尽管 H (0) 具有明确定义的光谱,但 H ( t ) 没有。由于与时间相关,H ( t ) 没有能量本征态。重要的是要记住,能量本征态的存在取决于将完整薛定谔方程的解 Ψ( x, t ) 分解为与空间相关的部分 ψ ( x ) 和与时间相关的部分,后者结果是 e − iEt/ ℏ ,其中 E 是能量。当哈密顿量与时间相关时,这种分解是不可能的。由于 H ( t ) 没有能量本征态,因此目标是直接找到解 | Ψ( x, t ) ⟩。由于我们将重点关注时间依赖性,因此我们将抑制与空间相关的标签。我们简单地说我们正在尝试找到薛定谔方程的解 | Ψ( t ) ⟩
其中,如果位串 s 中的 1 的个数为偶数/奇数,则该位串为奇偶校验。我们可以将 | Ψ QRC ⟩ 视为奇偶校验状态:字符串的奇偶性决定系数是 α 还是 β 。这种奇偶校验性质使其很容易根据 Z 测量值进行校正。例如,如果在最后一个量子比特上测量 Z,如果结果为 0,则我们只需保留其他 N − 1 个量子比特中的信息;如果结果为 1,则信息仍存储,但我们需要在最后应用 X 门来恢复原始量子比特。该模型的一个关键缺点是它无法根据哪怕一个 X 测量值进行校正,这会导致整个波函数崩溃。当然,已知更复杂的代码 [ 25 ] 可以同时防止 Z 和 X 错误;其中概念上最简单的是 Shor 9 量子比特代码 [ 26 ]。更实际的可能性包括表面码 [27-31],它更适合物理实现(并且容错性更强);表面码中至少需要 9 个数据量子位来保护一个逻辑量子位 [31]。在本文中,我们提出了量子重复码的另一种简单替代方案,它解决了重复码的两个缺点,同时保持了其大部分概念简单性。我们的代码由一维、空间局部、时间相关的横向场伊辛模型 (TFIM) 生成。虽然该模型因与基于马约拉纳量子计算的联系而在量子信息论中有着悠久的历史 [32-36],但在这里我们将指出一种相当不同的方法,即使用 TFIM 对量子位进行鲁棒编码。与重复码一样,我们的代码受到使用奇偶校验态的启发,可以有效地纠正 Z 测量/误差。事实上,[37-39] 中已经强调了 (随机) 横向场 Ising 模型动力学与重复代码中的量子纠错之间的联系。与依赖于 GHZ 态准备的重复代码不同,我们的奇偶校验态可以在幺正动力学下在恒定时间内准备,并且它可以得到一种可以同时纠正 Z 和 X 错误的代码。我们的代码能够在有限时间幺正动力学之后实现这种纠错奇偶校验态,这可以通过与对称保护拓扑 (SPT) 相的联系来理解 [40-42],尽管这种代码看起来比许多受凝聚态物理启发的代码要简单。我们提出的 TFIM 代码是利用量子系统控制和操控方面取得的最新进展自然实现的。尤其是里德堡原子光镊阵列,由于能够单独控制原子,已被证明是一种高度可调谐的量子应用系统 [13, 43 – 48]。此外,虽然控制原子的初始空间配置已经是一种强大的工具,但现在还可以在保持量子比特相干性的同时移动原子 [49]。这种高度的控制,在空间和时间上,光镊阵列是近期实验中实现 TFIM 码的绝佳平台。本文的其余部分安排如下:我们将在第 2 部分介绍 TFIM 码。在第 3 部分中,我们描述了传统的基于综合征的量子纠错,并展示了 TFIM 码如何在存在 Z 误差的情况下恢复重复码的更传统现象(在我们的基础上),并且还可以通过纠正 X 误差超越它。我们在第 4 部分给出了数值证据,证明 TFIM 码可以直接用于生成更高深度的码。第 5 部分描述了在超冷原子实验中实现 TFIM 码的可行性。
/ L / Argyris,J.H.,Warnhe,E.P。和Willam,K.J。,“根据有限元素的方法计算固体建筑物中的温度和水分场”,德国钢混凝土委员会,系列,第278期(1977)。
新沉积的介电材料的质量控制是 nanoTDDB 使用的另一个例子。具体来说,当使用原子层沉积 (ALD) 制备薄氧化膜时,需要对该过程进行微调以产生可重复的结果。这里用 ALD 制备二氧化硅膜,并用椭圆偏振法测量其厚度。由于在晶圆的不同位置观察到一些膜厚度变化,因此使用 Jupiter XR AFM 进行 nanoTDDB 测量以测量膜的电性能。使用 AFM 软件中编程的自动程序在晶圆的各个位置进行测量。
摘要:提出并评估了一种超低水平光检测模块——时间相关光子计数器,用于荧光分析。时间相关光子计数器采用硅光电倍增管作为光子计数传感器,结合泊松统计算法和双时间窗技术,可以准确计数光子数。时间相关光子计数器与时间相关单光子计数技术兼容,可以记录非常微弱的光信号的到达时间。利用这种低成本、紧凑的仪器分析了异硫氰酸荧光素的强度和寿命,获得了16 pg/ml的检测限,线性动态范围从2.86 pg/ml到0.5 µ g/ml,测得异硫氰酸荧光素的寿命为3.758 ns,与先进的商用荧光分析仪的结果一致。时间相关的光子计数器可能在即时诊断等应用中很有用。
参考文献 1. Al S.史建杰。 / 年代。 Al-Dasht,2006,80。 2. V g V.V.S y y。第 2 期。/ V.V. V.g.-M.,1947.-592。 3. 是。第 1 卷。1985 年星期一。348。 4. 是。第 2 卷。1986 年星期一。372。 5. 吉。是谁? – 1963 年星期一。-256。 6. Z h j 。问2()。 —1970 年,星期一—267. 7. 生病了 M.我的天啊。 Q 1 / M.I. ll.-D sh,1971.-175。 8. 我 l 我。 Z h j / I.I l. —1971 年,星期一—87. 9. R Sh。 h j (p p ) / Sh. R. —1977 年,星期一。— 187. 10. R h J l l. H h.-D sh,1958.-396。 11. S A i.K ll 或 。第3卷,-D sh,1962.-446。 12. S A i.K ll 或 。第 2 卷,-Sl,1960 年 - 443。 13. S A i.K ll 或 。第 6 卷,-Sl,1954 年 - 425。 14. S Ul g .S h j . –S l.- 360. 15. J l l I i。 D h B h .-D sh, 1984.-432。 16. J l l I i。 D h sh。 -D ш, 1988.-423。 17. J l l I i。 T x V jg。 –Dsh,1989.-336。
摘要 — 电迁移 (EM) 一直被认为是后端互连的可靠性威胁因素。自旋转移力矩磁性 RAM (STT-MRAM) 是一种新兴的非易失性存储器,近年来备受关注。然而,相对较大的工作电流幅度是这项技术的一大挑战,因此,EM 可能是一个潜在的可靠性问题,即使对于这种存储器的信号线也是如此。工作负载感知的 EM 建模需要捕获存储器信号线中随时间变化的电流密度,并能够预测 EM 现象对互连整个生命周期的影响。在这项工作中,我们提出了一些方法,可以在各种实际工作负载下有效地模拟典型 STT-MRAM 阵列中与工作负载相关的 EM 引起的平均故障时间 (MTTF)。这允许执行设计空间探索以共同优化可靠性和其他设计指标。
股票投资建议对于指导投资决策和管理投资量至关重要。最近的研究表明,时间相关模型(TRM)的潜力以产生过多的投资回报。然而,在完整的金融生态系统中,当前的TRM遭受了低信噪比(SNR)(SNR)的固有时间偏见,以及利用不适当的关系倾向和传播机制所引起的关系偏见。此外,分布在宏市场场景后面转移,使基础I.I.D.假设并限制TRM的概括能力。在本文中,我们先驱对上述问题对时间相关模式的有效学习的影响,并提出一种自动偏见的时间关系模型(ADB-TRM)对股票推荐。具体而言,ADB-TRM由三个主要成分组成,即(i)元学习的雅典形成了一个双阶段训练过程,内部部分可以缓解时间依赖性偏置和外部meta-learnernernernernernernernernernernernernernernernerner的分布,(II)自动抗逆向型的型号,(ii)自动化的型号的型模型,以适应性的型号的型模型,以适应性型号的型号,并介绍了对逆向型号的型号。对手培训和(iii)全球局部互动有助于从本地和全球分配的角度寻求相对不变的库存嵌入,以减轻分歧转移。在不同股票市场的三个数据集上进行的实验表明,ADB-TRM在累积和风险调整后的收益方面占28.41%和9.53%的最新技术。
是开发改进的预测模型的重要组成部分。由于目前全世界有大量关于聚合物和复合材料中时间相关和非线性效应的研究活动,因此有必要描述和评估最近的发展及其实际意义,并找出尚未解决的重要基本问题。出于这些原因,聚合物和复合材料这两个相关学科在“聚合物和复合材料中时间相关和非线性效应”研讨会上汇集在一起。本次研讨会的主要目标之一是联合这两个学科的专家,推动聚合物复合材料这一重要领域的研究。
摘要:时间相关单光子计数 (TCSPC) 用于获取单光子雪崩二极管产生的飞行时间 (TOF) 信息。由于每个直方图的测量值受限且存在高背景光,因此很难在统计直方图中获得 TOF 信息。为了提高这些条件下的稳健性,将机器学习的概念应用于统计直方图。使用我们介绍的多峰提取方法,然后进行基于神经网络的多峰分析,可以将分析和资源集中在直方图中的少量关键信息上。评估多个可能的 TOF 位置并分配相关的软决策。与使用传统数字处理的情况相比,所提出的方法在恶劣条件下分配 TOF 的粗略位置 (± 5 %) 时具有更高的稳健性。因此,它可以用于提高系统的稳健性,尤其是在高背景光的情况下。