测试和评估总体规划 (TEMP) 和 Block 3F 联合测试计划 (JTP) 中的累积测试内容,该计划在签署这些文件时完全同意这些内容是必需的。该计划计划“隔离”计划由测试中心飞行的 JTP 累积测试点,而是直接跳到最近设计的复杂毕业级任务效能风险降低测试点,以快速抽样完整的 Block 3F 性能。然后,如果任何 Block 3F 功能在复杂测试点期间似乎正常工作,该计划将删除适用于这些功能的底层累积测试点并将其指定为“不再需要”。但是,该计划必须确保替代数据适用,并在删除任何底层累积测试点之前提供足够的统计信心,证明测试点目标已经得到满足。虽然这种方法可以提供对 Block 3F 功能的快速抽样评估,但存在很大的风险。多个最新的飞行测试软件版本可能会阻止程序使用旧版本软件的数据来计算基线测试点删除,因为它可能不再代表 Block 3F。西部试验场的可用性有限且成本高昂,再加上在该靶场完成的测试任务的重飞率很高,使得程序难以有效地进行这种测试。最后,最复杂的能力
MINI-MESS ® 测试点的操作、运行特性和质量已经过无数次验证,但“放心测试”也代表着研究和开发。为了向客户提供更多创新产品,自动化和机器人领域的新需求引发了下一次发展。我们的目标是避免使用单独的传感器测量压力和温度。相反,我们希望使用一个通用的测试点。
作为遥测 (TM) 监控屏幕的一部分,创建了表格的自动版本。自动版本考虑了飞机的实时重量和基于当前燃油流量预测的未来重量。这允许飞行测试工程师 (FTE) 计算飞行事件期间即将到来的测试点。图 5 中可以看到此类预测工具的一个示例。目标马赫数和 C L 的值、所需的 C L 增量以及测试点执行时间 (Delta Time) 将输入到绿色框中。根据这些输入,该工具将计算每个 C L 增量的高度和空速。增量 C L 值提供了潜在的测试条件和相关的马赫数误差。随后将根据所需马赫数和 C L 组合可用的最低马赫数误差(选定的行以蓝色突出显示)确定即将到来的测试点。FTE 将确保测试速度在飞机包络线内,如最小速度和最大速度列所示。随后 FTE 将向测试指挥 (TC) 提供四舍五入高度框和测试速度框中的值,以供下一个测试点使用。
系统设计和开发阶段按计划于 2018 年启动。Block 2B 将比计划晚完成,剩余的缺陷将影响作战单位;这些缺陷的修复将推迟到 Block 3i 和 3F。• 在 2013 财年年度报告中,DOT&E 估计该项目将在 2015 年 5 月至 11 月之间完成 Block 2B 测试(晚 7 至 13 个月),具体取决于经历的增长水平,同时假设该项目将继续测试点生产力与前 12 个月相同。自 2013 年 10 月底以来,该项目已做出多项调整,以减少 2013 财年报告中估计的延迟: - 2014 年 2 月,在最终确定 2014 年度计划时,该项目将早期任务系统区块(区块 1A、1B 和 2A)计划中的测试点与区块 2B 测试计划中的测试点合并,并决定仅考虑区块 2B 舰队发布所需的测试点,从而消除了大约 840 个点。所有这些点都计划在 DOT&E 报告中完成。这一减少相当于大约四个月的测试时间。
C7 1 330µF 20% 50V 铝电解电容器 (10mm) PANASONIC EEU-EB1H331 D1 1 TVS 二极管,600W (SMB) ST MICROELECTRONICS SM6T36CA D2 1 功率肖特基二极管,60V,1A (SMA) ST MICROELECTRONICS STPS1L60A D3 1 功率肖特基二极管,60V,1A (SMA) DIODES INCORPORATED B160-13-F J1 1 USB B 型连接器 FCI CONNECT 61729-0010BLF J2, J3 2 2 针绿色 PC 接线端子 DEGSON ELECTRONICS DG128-5.0-02P-14 JU1 1 2x4 双排接头,中心距 0.1 英寸,切割以适合 SULLINS ELECTRONICS PBC04DAAN JU3-JU5、JU8、JU9、JU13 6 2 针单排接头,中心距 0.1 英寸,切割以适合 MOLEX 22-28-4023 JU6、JU12、JU14、JU15 4 3 针单排接头,中心距 0.1 英寸,切割以适合 MOLEX 22-28-4033 LED1 1 绿色 LED (1206) KINGBRIGHT APT3216SGC R1 1 1K OHM 1% 电阻 (0805) - R2 1 10K OHM 1% 电阻 (0805) - R6 1 40.2K OHM 1% 电阻 (0805) - R7 1 12.1K OHM 1% 电阻 (0805) - R8 1 6.2K OHM 1% 电阻 (0805) - R9、R11 2 2.2M OHM 5% 电阻 (0805) - R13、R14、R17 3 100K OHM 1% 电阻 (0805) - R15 1 4.7K OHM 1% 电阻 (0805) - R16 1 50K OHM 微调电位器 BOURNS 3296W-1-503LF TP1 1 白色测试点 KEYSTONE 5002 TP2、TP4、TP5、TP7 4 黑色测试点 KEYSTONE 5001 TP3、TP6、TP8 3 红色测试点 KEYSTONE 5000 TP9 1 紫色测试点 KEYSTONE 5119 TP10 1 绿色测试点 KEYSTONE 5116 TP11 1 灰色测试点 KEYSTONE 5118 U1 1 1A 可调节高精度过流和过压保护器 (16 引脚 TQFN 3mm X 3mm) MAX17523ATE+ C8 0 未安装;330µF 20% 50V 铝电解电容器 (10mm) PANASONIC EEU-EB1H331 R10、R12 0 未安装;1% 电阻器 (0805) - PCB 1 PCB:MAX17523 评估套件 -
N. Farchmin、P. Trunschke、M. Eigel、S. Heidenreich 15:50 通过线性回归方法将抛物线与测试点的两个相关坐标进行匹配 J.Puchalski、ZLWarsza
� 要求参与的实验室在刻度盘的四个刻度标记处校准指定的比重计,并为每个比重计计算 20°C 下的校正值 C。预先说明每个比重计所用液体的测试点和表面张力值。
1.7 性能飞行测试条件和飞行员技术 1.11 1.7.1 姿态飞行 1.11 1.7.2 配平镜头 1.12 1.7.3 测试条件 1.12 1.7.4 稳定平衡条件 1.13 1.7.5 不稳定平衡条件 1.13 1.7.6 非平衡测试点 1.14 1.7.7 能量管理 1.15
1.7 性能飞行测试条件和飞行员技术 1.11 1.7.1 姿态飞行 1.11 1.7.2 配平镜头 1.12 1.7.3 测试条件 1.12 1.7.4 稳定平衡条件 1.13 1.7.5 不稳定平衡条件 1.13 1.7.6 非平衡测试点 1.14 1.7.7 能量管理 1.15
用于在SGD中绘制随机批次。我们的符号还允许确定性算法,因为A可以自由忽略输入参数ξ而仅取决于数据。有很多方法可以定义学习算法的稳定性。如Shalev-Shwartz等人所述。 (2010),稳定性的每一个定义都量化了训练集D的输出对小变化的敏感性,但它们都定义了“输出的敏感性”和“训练集中的小变化”。 我们介绍了两个定义稳定性的主要结果,并将结果扩展到第5.3节中的许多相关概念。 最强的可能性之一是,对于所有数据集和所有测试点,每个预测都不对删除任何单个观察结果不敏感。 以下定义与统一的预测稳定性密切相关(例如,参见Dwork和Feldman,2018年)。如Shalev-Shwartz等人所述。(2010),稳定性的每一个定义都量化了训练集D的输出对小变化的敏感性,但它们都定义了“输出的敏感性”和“训练集中的小变化”。我们介绍了两个定义稳定性的主要结果,并将结果扩展到第5.3节中的许多相关概念。最强的可能性之一是,对于所有数据集和所有测试点,每个预测都不对删除任何单个观察结果不敏感。以下定义与统一的预测稳定性密切相关(例如,参见Dwork和Feldman,2018年)。