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侧向双极PNP晶体管的设计和制造...
图1所示的垂直NPN设备制造的标准过程始于P类型基板。基板在将制造NPN设备设备的区域中植入N型掺杂剂（例如砷）。该植入物被称为埋藏层，因为下一步是N型硅的外延生长。掩埋层的板电阻远低于外延层的电阻。AR分离扩散是用诸如硼的P Tyne掺杂剂进行的。这会产生由P型隔离所包围的N型材料的电隔离岛。是这些N型区域，它们是侧向NPN设备的收集器。直接在这些区域的下方将是先前讨论的埋藏层。掩埋层通过为电流流动创造低电阻路径来降低收集器电阻。这是产生所需的电气设备特性所需的。进入N型岛群体被扩散为P型硼基。当将N型掺杂剂（如磷）扩散到碱基中时，发射极会形成。垂直NPN结构现在很明显。
电阻偶极加速器的比较分析... -IRIS
摘要 - 这项工作着重于在国际Muon Collider合作（IMCC）框架内研究的MUON对撞机加速器的电阻偶极子磁铁的设计以及欧盟（Mucol Pro-gram）的参与。设计规格要求这些偶极子被列为非常快速的坡道，坡道时间在1 ms到10 ms的范围内。这反过来又导致需要非常高的功率，以数十GW的顺序为需要实现的快速循环同步性（RC）链。对于磁铁设计，考虑了三种几何配置，并在这项研究中进行了比较，即沙漏磁铁（以前在美国Muon Collider设计研究中考虑），窗框磁铁和H型磁铁。进行了优化程序，以最大程度地减少磁铁中存储的能量，以降低快速坡道期间的能量。根据总存储能量，运营量周期中的总损失和现场质量，比较了本文中三种考虑的配置的结果。由于低储存能量和低损耗，H型磁铁被识别为适合配置。
海军气垫船上的气体钨极电弧焊接
位于佛罗里达州迈阿密的美国焊接学会 (AWS) 最近与贸易展和会议制作公司 Trade Show Consulting (TSC) 达成协议，收购拉丁美洲最大的焊接贸易展 Weldmex。AWS 将保留 Weldmex 的主要所有权，并以新名称 AWS Weldmex 承担组织、推广、制作和管理 Weldmex 的权利。TSC 将继续为展会的制作、营销和管理提供支持服务。“我们非常高兴加入墨西哥首屈一指的焊接活动，并将 AWS 进一步拓展到拉丁美洲市场，”AWS 执行董事 Ray Shook 说道。“墨西哥的焊接和制造行业经历了令人瞩目的增长，该国仍然是北美的重要贸易伙伴。我们相信 AWS Weldmex 将扩大 AWS 的覆盖范围，并为我们的 50,000 多名会员提供令人兴奋的额外福利和机会。”今年，AWS Weldmex 计划于 1 月 29 日至 31 日在墨西哥城新的 Centro Banamex 举行。
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
极盗车神电影中婴儿的性格特征
本研究旨在分析埃德加·赖特执导的《极盗车神》电影中 Baby 所代表的性格特征。近几个世纪以来，人物塑造研究蓬勃发展。电影中的性格特征研究是发展和识别电影中某些角色的一种有趣方式。本研究采用描述性定性方法。本研究的数据是 Baby 的对话和陈述，与电影剧本中的性格特征理论有关。数据来源是《极盗车神》电影。通过描述言语和陈述的言外行为研究结果分析了大五理论的结果。研究发现，电影中 Baby 代表了五种性格特征。它们是 (1) 内向/外向、(2) 神经质、(3) 尽责、(4) 开放性经验和 (5) 随和性。本研究还证明，人类，尤其是青少年，总是会发生冲突。有一段时间，一个人选择内向，而第二天他或她选择外向。人物塑造学习被认为是一种区分电影或现实生活中人物的工具。关键词：人格特质、言语行为、言外行为。
激子-极化子材料：利用半导体的多样性
1 里昂大学，克劳德·贝尔纳里昂第一大学，法国国家科研中心，Institut Lumi`ere Mati`ere，F-69622，里昂，法国 2 纳米科学与纳米技术中心，法国国家科研中心，巴黎第十一大学，巴黎萨克雷大学，91120 Palaiseau，法国 3 巴黎萨克雷大学，ENS Paris-Saclay，CentraleSup´elec，CNRS，LuMIn，UMR9024，Gif-sur-Yvette 91190，法国 4 纽约城市学院物理系，纽约，纽约州，美国 5 纽约城市大学物理系，研究生中心，纽约，纽约州，美国 6 里昂大学，里昂中央理工学院，里昂国立应用科学学院，克劳德·贝尔纳里昂第一大学，CPE Lyon， CNRS，INL，UMR5270，Ecully 69130，法国 7 圣安德鲁斯大学物理与天文学院，圣安德鲁斯，KY16 9SS，英国 8 图卢兹大学，INSA-CNRS-UPS，LPCNO，135 Av. Rangueil，31077 图卢兹，法国（日期：2025 年 1 月 13 日）
纳米压印激子极化子超表面
摘要：激子极化子代表了一种有前途的平台，它结合了光子和电子系统的优势，可用于未来的光电设备。然而，由于制造方法成本高、复杂，与为微电子开发的成熟 CMOS 技术不兼容，因此它们的应用目前仅限于实验室研究。在这项工作中，我们开发了一种创新、低成本且与 CMOS 兼容的方法来制造大表面极化子设备。这是通过热纳米压印直接图案化卤化物钙钛矿薄膜来实现的。结果，我们在室温下观察到厘米级上质量因子 Q ≈ 300 的高度均匀的极化子模式。令人印象深刻的是，该工艺提供了高可重复性和保真度，因为同一个模具可以重复使用 10 次以上，以将钙钛矿层压印在不同类型的基板上。我们的研究结果可以为生产在室温下运行的低成本集成极化子设备铺平道路。
海军气垫船上的气体钨极电弧焊接
位于佛罗里达州迈阿密的美国焊接学会 (AWS) 最近与贸易展和会议制作公司 Trade Show Consulting (TSC) 达成协议，收购拉丁美洲最大的焊接贸易展 Weldmex。AWS 将保留 Weldmex 的主要所有权，并以新名称 AWS Weldmex 承担组织、推广、制作和管理 Weldmex 的权利。TSC 将继续为展会的制作、营销和管理提供支持服务。“我们非常高兴加入墨西哥首屈一指的焊接活动，并将 AWS 进一步拓展到拉丁美洲市场，”AWS 执行董事 Ray Shook 说道。“墨西哥的焊接和制造行业经历了令人瞩目的增长，该国仍然是北美的重要贸易伙伴。我们相信 AWS Weldmex 将扩大 AWS 的覆盖范围，并为我们的 50,000 多名会员提供令人兴奋的额外福利和机会。”今年，AWS Weldmex 计划于 1 月 29 日至 31 日在墨西哥城新的 Centro Banamex 举行。
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25