TEM 样品架边缘的 1 厘米 × 2 厘米空间内装有 Naoyuki Kawamoto 开发的纳米热电偶(即微型温度计)。该装置的边缘有一个显眼的水母形铜部件,一对探针从该部件延伸而出。探针(附在铜部件底部的球上)可以在三个维度上移动,精度为十亿分之一米。Kawamoto 将探针尖端与样品表面的纳米级区域接触,并通过施加从 TEM 源发射的电子束对其进行加热。利用该技术,他在 2018 年首次成功直接观察了复合材料内的导热路径。随后,他在 2023 年开发了一种将脉冲电子束应用于样本的技术,从而能够定期加热并成功测量样本内热波传播的幅度和速度。*其中一个探针由铬镍合金(镍铬合金)制成,而另一个探针由康铜(铜镍合金)制成,其尖端经过电解抛光,直径细至 8 纳米。纳米热电偶的温度分辨率为 10 -2 K。(实际尺寸)
MURR 有六种类型的实验设施,旨在提供这些服务:中心测试孔(通量阱);气动管道系统;石墨反射器区域;散装池区域;(六个)光束端口;和热柱。前四种类型为在反应堆堆芯组件的不同区域放置样品架或载体提供区域,以进行材料辐照。一些材料辐照服务包括硅的嬗变掺杂、用于开发放射性药物和其他生命科学研究的同位素生产以及中子活化分析。六个光束端口将中子辐射从反应堆堆芯引导到实验设备,主要用于通过中子散射确定固体和液体的结构。石墨热柱设计用于进行中子射线照相和大样品辐照。
Neel 研究所拥有 Jeol NEOARM,它在光谱学、电场和磁场测量方面提供了卓越的可能性,可以与不同的原位选项相结合(加热、冷却和电偏置已经可用),实验室希望发展其在光谱学以及原位/操作分析(催化、生长、液体介质、电池运行等)方面的活动。NEOARM 配备了冷 FEG,能够在 60 至 200 kV 的电压下运行,配备了 STEM 像差校正器、多个 STEM 探测器,包括一个用于差分相衬的 8 段探测器、广角 EDX 探测器、用于电子能量损失光谱的 GIF 连续光谱仪、用于电子全息的双棱镜、Gatan Oneview 相机、使用 Medipix 3 技术的直接电子探测器、电子束感应电流以及电子束进动。提供多个样品架,可进行断层扫描、倾斜旋转、在氮气和氦气(正在开发中)温度下冷却,以及加热和原位电偏置。
Low vibration level and the positional drift Temperature range from ~3.5 K to 475 K (optional: 8 K to 650 K) (depending on probes) Works either with liquid nitrogen or liquid helium Helium consumption less than 1 L/h Accommodates up to 2 in (51 mm) diameter wafers (optional: up to 8 in [203 mm]) Up to seven cooled, easily interchangeable, micro-manipulated probe手臂电气测量从DC到67 GHz的各种廉价的LF探针尖端易于替换非常低的三轴探针泄漏电流,仅几个FA非接触式,无损坏的开尔文探针多尖端探针通过单台和多模式Fiber formations进行了启用,以示例型号的启用型号,以示例型号探测器,并探测型号的多模式探测器。微型真空室从杂物盒中传递真空下的样品到探测站非常光滑的X-Y-Z旅行阶段,用于所有单镜系统组件的可选移动样品架系统自定义选项
读数 七段,3 1/2 位数字,发光二极管显示 波长范围 激发 340-750,使用石英卤素灯(使用汞灯时为 254、313 nm) 发射 340-650(使用红色敏感 PMT 时为 340-750 nm) 波长选择 可互换,外部插入过滤器 灵敏度 10 皮克/毫升(异硫氰酸荧光素)15 万亿分之一(二水硫酸奎宁,QSO 4 ) 浓度范围 0-1999 分辨率 满量程的 0.05% 荧光线性通常在 1% 以内。检测器 光电倍增管 标准样品架 可容纳 12 x 75 毫米圆形比色皿,并提供附件选项。温度范围 工作时 10 至 38 ° C,存储时 0 至 75 ° C。湿度 <95% 输出 0 - 200 mVDC,荧光线性 电源要求 100、120、220、240 VAC,50/60 Hz,可切换,75 瓦 尺寸 宽 39 厘米 (15 3/8") x 深 29 厘米 (11 1/2") x 高 13 厘米 (4 1/2") 重量 型号 450-000、450-003:7.3 千克 (16 磅。),型号 450-005:8.2 千克 (18 磅)。
“电子显微镜视角下创新材料高级表征”初级教授职位 Institut Neel CNRS,法国格勒诺布尔 CNRS 预计将在 2024 年上半年开放一个初级教授职位,在 4 个最近获得最先进透射电子显微镜 (TEM) 的实验室之间的竞争中,包括 Institut Néel。因此,Institut Néel 正在寻找一位优秀且积极主动的候选人来加强对 TEM 高级表征的研究活动。Institut Neel 拥有一个 Jeol NEOARM,它在光谱、电场和磁场测量方面提供了特殊的可能性,可以与不同的原位选项相结合(加热、冷却和电偏置已经可用),实验室希望发展其在光谱方面的活动,同时也发展原位/原位分析(催化、生长、液体介质、电池运行等)。 NEOARM 配备了冷 FEG,可在 60 至 200 kV 的电压下运行,并配备了 STEM 像差校正器、多个 STEM 探测器(包括用于差分相衬的 8 段探测器、广角 EDX 探测器、用于电子能量损失光谱的 GIF 连续光谱仪、用于电子全息照相的双棱镜、Gatan Oneview 相机、使用 Medipix 3 技术的直接电子探测器、电子束感应电流以及电子束进动。提供多个样品架,可进行断层扫描、倾斜旋转、在氮气和氦气(正在开发中)温度下冷却,以及加热和原位电偏置。
目录 作者前言 1 1.简介 2 2.可重入(或 4π)电离室的测量原理 4 2.1 源和电离室的测量几何形状 5 2.2 电离过程和电荷收集 6 2.3 电离电流 7 2.4 电离室校准以进行活度测量 8 2.5 相对活度测量和参考源 10 2.6 Ra-226 源 12 3.电离室的构造 14 3.1 4πγ 电离室 14 3.2 特殊类型的电离室及其应用 15 3.2.1 大气压下未密封的电离室 15 3.2.2 β 粒子电离室 16 3.2.3 α粒子电离室 17 3.2.4 放射性核素校准器 17 3.2.5 电离室配件:屏蔽、样品架、样品更换器、系统控制、数据采集和数据分析 19 4.电离电流测量技术 20 4.1 静电计皮安表 21 4.2 反馈电路和电流积分器 23 4.3 通过高值电阻上的电压降进行测量 25 4.4 带补偿的汤森感应平衡 26 5.电离电流测量中的系统效应 28 5.1 电离和电荷收集引起的波动 29 5.2 电子参数的变化 30 5.3 饱和损失效应 30 5.4 响应活动的线性 31 6. 电离电流值的校正 33 6.1背景 33 6.2 衰变校正 34 6.3 样品尺寸和材料的变化 35 6.4 样品位置的变化 37 6.5 不同溶液体积源的填充校正 38 6.6 放射性核素杂质 39 6.6.1 使用半导体探测器测量的活度比进行校正 40 6.6.2 利用不同半衰期对放射性核素混合物进行校正的方法 42 6.6.3 放射性核素杂质校正的衰减方法 43