫时，因素和结果的关系是出生的机会。和二进制的结果因此，这项研究提出了用于习惯的双边文物芯片的裂缝从统计分析中，发现电路板-21.480至10.253微米之间的随机化范围不会显着影响芯片的崩溃（系数的近似值等于置信度的95％。继续与芯片制造商一起研究，以找到这样的原因芯片的重要芯片：微型电子