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按键键扫描由硬件自动完成,用户只需要按照时序读按键值。完成一次键扫需 要 2 个显示周期,一个显示周期大概需要 4ms ,在 8ms 内先后按下了 2 个不同的按 键, 2 次读到的键值都是先按下的那个按键的键值。 主机发送读按键命令后,开始顺序读取 5 字节的按键数据,读按键数据从低位 开始输出,某个按键按下时,其对应的按键数据字节内的 bit 位置 1 。
车博士曾 4 次获得最佳国际会议论文奖 (EPTC2003 、 EPTC2013 、 Itherm2006 、 ICEPT2006) 。 他合着了一本书,并在先进微电子封装领域的同行期刊和会议论文集上发表了 170 多篇技术论文。他拥有 11 项 已获授权或正在申请的美国专利。 他的研究兴趣包括先进封装的可靠性设计、铜线键合、硅通孔 (TSV) 技术、扇出型晶圆级 / 皮肤级封装、有限元 建模与仿真、微电子封装材料特性、物理驱动和数据驱动的机器学习方法,用于先进封装技术的快速技术风险评 估。 车博士担任 35 多个国际科学期刊的同行评审员,例如 J. of Materials Science 、 J. of Electronic Materials 、 J.Materials and Design 、 Materials characterization 、 Microelectronics Reliability 、 IEEE Trans.on CPMT 、 IEEE Trans.on DMR 、 International J. of Fatigue 、 J. of Alloys and Compounds 、 J. of Micromechanics and Microengineering 等。 车博士连续四年( 2020 年至 2023 年)被斯坦福大学评为全球前 2% 科学家。 他是 IEEE 高级会员。
摘要摩尔的定律终于接近了最终的物理限制,因为最先进的微处理器现在的晶体管在频道中仅宽14纳米,并且微电子行业已经进入了后期的时代。将需要真正的新颖物理学来通过开发新材料,原理,结构,设备和新型体系结构来扩展它。鉴于硅的成功主要从其高质量的本地氧化物SIO2和现有的广大专业知识和基础设施中受益,因此硅的完全替代很快就不太可能在很快发生。在这次演讲中,我将介绍我们最近对基于硅后的技术的半导体物理学的研究(3)GE孔自旋量子材料的理论设计,以加快量子操作的速度超过GHz。参考文献[1] Ruyue Cao,Qiao-lin Yang,Hui-xiong Deng*,Su-huai Wei*,John Robertson和Jun-Wei Luo*,通过降低原子间键合强度,降低光学声子,自然634,1080(2024)。[2] G. Wang,Z.G。Song*,Jun-Wei Luo*和S.S. Li,物理学。修订版b 105,165308(2022)。[3] J.X.Xiong,S。Guan *,Jun-Wei Luo *和S.S. Li,物理。修订版b 103,085309(2021)。[4] Jun-Wei Luo *,S.S。Li和A. Zunger *,物理。修订版Lett。Lett。119,126401(2017)。 查询:3943 6303119,126401(2017)。查询:3943 6303
具体而言,TIF地区的即将到期意味着同样大量的增量均衡评估价值(EAV)设置为返回该市的征税。这些美元作为特殊类别(称为“新财产”或“新EAV”)退还给所有税收机构 - 这导致永久且持续的增长到税基,而不需要对财产税征收的肯定性增加。这意味着预期的1.5亿美元的新的年收入将在未来10年内增加该市的征税,并在15年内进一步增加到超过2.9亿美元。这种好处不仅限于芝加哥市。该市的所有税收机构,包括芝加哥公立学校(CPS),芝加哥公园区和库克县 - 将看到相应的增加。在CPS的情况下,在未来15年内,累计新资金的收益接近50亿美元。
成本降低是最近向CU线键合的主要驱动力,主要是AU线粘结。包装的其他成本降低来自基板和铅框架的新开发项目,例如预镀框(PPF)和QFP和QFN的UPPF降低了镀层和材料成本。但是,由于粗糙的smface饰面和薄板厚度,第二个键(针键键)在某些新的LeadFrame类型上可能更具挑战性。pd涂层的Cu(PCC),以通过裸铜线改善电线键合工艺,主要是为了提高可靠性并增强了S TCH键过程。需要进行更多的FTMDAMENTALS研究来了解粘结参数和粘结工具的影响以提高针迹键合性。在本研究中研究了Au/Ni/pd镀的四型扁平铅(QFN)PPF底物上直径为0.7 mil的PCC电线的针键键过程。两个具有相同几何形状但不同的s脸的胶囊用于研究Capillruy Smface饰面对针键键过程的影响。两种毛细血管类型是一种抛光的饰面类型,用于AU线键合,而颗粒•饰面毛细管具有更粗糙的smface fmish。比较铅(NSOL)ATLD SH01T尾巴之间的过程窗口。研究了过程参数的影响,包括粘结力和表SCMB扩增。过程窗口测试结果表明,颗粒毛细管具有较大的过程窗口,并且SH01T尾巴OCCTM的机会较低。在所有三个Pru·emeter套件中,颗粒状的毛细血管均显示出更高的粘结质量。较高的SCMB振幅增加了成功SS的机会 - 填充针键键的fonnation。ftnther比较了毛细血管smface饰面,3组参数se ttings ttings ttings ttings具有不同的键atld scmb a振幅ru·e测试。与抛光类型相比,Grrumlru·capillruy产生了更高的针迹拉力强度。开发了该过程的有限元模型(FEM),以更好地了解实验性OB使用。从TL1E模型中提取了电线和亚种界面处的电线的Smface膨胀(塑性脱节),并归因于粘附程度(键合)。该模型用于与不同的Smface饰面相连(键合)的实验观察。