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World File Search System电子轰击
高能脉冲功率加速器上强电场的电流测量
从传感器材料或常规真空空间的质量降低。此外，侧视镜保护了晶体免受电压脉冲上升和下降期间MITL直接侧向电子轰击的可能性，晶体内部的高内部场并未导致介电击穿，并且没有证据表明表面上有任何电弧。光纤位于真空腔室外，远离辐射源，因此辐射变暗不会影响光纤内部的光。Niobate锂的确有一个显着的
卫星推进
•离子推进器用于航天器推进，并通过使用电加速离子来产生推力。通过添加或去除电子产生离子来使推进剂电离推进剂。这主要是通过电子轰击来实现的，在该电子轰击中，高能电子与推进剂原子碰撞以释放电子并产生阳性离子。•汞过去一直用作推进剂，直到1980年左右（Fazio等，2018）。与汞毒性有关的担忧导致了它的放弃。•汞离子推进器的制造商包括阿波罗融合（美国）。•消耗：20公斤推进剂，用于代表性配置，非常适合低轨卫星（Bloomberg，2019年）。•根据Apollo Fusion网站的信息，该公司打算在2019年至2023年之间生产多达500个推进器。这将在五年内消耗大约10吨汞（Apollo Fusion 2019）。•预计在未来10 - 20年内，卫星星座的计划将使低地球轨道的卫星数量增加10倍（Fourie等，2019）。据估计，在10年的寿命中，2000颗卫星每年将发射约20吨汞，这很大程度上将存放在海洋中。•欧盟没有制造/使用。
电荷域增益在主动短波红外瞄准中的性能优势
摘要。目前，短波红外波段主动瞄准系统的灵敏度受到传统读出集成电路的高读取噪声限制。这一限制阻碍了其他性能权衡，例如源功率、照明波长和时间相干性。在信号读出之前在电荷域中引入增益可以降低读取噪声的影响，使其不再限制性能。为了准备一系列计划中的主动成像现场测试，我们在建模基础上使用两种不同的电荷域增益相机展示了改进的系统性能：电子轰击有源像素传感器 (EBAPS) 和碲化汞镉雪崩光电二极管传感器。我们发现这两种解决方案都可以降低读取噪声，使其中一种适合激光距离选通，但与 EBAPS 相关的高暗电流可能使其在某些情况下不适合连续波成像。这些结果有助于我们了解电荷域增益系统现场测试的预期性能。
夜视技术评论 - De Gruyter
ANVIS – 飞行员夜视成像系统（常用于双目夜视镜的术语），CCD – 电荷耦合器件（一种利用电荷运动构建集成电路的技术，通过在器件内的各个阶段之间逐个“移动”信号），CCTV – 闭路电视（用于近距离监视的可见光/NIR 摄像机类型） CMOS – 互补金属氧化物半导体（一种使用 p 型和 n 型金属氧化物半导体场效应晶体管对构建图像传感器的技术 CRT – 阴极射线管（一种包含电子枪和用于生成图像的荧光屏的真空管） EMCCD – 电子倍增电荷耦合器件 fc – 英尺坎德拉 fL – 英尺朗伯 ENVG – 增强型夜视镜 EBAPS – 电子轰击有源像素传感器 FOM – 品质因数 FOV – 视场 HUD – 平视显示器 ICCD – 增强型 CCD（一种使用通过组合图像增强器实现的成像模块的技术带 CCD 传感器的像增强管 IIT – 像增强管 lp/mm – 每毫米线对 lp/mrad – 每毫弧度线 MCP – 微通道板 MIL 标准 – 美国国防标准，通常称为军用标准 NIR – 近红外 NVD – 夜视设备 NVG – 夜视镜 RMS – 均方根 SNR – 信噪比 SWIR – 短波红外 TFT LCD – 薄膜晶体管液晶显示器。
不同材料中锂的定量电子探针微分析
pia.schweizer@cea.fr电子探针微分析（EPMA）是一种可靠且广泛使用的技术，可用于对科学和工业应用进行非破坏性，准确的材料表征。尽管对锂具有极大的兴趣（LI），并且迫切需要在微米级进行准确的非破坏性分析，但使用EPMA对LI的LI量化尚未成功进行。最近开发的周期性多层允许围绕特征性的li k发射〜50 eV [1]的能量范围的光谱，但是配备有弯曲的晶体光谱仪和标准商业化多层的微型探针检测和定量没有衍射光栅仍然具有挑战性。LI检测的困难是由不同的因素引起的：LI的荧光产量极低，很少有Li 1S核心孔的衰减产生的特征光子，有利于螺旋电子的发射。由于其低能量，光子甚至在离开样品及其最终涂层之前就被强烈吸收。因此，信号主要来自可能受到污染的薄表面层，并且可能对电子轰击敏感。微探针成分，尤其是通过分离窗口的进一步吸收光子，将降低测得的强度。由于Li K发射（2p - 1s转变）涉及价电子，因此Li发射带的形状高度依赖于价带中的状态密度（DOS），并且高度依赖于锂原子的化学状态。SCI。 2021，11，6385。 2022，51（4），403。SCI。2021，11，6385。2022，51（4），403。某些EV和强峰形变化的化学位移可能会发生，对于光元的EPMA应该是预期的[2,3]，使定量分析变得复杂。这项工作显示了不同材料中LI定量EPMA的一些有希望的结果，包括电池化合物和LI浓度降至2％的金属合金。在整合新检测系统以及使用适用于低压EPMA的实际标准和校正程序进行定量程序之后，这是可能的。即使需要进行额外的调查，研究人员的锂表征也引起了极大的兴趣。我们表明，即使EPMA包含在重矩阵中，EPMA是对LI进行定量分析的强大工具，其元素显示出与LI相同的光谱范围内的特征发射带。这种新颖的LI量化方法比使用SEM或配备了多层光栅的ENER或电子微探针检测到其他技术更容易访问，并且比检测更便宜。[1] Polkonikov，V.，Chkhalo，N.，Pleshkov，R.，Giglia，A.，Rividi，N.，Brackx，E.，Le Guen，K.[2] Schweizer，P.，Brackx，E.，Jonnard，P。，X射线光谱。[3] Hassebi，K.，Le Guen，K.，Rividi，N.，Verlaguet，A.，Jonnard，P.，X-Ray Spectrom。（http://doi.org/10.1002/xrs.3329）在印刷中。