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用于航天硬件的电子组件
PCB/基板材料：聚酰亚胺/环氧树脂HTg/低CTE，如Thermount 85NT RF基板（Duroid、TMM10i，…）/陶瓷。新产品Megtron、Ventec VT901
使用机器学习的电子组件分类
专门的体系结构：CNN具有专门的体系结构，专门用于图像识别任务，非常适合识别电子组件。CNN中的卷积层允许从视觉输入中提取有效的特征。分层功能学习：CNNS自动学习层次特征，使它们能够在图像中捕获复杂的细节。这对于表现出各种视觉特征的电子组件至关重要，因为CNN可以识别复杂的模式和结构[2]。有效的模式识别：电子组件通常具有独特的视觉模式。cnns在识别和解释这些模式方面表现出色[9]，可确保在各种组成部分之间进行准确的识别。对各种形状和大小的适应性：CNN的卷积性质使它们能够处理电子组件形状和大小的变化。这种适应性对于适应组件可能采取的多种形式至关重要。
2025 IEEE电子组件和技术会议宣布
“这对于学生来说是一个很好的机会，可以与世界各地的其他学生团队竞争，向行业推动者和摇摇酒店展示他们的创新想法。”Robert Bosch GmbH的专家和模拟团队负责人。 “在ECTC 2025年，获胜的团队将能够了解最先进的行业进步；与技术和行业专家和潜在雇主建立网络；并有机会在备受推崇的技术期刊，IEEE IEEE交易中，有关组件，包装和制造技术的IEEE交易。”Robert Bosch GmbH的专家和模拟团队负责人。“在ECTC 2025年，获胜的团队将能够了解最先进的行业进步；与技术和行业专家和潜在雇主建立网络；并有机会在备受推崇的技术期刊，IEEE IEEE交易中，有关组件，包装和制造技术的IEEE交易。”
在高可靠性应用中使用COTS电子组件 - 经验教训QIS
量子存储，传输和处理是信息技术的未来。量子硬件的承诺源于纠缠量子系统的固有复杂性 - 波功能尺度的大小与粒子数，无论是在真实空间还是在参数空间中表示。相比之下，经典的n个体系统只能由6个N变量（所有粒子的位置和动量）完全表示。量子系统的这种复杂性通过经典计算（维度的诅咒）创建量量子系统的尚未解决的挑战。的确，尽管我们可以轻松地为任何相互作用的核和电子系统编写schrödinger方程，但我们只能在非常小的系统上精确地在古典计算机上求解它。量子技术渴望将这种诅咒变成一种祝福。波功能的指数复杂性表明，它原则上可能代表了指数的严重问题。因此，可以使用量子硬件存储和操纵信息来解决在经典计算机上无法解决的问题。
提高了在核反应堆中运行的机器人中安装的电子组件的辐射抗性
[1] eDditional办公室，“用于调查核事故的灾难管理机器人的开发”，《灾难研究杂志》，第3卷，第4期，第4页，305-306，2008年8月。[2] Tomoharu doi，Mitsuyoshi Shimaoka，Shigekazu Suzuki，“由技术学院或Kosen教育工作者构想的创意机器人大赛”，《机器人和机械学杂志》，第34卷，第34卷，第34页，第3页，第498-508-508-508-508-508，20222222222.[3] Kenjiro Obara，Satoshi Kakudate，Kiyoshi Oka，Akira Ito，Toshiaki Yagi和Morita Yosuke，“ iTer远程维护的辐射硬度组件的开发”，《机器人和机械学杂志》，《杂志[4] Andrew West，Jordan Knapp，Barry Lennox，Steve Walters，Stephen Watts，“一台小COTS单板计算机用于移动机器人的辐射公差”，核工程和技术，第54卷，第54页，第54页。2198-2203，2022年12月。[5] Zhangli Liu，Zhiyuan Hu，Zhengxuan Zhang，Hua Shao，Hua Shao，Ming Chen，Dawei Bi，Dawei Bi，Bingxu Nig，Ru Wang，Shichang Zou，Shichang Zou，“全部剂量效应在高压记忆力和方法中，核工具和方法” pp.3498-3503，2010年9月。[6] Zhangli Liu Zhiyuan Hu, Zhengxuan Zhang, Hua Shao, Ming Chen, Dawei Bi, Bingxu Ning, Shichang Zou, “Comparison of TID response in core, input/output and high voltage transistors for flash memory,” Microelectronics Reliability, Vol.51, pp.1148-1151, March 2011.[7] Bingxu ning，Zhengxuan Zhang，Zhangli Liu，Zhiyuan Hu，Ming Chen，Ming Chen，Dawei Bi，Shichang Zou，“辐射诱导的浅沟裂缝隔离泄漏在180-NM FLSH内存技术中”[8] Sandhya Chandrashekhar，Helmut Puchner，Jun Mitani，Satoshi Shinozaki，Satoshi Shinozaki，Mohamed Sardi，David Hoffman，“辐射在16 nm浮动大门SLC SLC NAND闪光灯中诱导软沟，Microelectronics Reliaics Reliaics Reliaics”，第108卷，第11331页，第8页。
一种简单的一维有限元方法来模拟 PCB 在电子组件中的影响
在汽车电子领域，实现高设备可靠性是一项基本要求。操作典型的汽车负载（例如灯泡或伺服电机）会给设备本身带来很大的热应力，因为这些负载具有高浪涌电流、长关断时间和高电感。因此，切换这些负载意味着高开关损耗、长时间的开启和关闭瞬态以及严重的过热。开关将循环数千次甚至数百万次，相应的功率循环将引起热机械性能下降，最终导致电气故障。因此，有必要正确模拟此类功率循环以提高设备可靠性并了解故障机制，特别是准确的热模型是得出所有后续电热和热机械结论的第一步。
![[1] Boylestad，R.L。，电子设备和电路理论，...](/simg/g:\will\search\icon\source\5\56697a55d7c70d534ec2c47a0b4e406b43fc5371.webp)
[1] Boylestad，R.L。，电子设备和电路理论，...
1。学生能够测试基本的离散电子组件，并能够收集有关其性能的数据2。学生能够在团队中工作以实现一个简单的电子工程项目3。学生能够设计给定电路（模拟移动机器人）主题1。Ni Elvis II的简介和测试电子组件2。测试二极管，齐纳和LED 3。组成和测试波整流器系统4。组成和测试晶体管5。编写和测试JFET 6。组成和测试MOSFET 7。编写和测试SCR8。Mandiri实践a。遵循机器人b。寻求机器人（选择一个，第3至5 MHS。）直接评估