7.2 温度测试设置 在热测试期间,使用 4 英寸铝制管道将来自腔室的气流引导到 UUT 上。这样可以在热阶跃应力期间实现更好的温度稳定性,并在快速热转换过程中实现更快的升温速率。UUT 使用 ½ 英寸支架安装在 ½ 英寸板上,该板用螺栓固定在振动台上。将热电偶连接到 UUT 以监测产品在不同位置的温度。其中两个电路板连接了电压监测线以监测 3.3VDC。热电偶放置位置和电压监测线的位置位于下表中。说明温度测试设置的图片位于附录 A 中。
HALT 过程中发现的故障模式和弱点的要点:热步进应力:• 冷步进应力 - 在 -60°C 时,4 个测试项目中的 3 个的闪存中出现损坏的数据。• 热步进应力 - 在 +120°C 时,所有四个 UUT 的串行和以太网通信均丢失。当时注意到 UUTA 正在自动重启。其他 UUT 可能也在重启,但没有注意到。快速热转换:• 此测试期间未发现任何问题。振动步进应力:• 在 10 Grms 和 20 Grms 时,UUT 有时会自行重启。这可能是由于振动影响了 PCB 上的电源连接器。(第 3 天的组合环境测试使用焊接电源连接到 UUT 代替电源连接器。请参阅第 9.6 段中的结果。)• 在 30 Grms 及更高时,发现与 USB 通信相关的故障。 • 在 40 Grms 及更高水平时,UUT 开始自行重启。还看到一次以太网测试失败。组合环境:• 最初,在低振动水平下,UUT 在 PCB/PS 连接器接口处具有间歇性电源连接。移除连接器并将 PS 线直接焊接到 PCB 引脚上。这解决了该问题。• 在前两个循环中,温度上限为 +110°C,但在该水平下,尝试与 UUT 通信时出现许多问题。当温度降回 +100°C 时,通信重新建立。• 在温度循环的冷部分,振动时,USB 测试出现问题。USB 连接器无法处理振动 - 这是业界已知的问题。
范围:Cho-Form 5541 垫片经受了一系列环境应力,以模拟使用寿命老化和暴露条件。在环境调节之前和之后测量了垫片的电气性能和屏蔽效能。选择这些条件作为在选定条件下验证垫片性能的手段,以模拟具有 15 年使用寿命的应用。参考针对电信基础设施设备的 ETSI 和 Tellcordia 规范选择了特定条件。摘要:Cho-Form 5541 EMI 垫片材料的随机生产样品经受了各种环境条件并进行了电气性能测试。这些测试包括目视检查、屏蔽效能和电阻测量。在每个应力条件、85°C 老化、85°C 85%RH、城市燃气暴露和多次偏转后测量的屏蔽效能表明,在 100 MHz 至 16 GHz 频率范围内,最小衰减为 70dB。在任何情况下,垫圈或配合法兰(6061T6 未处理铝)均未出现视觉损坏。电化学腐蚀测试总结在单独的报告中。