在传统(经典)纠错中,Levenshtein 于 1966 年引入的删除纠错 [1] 近来引起了广泛关注(例如,参见 [2] 及其参考文献)。在纠正擦除时,接收方知道擦除的位置 [3]–[5]。与此相反,接收方不知道删除的位置,这给纠正删除和构造适合删除纠错的代码增加了额外的难度。部分由于删除纠错和量子纠错的共同困难,量子删除纠错的研究最近才刚刚开始 [6]–[8]。这些研究提供了量子删除纠错码的具体示例。 [6] 提出了第一个系统地构造1-删除校正二元量子码,其中对任意正整数k,构造了((2 k +2 − 4 , k )) 2 码。最近,[9],[10] 提出了第一个系统地构造t-删除校正二元量子码,适用于任意正整数t。现有研究存在以下问题:(1)没有系统地构造纠正1以上删除的非二元量子码。(2)现有的稳定器量子纠错研究不能以明显的方式重复使用,而置换不变码
a 意法半导体,法国鲁塞 b 艾克斯-马赛大学,CNRS,IM2NP,13451 马赛,法国 摘要 在本文中,我们对 100 万次编程/擦除 (P/E) 操作后的 1T-NOR 闪存电气特性进行了 TCAD 模拟。由于 TCAD 模拟,提出了空间缺陷分布来解释耐久性下降的原因。工艺模拟基于意法半导体生产的 90 nm 节点嵌入式非易失性存储器技术 (eNVM)。编程和擦除期间使用热载流子注入 (HCI) 和高级隧道模型,而闪存性能下降则通过位于 Si/SiO 2 界面和 SiO 2 内部的缺陷来考虑。获得的循环前后编程窗口以及消耗电流的结果与实验结果高度一致。此外,在此框架内,可以正确重现 100 万次循环后无应力闪存侧的 IV 特性,如文献中先前报道的那样。 1. 引言电荷存储浮栅存储器Flash-EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)或简称Flash,可以说是迄今为止市场上最成功的非易失性存储器之一,每年仍有数十亿个单元被处理,预计到2028年,复合年增长率(CGAR)将达到14.4% [1]。它的可靠性(主要包括耐用性和数据保留率)在过去几十年中得到了广泛的研究[2-4]。在本文中,我们使用技术计算机辅助设计(TCAD)来模拟100万次循环后的1T-NOR闪存编程窗口关闭。TCAD是一种基于物理的数值建模方法,用于精确模拟微电子器件的制造工艺和电气特性,该工具已成功用于器件性能优化和可靠性提高[5,6,7]。与[8]类似,Flash耐用性是通过缺陷建模的;然而,在本文中,我们采用了 Si/SiO 2 界面和 SiO 2 体氧化物中的非均匀缺陷分布以及不同类型的缺陷。这种方法与 [4] 中报道的实验结果一致。
对于一种更清洁和消毒剂的产品,可以使用一步产品清洁和消毒表面。如果它是两步产品,则需要先擦除表面才能清洁,然后再次擦拭以消毒。如果产品不是清洁和消毒剂,则需要单独的清洁剂才能在消毒之前清洁表面。每种消毒剂都包含一种活跃成分,该成分会使微生物失活并实现消毒。
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ScarCruft、Andariel 和 Kimsuky 等与朝鲜结盟的组织继续使用其常用工具集攻击韩国和与韩国相关的实体。除了使用虚假的波音主题工作机会攻击波兰国防承包商的员工之外,Lazarus 还将重点从其通常的目标垂直领域转移到印度的数据管理公司,使用以埃森哲为主题的诱饵。此外,我们还发现他们的一项活动利用了 Linux 恶意软件。与俄罗斯结盟的 APT 组织在乌克兰和欧盟国家特别活跃,Sandworm 部署了擦除器(包括我们称之为 SwiftSlicer 的新型擦除器),而 Gamaredon、Sednit 和 Dukes 则利用鱼叉式网络钓鱼电子邮件,在 Dukes 的案例中,这些电子邮件导致红队植入了名为 Brute Ratel 的植入程序。最后,我们发现前面提到的 Zimbra 电子邮件平台也被 Winter Vivern(一个在欧洲特别活跃的组织)利用,并且我们注意到 SturgeonPhisher(一个专门针对中亚国家政府工作人员发送鱼叉式网络钓鱼电子邮件的组织)的活动显着下降,这让我们相信该组织目前正在重组。
设计能够减少和减轻错误的量子硬件对于实用的量子纠错 (QEC) 和有用的量子计算至关重要。为此,我们引入了电路量子电动力学 (QED) 双轨量子比特,其中我们的物理量子比特被编码在两个超导微波腔的单光子子空间 {| 01 ⟩ , | 10 ⟩} 中。主要的光子损失误差可以被检测到并转换成擦除误差,这通常更容易纠正。与线性光学相比,双轨代码的电路 QED 实现提供了独特的功能。每个双轨量子比特仅使用一个额外的 transmon ancilla,我们描述了如何执行一组基于门的通用操作,其中包括状态准备、逻辑读出以及可参数化的单量子比特和双量子比特门。此外,腔体和传输器中的一阶硬件错误可以在所有操作中被检测到并转换为擦除错误,留下数量级较小的背景泡利错误。因此,双轨腔量子比特表现出良好的错误率层次,预计在当今相干时间下的性能远低于相关的 QEC 阈值。
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