随着CMOS技术的缩小缩放,由于更宽的防护带,电路设计的边缘变得越来越紧,这是抵消更严重的晶体管老化和变化所必需的。因此,迫切需要可靠性增强的电路设计来减少护栏。在本文中,提出了一个基于近似合成的可靠性增强的设计框架,以完全消除衰老的后卫带。它主要包括两个关键部分:首先,进行远期可靠性模拟流支持统计静态时序分析(SSTA)以估计老化后的路径故障率;如果不满足正时约束,则向后延迟驱动的近似逻辑合成流将在关键路径上进行近似局部变化,以减少延迟,直到最终满足可靠性要求并且不需要老化的护罩带。结果表明,近似电路的老化延迟小于原始电路,因此路径故障率显着降低。表明,提出的设计流可以将对应用产生致命影响的时间误差转换为低显着性位上可忽略的错误,以提高电路的弹性,这为纳米级的可靠性增强设计提供了新的视角。
摘要 — 在本文中,我们介绍了 Surf-Deformer,这是一种代码变形框架,可将自适应缺陷缓解功能无缝集成到当前的表面代码工作流程中。它根据基本规范变换设计了几种基本变形指令,这些指令可以组合起来探索比以前的方法更大的设计空间。这使得针对特定缺陷情况定制的变形过程更加优化,以最少的量子位资源更有效地恢复变形代码的 QEC 能力。此外,我们设计了一种自适应代码布局,可以适应我们的缺陷缓解策略,同时确保逻辑操作的高效执行。我们的评估表明,Surf-Deformer 的表现优于以前的方法,可将各种量子程序的端到端故障率显著降低 35 倍至 70 倍,而与以前的方法相比,仅需要约 50% 的量子位资源即可实现相同的故障率。烧蚀研究表明,Surf-Deformer 在保留 QEC 能力方面超越了以前的缺陷去除方法,并通过实现近乎最佳的吞吐量来促进表面代码通信。索引词——量子误差校正、动态缺陷
摘要 预测性维护是与工业 4.0 相关的概念,工业 4.0 是第四次工业革命,它监控设备在正常运行期间的性能和状况以降低故障率。本文讨论了一种预测性维护策略,以减少住宅技术设备系统的机械和电气设备故障。所开发的策略可以保证基于机器学习系统的定制维护服务,在最长 3 年的时间内大幅减少故障。所开发的策略根据统计数据评估可接受的组件故障率,并将平均劳动力成本与每次维护操作的持续时间相结合。预测策略详细阐述了实现上述目标所需的最低成本增加。对罗马一个由 16 栋建筑和 911 套公寓组成的现代住宅区进行了为期 3 年的案例研究。特别是,分析考虑了为公寓以外的外部和公共区域供电的机械、电气和照明系统,以避免由于用户行为差异而导致数据扰动。通过大数据分析进行预测性维护管理的总体好处已被证明是住宅系统的机电设备等不同工厂整体运行的实质性改善。关键词:BIM环境,设施管理
过去五年来,全球公用事业规模电池储能系统 (BESS) 的装机容量大幅增加。虽然最近部分 BESS 发生的火灾引起了媒体的广泛关注,但随着早期故障事故中吸取的教训被纳入新的设计和最佳实践中,事故总体发生率已大幅下降。2018 年至 2023 年间,全球电网规模 BESS 故障率下降了 97%。
3.2.与技术约束相关的选择标准 ...................................................................................................... 43 3.2.1.未建模的组件 ...................................................................................................................... 44 3.2.2.未建模的非操作阶段 ............................................................................................................. 45 3.2.3.未考虑早期故障期 ............................................................................................................. 46 3.2.4.热循环建模的影响 ............................................................................................................. 46 3.2.5.假设的敏感性 ............................................................................................................. 48 3.2.6.诱导应力 ............................................................................................................................. 48 3.2.7.复杂环境建模 ................................................................................................................ 49 3.2.8.隐性考虑监控和改进政策 ........................................................................................ 49 3.2.9.流程最小化无理由故障率 ........................................................................................ 49
• 设计寿命超过 2000 万次 • 低反向驱动扭矩:5 英寸盎司或更低 • 优化的分离扭矩,可实现平稳启动 • 低机械间隙(10 弧分) • 高性能伺服:可实现 20 Hz 的频率响应 • MTBF > 40,000 飞行小时 • 使用寿命设计为 20 年内 > 80,000 飞行小时 • 执行器和控制器设计符合安全要求 • 故障率低于每飞行小时 1 x 10 -9
摘要 — 在本文中,我们首次使用行业标准加速寿命测试(例如高温工作寿命、高温存储寿命、温度循环测试和高加速应力测试)研究了基于金属氧化物/GaN 纳米线的气体传感器的传感器芯片/工艺和封装可靠性。本研究中用于感测乙醇暴露的金属氧化物功能化是 ZnO。对于所有测试,样品 ZnO/GaN 器件均已在室温(20 ◦ C)下暴露于干燥空气中的 500 ppm 乙醇,以观察和记录信噪比 (SNR) 随应力时间和热循环次数而下降的情况。虽然在任何进行的测试中均未观察到设备完全故障,但由于应力增加,气体传感响应不断逐渐下降。传感器响应的降低被认为是由于受体 ZnO 的逐渐相变和基线电阻增加造成的。本文详细讨论了估计传感器设备故障率和寿命的方法。使用从执行的加速应力测试中获得的统计数据,已实施卡方分布来预测 GaN 纳米结构传感器设备的故障率和寿命。本研究中受压设备的平均故障时间 (MTTF) 约为 4 年。
我们考虑在蜂窝网格(“ XYZ 2”代码)上的拓扑稳定器代码。该代码的灵感来自Kitaev Hon-Eycomb模型,是对Wootton [1]讨论的“匹配代码”的简单实现,并具有特定的边界实现。它利用了重量 - 六个(XY ZXY Z)Plaquette稳定器和重量二(XX)链接稳定器上的链接稳定器在pla-Nar六角形网格上,由2 d 2 QUBITS组成,由2 d 2 QUBITS组成,用于代码距离D,具有重量的三个固定器,在边界处稳定了一个逻辑量子。假设完美的稳定剂测量方法,我们使用最大似然解码来研究代码的性质。对于纯x,y或z噪声,我们可以通过分析求解逻辑故障率,阈值为50%。与旋转的表面代码和XZZX代码相比,这些代码仅对纯Y噪声,d 2 2 2,此处的代码距离为纯Z和纯Y噪声的2 d 2。具有有限Z偏置的噪声的阈值与XZZX代码相似,但较低的亚阈值逻辑故障率显着较低。该代码具有沿三角晶格的三个方向,具有分离的plaquette缺陷对隔离错误的分离综合征的特性,这可能对基于有效的匹配或其他近似分解的解码有用。
扫描统计,通过/失败和缺陷位置电子自动数据收集,数据保护和数据保护不完整的密封,包含,皱纹,皱纹,频道缺陷,未对准的密封误差,分层或泡沫故障率,缺陷位置500微米数据流,拒绝I/o信号密封式测试头,带有L-SCAN窗口窗口窗口窗口窗口,带有L-SCAN窗口窗口,带有触摸屏的5.机柜100-240 VAT 50/60 Hz测试头,带有操作员界面的控制面板:25IB