XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System测试报告
测试报告
1.1 待测设备 (EUT) 的产品描述 ....................................................................................................................... 4 1.2 测试标准 ....................................................................................................................................................... 5 1.3 测试方法 ................................................................................................................................................................. 5 1.4 测试设施 ................................................................................................................................................................. 5 1.5 EUT 设置和操作模式 ...................................................................................................................................... 6 1.6 EMS 性能标准 .................................................................................................................................. 7 1.7 测量不确定度 .................................................................................................................................. 8 1.8 测试设备列表和详细信息 ................................................................................................................................. 9
测试报告
除非另有说明，否则该测试报告中显示的结果仅参考所测试的样品，仅保留该样品90天。除非另有说明，此报告结果仅对测试之样品负责，同时此样品仅保留，同时此样品仅保留，同时此样品仅保留，不可部份复制。，该文档由公司发行，其一般条件受其服务印刷的覆盖条件的约束，可根据要求获得或可访问，请在http://www.sgs.com.com.tw/terms.tw/terms-and-comditions上访问，并且根据电子格式文档，以电子格式的条件和条件，以电子格式，以电子格式，以电子文档为例，在电子格式中处于电子格式，在电子格式中处于电子格式，在电子格式文档中处于电子格式，在电子格式文档中处于电子格式，请处于电子格式文档，请在电子格式文档中处于电子格式文档，在电子格式文档中处于电子格式文档，请处于电子格式文档，在电子格式文档中处于电子格式文档，请处于电子格式文档。 http://www.sgs.com.tw/terms-and-conditions。注意力限制了责任，赔偿和管辖权问题。建议本文档的任何持有人在本文中包含的信息仅在干预时就反映了公司的发现，并且在客户指示的范围内（如果有）。公司的唯一责任是对客户的责任，本文件不会免除交易的各方，而无法行使交易文件下的所有权利和义务。未经公司事先书面批准，除非全额复制本文档。任何未经授权的更改，伪造或伪造本文件的外观都是违法的，罪犯可能会在法律的最大范围内被起诉。
Juniper® 验证设计 JVD 测试报告摘要：采用 Juniper Apstra、NVIDIA GPU 和 WEKA 存储的 AI 数据中心网络
• DLB 不使用端口 BW 来计算链路质量。相反，链路质量基于最近通过每个 ECMP 链路传输的流量，以及每个 ECMP 链路上排队等待传输的流量。这可能导致流量被分配到较低 BW 的链路而不是较高 BW 的链路，从而导致拥塞。此外，如果链路质量下降，已分配给链路的流量将不会被重新分配，除非该链路暂停的时间长于不活动间隔。可以调整端口质量指标和不活动间隔以克服这种情况；请参阅自定义 DLB 的出口端口链路质量指标。此外，请考虑实施反应路径重新平衡。
EdgeCortix SAKURA-I 机器学习、PCIe 加速器 SEE 重离子测试报告
• 技术出版物。已完成的研究或研究的重要阶段的报告，介绍 NASA 计划的结果，包括大量数据或理论分析。包括被认为具有持续参考价值的重要科学和技术数据和信息的汇编。NASA 的同行评审的正式专业论文的对应部分，但对手稿长度和图形演示范围的限制不那么严格。 • 技术备忘录。初步或具有专门意义的科学和技术发现，例如快速发布报告、工作文件和包含最少注释的参考书目。不包含广泛的分析。 • 承包商报告。NASA 赞助的承包商和受助人的科学和技术发现。
SEMI F47 电压骤降抗扰度测试报告...
a) 环境温度：控制测量表明，环境温度对穿越时间测试结果的影响很小。根据用于降低输入浪涌电流的拓扑结构，环境温度会对电压骤降测试后出现的峰值电流产生重大影响。因此，测试是在 25°C 和 +60°C 的环境温度下进行的。假设半导体加工设备从不在低于 +25°C 的温度下使用。虽然电源本身规定温度低至 -40°C，但不会在如此低的温度下进行测试。
半F47电压SAG免疫测试报告...
a）环境温度：控制测量表明，环境温度在乘车时间测试结果中只有很小的影响。取决于减少输入电流的使用拓扑，环境温度在SAG测试后的峰值电流中可能产生重大影响。因此，在25°C和 +60°C的环境温度下进行测试。假定在较低的温度下，半导体处理设备从不使用 +25°C。尽管将电源本身指定为-40°C，但是在这种低温下进行测试。