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了解两个...
摘要：对层堆叠的二维共轭金属 - 有机框架（2D C- MOF）的原子结构的了解是建立其结构 - 性质相关性的必要先决条件。为此，原子分辨率成像通常是选择的方法。在本文中，我们可以更好地理解有助于电子束弹性的主要特性以及2D C-MOF的高分辨率TEM图像中可实现的分辨率，其中包括化学组成，密度和C-MOF结构的电导率。结果，在所考虑的结构的最稳定的2D c-MOF中，在80 kV的加速电压下，在体和色素异常校正的tem的加速电压下，取下了0.95的。使用详细的从头算分子动力学计算来解释了通过与电子束的弹性相互作用在Cu 3（BHT）中诱导的复杂损伤机制。实验性和计算的敲入伤害阈值非常吻合。关键字：梁损伤，金属有机框架，高分辨率传输电子显微镜，结构剪裁，从头开始分子动力学
了解两个 - ...
摘要：对层堆叠的二维共轭金属 - 有机框架（2D C- MOF）的原子结构的了解是建立其结构 - 性质相关性的必要先决条件。为此，原子分辨率成像通常是选择的方法。在本文中，我们可以更好地理解有助于电子束弹性的主要特性以及2D C-MOF的高分辨率TEM图像中可实现的分辨率，其中包括化学组成，密度和C-MOF结构的电导率。结果，在所考虑的结构的最稳定的2D c-MOF中，在80 kV的加速电压下，在体和色素异常校正的tem的加速电压下，取下了0.95的。使用详细的从头算分子动力学计算来解释了通过与电子束的弹性相互作用在Cu 3（BHT）中诱导的复杂损伤机制。实验性和计算的敲入伤害阈值非常吻合。关键字：梁损伤，金属有机框架，高分辨率传输电子显微镜，结构剪裁，从头开始分子动力学
采用多目标遗传算法对静电电子透镜进行多标准优化
采用多目标遗传算法 (MOGA) 优化方法，对具有五个电极和两个目标函数的静电电子光学系统的设计进行了优化。考虑的两个目标函数是固定图像平面中一次电子束的最小探针尺寸和镜头内探测器平面上的最大二次电子检测效率。耗时的步骤是计算系统电位。有两种方法可以做到这一点。第一种是使用 COMSOL（有限元法），第二种是使用二阶电极法 (SOEM)。前者使优化过程非常缓慢但准确，而后者使其快速但准确性较低。提出了一种全自动优化策略，其中基于 SOEM 的 MOGA 为基于 COMSOL 的 MOGA 提供输入系统。这加速了优化过程并将优化时间缩短了至少约 10 倍，从几天缩短到几个小时。典型的优化系统的探针尺寸为 11.9 nm，二次电子检测效率为 80%。这种新方法可以在具有一个或多个目标函数和多个自由变量的静电透镜设计中实现，是一种非常高效、全自动的优化技术。
使用 BEAMnrc 设计 50kVp 接触式 X 射线治疗装置的平坦化滤波器
利用 MCNP 计算非均匀体模内电子束的剂量分布并通过实验测量进行验证。 Hassan Ali Nedaie，伊朗德黑兰医科大学癌症研究所 使用 NPL 网格上的 DOSRZnrc 计算英国主要标准治疗级电子束热量计的间隙校正 Mark Bailey，英国泰丁顿国家物理实验室 辐照小组建模工作组 - 蒙特卡罗代码审查 Mark Bailey（辐照小组秘书），英国泰丁顿国家物理实验室 使用 BEAMnrc 设计 50kVp 接触式 X 射线治疗装置的平坦滤波器 Gareth M. Baugh，英国考文垂大学医院阿登癌症中心 验证 PENELOPE 蒙特卡罗代码以计算异质体模中的吸收剂量 Léone Blazy，CEA-Saclay，法国亨利贝克勒尔国家实验室 使用不同版本 MC 代码对低能锗探测器进行蒙特卡罗校准的结果 PENELOPE Robert Brettner-Messler，FJ Maringer，奥地利维也纳联邦计量测量局 Geant4 作为质子束中 Al2O3：C 发光响应的轨迹相互作用模型的传输代码 S. Greilich，Risø 国家实验室，DK-4000 罗斯基勒，丹麦 探测器死层厚度对探测器效率的影响 Mario Kedhi，阿尔巴尼亚地拉那核物理研究所 探测器效率和巧合求和 c 的计算
超临界场中的相对论等离子体物理
自从the骨脉搏放大的发明是在2018年被诺贝尔物理学奖所认可的，因此可用的激光强度持续增加。Combined with advances in our understanding of the kinetics of relativistic plasma, studies of laser–plasma interactions are entering a new regime where the physics of relativistic plasmas is strongly affected by strong-field quantum electrodynamics (QED) processes, including hard photon emission and electron–positron ( e – e þ ) pair production.繁殖过程和相对论的集体粒子动力学的这种耦合可能会导致新的等离子体物理现象，例如从近吸真空中产生致密的E – e – e – e – e – e – e – e – e s plasma，完全通过QED过程吸收了完全的激光能量，或通过QED过程来吸收Q，或者通过超相对性电子束的停止，可以渗透过毛孔，这可能会渗透到毛孔上，这是一位毛孔的质量，这是一位毛孔的质量，这是一定的质量，这是一定的质量，这是一位毛孔的质量。 光。除了具有根本的兴趣外，至关重要的是，研究这种新的制度是了解下一代超高强度激光器 - 肌电实验及其所产生的应用，例如高能量离子，电子，电子，正电子和光子源，用于基本物理学，医学放射治疗和下一代放射射线照相术的基础物理学研究，以及用于居家园的下一代安全和居民安全和行业。
使用锯齿折射透镜在高能 X 射线光束线上聚焦
1-ID X 射线光束线利用先进光子源 (APS) 储存环电子束的高能量 (7 GeV)、其低发射率、短周期波荡器源和针对高能 X 射线优化的光学系统，提供 40-140 keV 光子能量范围内的高亮度光束，用于材料散射研究。这种 X 射线与物质相互作用的特点是衰减低、散射角小、相互空间访问大，使其非常适合用作体探测器以及几何限制或极端样品环境。光束线范围的很大一部分涉及以高空间分辨率研究工程材料的微观结构和演变，例如获得多晶材料的三维晶粒图，给出位置、形状、晶体取向和应变状态，并通常跟踪在施加的刺激下发生微观机械变化的数千个晶粒的这些参数。高空间分辨率研究通常通过结合多种互补技术进行，即在同一样本上使用聚焦和非聚焦光束。聚焦光束技术包括近场高能衍射显微镜 (nf-HEDM；Suter 等人，2006 年)、衍射断层扫描 (Birkbak 等人，2017 年) 和相干衍射成像 (CDI)。非聚焦光束用于传统断层扫描和远场高能衍射显微镜 (ff-HEDM；Lienert 等人，2011 年)。实现这样一套技术使得同轴聚焦光学系统变得可取，从而使线 (1D) 聚焦、点 (2D) 聚焦和非聚焦配置的光束位置保持不变。主要出于这个原因，不使用 Kirkpatrick–Baez 反射光学器件，尽管它们是消色差的，因此很容易适应能量可调性（如果基于全外部反射，而不是多层）。此外，与同轴光学器件不同，小焦点位置容易受到反射光学器件的角度稳定性的影响。基于菲涅尔区的光学器件（例如区域板和多层劳厄透镜）以同轴方式运行，但具有其他衍射级晕，其消除
工业等离子体工程。卷。 2，非热等离子体处理的应用
这三卷工作的第1卷旨在提供在工业上使用的低温，部分电离的洛伦兹血浆原理的背景。卷2和3旨在提供与等离子体相关的过程和设备的描述，这些过程和设备具有实际或潜在的商业重要性。文本假设普通的学生或执业工程师最近没有参加等离子体物理学的课程，并且具有大二一级结束的物理和微积分背景。这三卷旨在由所有工程和物理科学学科的学生在高年级或一年级的研究生级别上用作教科书，并通过执业工程师作为参考来源。将第二卷用作教科书或参考资源，假设读者熟悉卷1中的材料，或者在低温洛伦兹血浆物理学中具有等效背景。血浆物理学和工业等离子体中重要的物理过程的介绍包含在第1卷的第一章中。第1卷第7章至第7章描述了在工业上使用的离子和电子束的来源以及电离辐射的来源。第1卷第8章至第10章描述了直流电气放电的物理和技术，第11至13章描述了RF等离子体来源的物理和技术。在第二卷中，第14章专门研究了材料科学的某些方面，这些方面是血浆加工应用的基础。第19章致力于等离子体相关参数对等离子体处理结果的影响。第15章和第16章分别专门用于大气和真空等离子体来源，第17章是在工业上经常使用的血浆反应堆（或血浆“工具”），以及第18章用于这些反应堆中使用的专门方法和设备。第20章涵盖了最常用的诊断方法，用于测量独立的输入变量，等离子体参数和等离子体处理的结果。第21至25章涵盖工业应用，归类为材料的非热等离子体处理。第3卷将涵盖热等离子体处理和等离子体设备。
薄金属基材上的多层磁场发射器 div>
这项工作的目的是确定从材料接触中创建多层阴极的可能性，其在薄金属基板上的不同输出的不同输出，以及在微型流中，在电子流的交叉部分中形成密集的胶带和环的实际使用，但高电量设备。方法。gafnii层（𝑒3〜3。5 eV）和铂（𝑒3〜5。3 eV）分别使用相当简单且操作的Magnetron喷涂方法顺序将10 nm和2 nm依次应用于金属箔底物的侧面。阴极由箔制成，并用多层涂层在电子束的横截面中形成胶带和环。在三极管电子光学系统中产生了多层阴极发行特性及其形成的光束的实验测量，其中包括控制电极（阳极）和选举收集器的阴极以Pharanda圆柱体的形式进行。测量是在技术真空10-7的条件下进行的。。。10-8 Torr。 结果。 实验定义了由三极管电子光系统形成的电子流的横截面的特征和环在薄铝基板（9微米）和坦塔鲁斯（10微米）上形成的电子流的横截面。 测量了从阴极的电流对Cato室和控制电极之间电压（Volt-Ampere特性）之间的电压的依赖性，以及所形成的束的电子光系统中电流的变化。 结论。 。 。10-8 Torr。结果。实验定义了由三极管电子光系统形成的电子流的横截面的特征和环在薄铝基板（9微米）和坦塔鲁斯（10微米）上形成的电子流的横截面。测量了从阴极的电流对Cato室和控制电极之间电压（Volt-Ampere特性）之间的电压的依赖性，以及所形成的束的电子光系统中电流的变化。结论。。。在本文中，在电子流的薄金属基板上使用多层天主管在电子流的薄金属基板上进行了形成，并在高达300的田间发射场的横截面中，电流的横截面最大为几米，平均水平极大。400 A/cm 2。在选择技术真空中选择大型田间发射时，研究的阴极稳定运行的可能性。
定量SEM/EDS分析的原位标本方向方法的开发和验证Clay Klein 1*，Faith Corman 1，Joshua Homan 1，
定量SEM/EDS分析的原位标本方向方法的开发和验证粘土Klein 1*，Faith Corman 1，Joshua Homan 1，Brady Jones 1，Brady Jones 1，Abbeigh Schroeder 1，Heavenly Duley 1和Chunfei Li 11。宾夕法尼亚州克拉翁大学，化学，数学和物理系，美国宾夕法尼亚州克拉里昂 *通讯作者：clay.w.klein@gmail.com定量分析具有扫描电子/能量分散式X射线/能量的标本元素组成的元素组成，以确保X射线光谱（SEM/EDIMENS）不需要一定的情况。错误。特别是，为了准确的定量EDS分析，标本表面必须足够平坦，并且与SEM的电子束具有正交性[1，2]。在本演示文稿中，我们报告了一种在SEM中，肉眼看不见的足够平坦的微观表面的方法的开发和验证，使得表面与传入的电子束是正交的。该方法基于使用多个SEM图像来测量两个点之间的距离的变化，而两个点之间的界线垂直于SEM倾斜轴，在不同的倾斜角度上。该方法利用了多个SEM图像和测量值，它为我们当前在开发和统计上分析试样方向过程中使用的工具提供了一个良好的测试基础，比以前的方法更有效，更精确[3]。SEM具有两个操作，可以实现对象的原位操纵：旋转和倾斜。要应用该方法，我们使用了以随机旋转和倾斜角度定向的宏观平坦样本。2。[4]。旋转操作通过平行于传入的电子束（定义为轴）的轴的角度旋转样品，而倾斜操作则通过围绕轴（轴）垂直于旋转轴的角度倾斜样品。对于以某个任意角度倾斜的平面，我们将适当的角度定义为 - 参数空间中的坐标，使得平面的表面与电子束正交。一旦确定了足够平坦的平面，我们可以通过以下步骤确定适当的角度：（1）以增量旋转角度进行一系列SEM图像，（（2）用一定角度倾斜样品，（3）重复（3）重复（1）和（4）度量，对于每个旋转角度，在斜角和直至图像中的两个特征之间的距离。可以通过形成倾斜度的比率并在每个旋转角度以测量为单位，并将理论上确定的曲线与数据拟合，从而计算出适当的角度。具有50 m的视野，每10°旋转以0°，20°和-20°旋转每10°旋转。测量是在SEM图像上进行的，如图1形成两个点之间的距离之比。在图中显示了这些测量结果的曲线使用最小二乘曲线拟合程序，确定最佳和值。图中还显示了以适当角度定向的样品的图片2;我们看到表面似乎与电子束的方向是正交的。