机身数字孪生螺旋 1 的三个主要演示目标如下:(1) 演示集成的“CBM+SI”流程,作为当前飞机结构完整性计划 (ASIP) IAT 计划流程的潜在替代方案。演示将包括使用情况估计、选定的“热点” SHM 以及经常更新的损伤容限和风险分析。将使用真实美国空军飞机结构模块的两次全尺寸疲劳试验代替飞行试验。将同时进行“常规” IAT 计划方法和相关的全尺寸疲劳试验,以方便对这两种方法进行比较。(2) 增强内部在 CBM+SI 技术重点领域和 ASIP 工程流程方面的专业知识。实现这一目标将使工程师能够看到他们的技术在 ASIP 流程中的位置,并了解多个学科如何相互作用。(3) 创建持久的分析集成框架和测试设置程序,以评估成熟的其他分析和监控技术。这将提供 CBM+SI“测试平台能力”和第一代机身数字孪生。
2-1:常规实验的测试目标和结构模型 .............................................................................. 13 2-2:RTHS 测试活动目标和结构模型摘要 .............................................................................. 15 2-3:FWT 常规实验的比例因子 ............................................................................................ 17 2-4:常规和 RTHS 实验的测试设置 ...................................................................................... 21 2-5:常规和 RTHS 实验中的仪器 ............................................................................................. 27 2-6:FWT 的常规和 RTHS 实验室实验摘要 ...................................................................... 31 2-7:选定的海上实验摘要 ............................................................................................................. 32 3-1:vRTHS 和数值建模测试或模拟的文献综述。 .................. 39 3-2: FWT 的 RTHS 实验总结 .............................................................................. 40 3-3: MIT/TLP 平台和 5 MW NREL 风力涡轮机结构特性 (Matha, D., 2010) 47 3-4: TLP MIT/NREL FWT 的固有频率验证(参考) ............................................................. 51 3-5: 子结构方法......................................................................................................................... 54 3-6: 气动和流体动力学载荷工况 ............................................................................................. 60 3-7: 评估标准 res
摘要:低层建筑的风致屋顶压力通常在边界层风洞中测量。据记载,不同边界层风洞中缩小比例的建筑模型的压力统计数据差异很大。流动设施能力、模型设计和制造、仪器、测试设置和程序、特定的数据缩减方法以及研究人员的经验是影响风洞实验测量数据和结果的众多因素之一。考虑到上述变量列表,结果经常不同也就不足为奇了,因为每个变量都会带来潜在的误差源。为了确定从风洞测试中获得的压力统计数据中的驱动不确定性来源,使用 NIST 空气动力学数据库通过蒙特卡罗模拟执行详细的不确定性量化分析。这项工作具体展示了测量不确定性如何传递到风洞测试中感兴趣的数量。它还将提供对关键测量、不确定性来源的更好理解,并可能揭示压力统计结果之间存在差异的原因。
摘要 - 柔软,可拉伸的传感器,例如人工皮肤或触觉传感器,由于材料的依从性较低,对于众多软机器人应用而言,具有吸引力。导电聚合物是许多软传感器的必要组成部分,这项工作介绍了3D打印导电聚合物复合材料的机电表征。使用数字光处理(DLP)的3D打印机进行表征,将狗骨形样品打印3D。3D可打印的树脂由单体,交联,导电纳米填充剂和照相机组成。表征是在两个轨道中进行的。首先,研究了两个不同组成的效果,其次,探索了导电纳米纤维浓度的影响。交联,将碳纳米管(CNT)用作导电纳米填料。样品被打印3D并使用机电测试设置进行表征。为了展示3D打印软机器人技术的实用程序,由3D打印了由导电和非导电树脂组成的基于电容的操纵杆传感器。
已进行了可调电流限制范围的电路模拟,组件折衷,组件辐射测试和硬件面包板的几个迭代,以确定供应渠道配置,具有满足要求的潜力。这导致了Fehler章中概述的SPS架构!Verweisquelle Konnte Nicht Gefunden Werden。使用选定的组件,将体系结构转移到PCB设计中,即示意图和布局,如第3章进行了PCB制造和组装的三个迭代进行调试和测试。最终面包板用作SPS示范器进行性能和环境测试。实验室和环境测试。测试设置,结果和数据评估在第5章中显示。总而言之,已经实现了脱危活动的目标,并且已经证明了SPS概念的可行性。SPS模块将非常适合用于提供商业和潜在辐射敏感零件的应用。SPS设计已被制定以应对辐射效应。已经建立了有关SPS飞行模型的进一步发展步骤的明确计划。
技术进步,尤其是计算能力的持续增加以及高性能硬件的发展导致机器学习(ML)和增强学习(RL)的意义越来越大。人工智能(AI)的快速进步正在为各个领域的创新应用开放新的可能性 - 从机器人技术和自主控制到复杂过程的优化。该项目的目标是研究强化学习控制不稳定系统的潜力。将开发和训练一种无模型的RL算法,以有效地稳定系统。除了配置神经网络外,还将考虑各种RL算法和代理类型来确定最佳控制策略。将进行模拟和现实世界实验,以验证这些方法的实际适用性。该项目的一个关键方面是将基于RL的控制方法与经典控制理论的既定技术进行比较,例如线性二次调节器(LQR)和模型预测控制(MPC)。最终评估将基于相关的关键绩效指标(KPI),包括通过模拟和实验进行机电一体化实验室中的真实测试设置进行评估,包括收敛速度,控制质量,稳定性和概括能力。
在本文中,提出了由高模量碳纤维增强聚合物(CFRP)层压板增强的结构钢梁的剪切和弯曲行为。完全,在3分弯曲测试设置下测试了18个钢样本,包括6个不加强的梁作为对照样品和12个具有简单支撑的强化钢梁。使用键合系统加强所有标本。研究了不同参数的影响,包括钢梁的长度,样品的截面大小,CFRP层压板的数量以及CFRP层压板的位置。基于预期的故障模式,在张力法兰,压缩法兰和梁网的表面上实现了粘合的层压板。在测试的梁中观察到了弯曲,剪切和侧向屈曲失败的三种故障模式。这些实验的主要目标是评估负载能力,梁延展性和初始刚度的增强。结果表明,加强钢梁的产量载荷,最终负载能力和能量吸收分别提高了15%,29%和28%。最后,为了预测测试结果并比较实际和预测的阀门,进行了分析和数值研究。
摘要 —本文提出了一种基于云托管和边缘托管的分布式能源 (DER) 数字孪生 (DT) 实现分布式能源 (DER) 协调控制的新方法。随着可再生能源的大规模整合,DER 在支持电力系统频率调节方面发挥着越来越重要的作用。然而,由于 DER 的能力和特性存在显著差异,DER 的个体和不协调响应可能导致整体响应效率低下,并产生不良特征,例如响应缓慢、严重超调等。因此,DER 的协调对于确保理想的总体响应至关重要。传统的集中式或分布式方法的一个主要缺点是它们严重依赖实时通信。本文通过应用可在云中托管的 DT 来解决集中式控制方法和可在边缘托管的分布式方法的挑战,以最大限度地减少对实时通信的需求,同时能够实现 DER 之间的整体协调。使用真实的实时模拟测试设置验证了所提出的基于 DT 的协调控制,结果表明,基于 DT 的协调控制可以显著改善聚合 DER 的响应,从而在意外事件期间为电网提供有效支持。
提出的活动领域的概述:参见(单个事件效应)对COTS设备的测试和可靠性分析分析对在UCL Louvain-La-Neuve辐照的电子设备的长期可靠性(BE)活动领域将取决于对组件工程的基本知识的发展,产品保证原理以及对EEE EEE组合对EEE EEE的辐射效应的基本知识。 尤其是支持辐射测试运动的支持,包括开发测试设置和对EEE组件的随后数据分析,尤其是针对COTS设备的EEE组件,重点是在UCL Cyclone重离子设施中进行的SEE SEE SEE SEE SEE SEE进行,这是用于在不同类型的conconeration Evalence and Intrications consonic conconization and Conconization consications consications consications and Conticalization contications and Conconization的contications consications的表现。 对重型离子测试提交的COTS设备的可靠性评估:SEL(单个事件锁存)的影响,高电流事件和单个事件功能中断零件的长期可靠性。 最佳工业实践对使用脉冲激光测试的运作和开发,以模拟空间辐射对微电子设备的影响。 对标准化活动的贡献,从而改善了现有的单一事件效果测试指南和测试方法。提出的活动领域的概述:参见(单个事件效应)对COTS设备的测试和可靠性分析分析对在UCL Louvain-La-Neuve辐照的电子设备的长期可靠性(BE)活动领域将取决于对组件工程的基本知识的发展,产品保证原理以及对EEE EEE组合对EEE EEE的辐射效应的基本知识。尤其是支持辐射测试运动的支持,包括开发测试设置和对EEE组件的随后数据分析,尤其是针对COTS设备的EEE组件,重点是在UCL Cyclone重离子设施中进行的SEE SEE SEE SEE SEE SEE进行,这是用于在不同类型的conconeration Evalence and Intrications consonic conconization and Conconization consications consications consications and Conticalization contications and Conconization的contications consications的表现。对重型离子测试提交的COTS设备的可靠性评估:SEL(单个事件锁存)的影响,高电流事件和单个事件功能中断零件的长期可靠性。最佳工业实践对使用脉冲激光测试的运作和开发,以模拟空间辐射对微电子设备的影响。对标准化活动的贡献,从而改善了现有的单一事件效果测试指南和测试方法。
图 6-3a。用于验证 IRIG 时间码准确性的基于 PC 的测试设置。...................................... 6-12 图 7-1。单个 CAIS 总线配置。......................................................................... 7-2 图 7-2。分离 CAIS 总线配置。......................................................................... 7-2 图 7-3。配置检查流程图 (1/2)。............................................................. 7-4 图 7-4。配置检查流程图 (2 / 2)。......................................................... 7-5 图 B-1。热瞬态测试设备。............................................................................. B-2 图 B-2。底座。................................................................................................................ B-3 图 B-3。传感器固定装置支架。................................................................................ B-4 图 B-4。传感器固定装置(黄铜)。................................................................................ B-5 图 B-5。玻璃固定环。............................................................................................. B-6 图 B-6。传感器安装插头。............................................................................................. B-7 图 B-7。闪光灯滑块。............................................................................................. B-8 图 B-8。灯架(大)。......................................................................................... B-9 图 B-9。灯架(小)。.................................................................................... B-10 图 B-10。使用开槽旋转盘和相当于测量应用的热源对传感器进行瞬态热冲击测试的测试设置。.................... B-15 图 C-1。发射器 RF 包络。................................................................................. C-1 图 C-2。晶体探测器输出。.................................................................................... C-1 图 C-3。幅度调制。......................................................................................... C-2 图 D-1。测量值和计算值。...................................................................... D-2 图 E-1。GUI 控制窗口。......................................................................................... E-6 图 E-2。文件浏览器窗口。...................................................................................... E-6 图 E-3。对话框:载波跟踪滤波器。.................................................................... E-7 图 E-4。对话框:符号跟踪滤波器。.................................................................. E-8 图 E-5。外部/接收器/眼图。外部、离散时间散点图。................................................................ E-10 图 E-6。................................................................. E-10 图 E-7。循环同步进度。......................................................................... E-10 图 E-8。表格分析摘要。............................................................................. E-11 图 E-9。图形分析控制窗口。......................................................................... E-11 图 E-10。假锁定眼图。.................................................................................... E-13 图 E-11。假锁定星座。................................................................................. E-13 图 E-12。数据采集设备。................................................................................ E-16 图 F-1。分析仪结构。.............................................................................................. F-3 图 F-2。参考功率谱。......................................................................................... F-4 图 F-3。星座图。............................................................................................. F-5 图 F-4。检测滤波器。......................................................................................... F-6 图 F-5。发射机测试设备。.......................... F-13 图 F-7。................................................................................ F-6 图 F-6。参考信号的比特间隔载波相位轨迹。发射机性能摘要。................................................................ F-15 图 F-8。使用差分编码预测的检测性能。.......................... F-15 图 F-9。基带频谱。................................................................................ F-16 图 F-10。在发射机 RF 端口测量的 OQPSK 星座。................................. F-16 图 F-11。决策样本直方图。................................................................................ F-17 图 F-12。在发射机 RF 端口测量的 OQPSK 星座。................................. F-17 图 F-13。箱间隔相位轨迹。......................................................................... F-18 图 F-14。轨迹偏差频谱。.............................................................................. F-19