摘要:我们回复 J.-M. Mewes、A. Hansen 和 S. Grimme (MHG) 的评论,他们对我们通过气体电子衍射 (GED) 确定的 (C 6 F 5 )Te(CH 2 ) 3 NMe 2 中 N···Te 距离的 re 值的准确性提出质疑。我们最终证明,MHG 引用的参考计算结果不如他们声称的固态和气相准确。我们通过更高级别的计算表明,我们并未遗漏开链构象异构体的重大贡献。对模拟散射数据的细化表明,此类贡献对 re (N···Te) 的影响几乎可以忽略不计。MHG 建议使用 H0 调谐的 GFN 方法来计算振动校正 rare ,但这并没有显著改变这些值。使用更高级别的解析谐波和数值立方力场 (PBE0-D3BJ/def2-TZVP) 进行替代振幅计算,得出 re (N···Te) = 2.852(25) 的 GED 值,该值完全在原始值 2.918(31) 的实验误差范围内,但远低于 MHG 预测的 2.67(8)。现在改进的误差估计解释了计算辅助值的不准确性。与其他涉及弱化学相互作用的系统相比,弱 N···Te 相互作用的气固差异处于现实范围内。Mewes、Hansen 和 Grimme 最近的评论 [1]
大于 0.1 m,无论是平面化还是未平面化的测试 µ 芯片。凸块侧壁略微倾斜,因此凸块的平面化会略微增加凸块面积,见表 2。平面化工艺似乎还会使软金凸块略微变脏,见图 4。平面化凸块的凸块面积比未平面化凸块大 5% 到 15%。
Table of Contents Overview of Wafer Level 3-D ICs.- Monolithic 3-D Integrated Circuits.- Stacked CMOS Technologies.- Wafer Bonding Technologies and Strategies for 3-D ICs.- Through Silicon Via Fabrication, Backgrind, and Handle Wafer Technologies.- Cu Wafer Bonding for 3-D ICs Applications.- Cu/Sn Solid-Liquid Interdiffusion Bonding.- An SOI-Based 3-D电路集成技术。-3-D制造高性能CMOS技术的选择。-基于介电粘合键的3-D集成。-直接混合键合。-3-D内存。-3-D集成的电路体系结构。-3-D ICS的热挑战。
医疗系统中粘合剂的主要应用领域是针结合和注射器组件 - 不锈钢针或插管粘结到玻璃或塑料注射器中。这些针头大量生产,需要大量生产中的快速和可靠的键合。除了其机械键强度外,所使用的粘合剂还必须允许高精度生产和永久连接,并且必须承受各种灭菌方法。Panacol的紫外线治愈的Vitralit®粘合剂完全满足这些要求。vitralit®粘合剂有各种粘度范围,可完全适合针线轮的设计,并填补轮毂和针之间的间隙。轮毂和针的材料也影响粘合剂的选择:许多粘合剂都是紫外线,这需要使用透明和紫外线的材料。对于阻断紫外线(例如聚碳酸酯)的材料,建议使用长波LED可固化的粘合剂。建议用于针头键合的所有Vitralit®粘合剂均为无溶剂和认证的USP IV类和/或ISO 10993用于医疗设备。此外,即使在几个灭菌周期后,也要用所有针键粘合剂测量高针提取力。进行视觉质量检查,还提供了我们的医学级粘合剂的荧光版本。选择粘合剂需要一个匹配的分配系统,以在快速生产环境中可靠,精确地分配。使用BDtronic提供的迷你溶液,无论粘合粘度如何,在微氧范围内的分配都变得容易。随着针线粘合的应用,医疗设备所需的高质量需求证实了Bdtronic的体积分配设备的选择。由于连续的体积分配,分配是无脉冲的,可确保最佳过程速度,可重复性和准确性。最后,紫外线固化设备的选择取决于触发聚合的粘合剂和波长。用于使用Vitralit®产品进行针头键合您可以使用UV-A或可见的LED灯。由于特殊的LED组件和自己优化的电源,HönleLED Powerline LC保证了最快的固化和最短周期时间的高密集型照射。此外,可以在0.01 - 99.99秒的范围内选择辐照时间,因此可以精确地适合过程要求。
2024年10月9日 — (3)投标项目的规格应为项目明细表规格栏中指定的规格,或相当或更优(包括其他公司的产品)。 (4)如果您正在竞标类似物品,请...
2024 年 3 月 5 日 — 规格编号。4QGB10202070。4RL81CA0001 0001。产品名称或主题。Senso (6) 业务用一般废弃物处理(可燃物)。零件编号或规格。根据规格。要使用的设备名称。计划数量。
n,通过直接碳化制备具有介孔结构的杂种掺杂的活性污泥生物炭,然后通过腌制修改将其应用于非含锂氧气电池的正极电极。其在阴极中的应用可以以200 mA/g的电流密度提供7888 mAh/g的特定容量。锂氧电池的放电过程将产生
摘要 — 评估了 1 µm 间距晶圆对晶圆 (W2W) Cu/SiCN 混合键合界面的电气可靠性。使用控制 IV 方法获取 W2W 混合堆栈的击穿电压分布。假设幂律模型,对使用条件外推可确认使用寿命超过 10 年,当温度低于 175 ◦ C 时,幂律指数高于 10。发现沿 Cu/SiCN 混合键合界面的传导机制为 Poole-Frenkel 发射,能量势垒等于 0.95 eV。仅在温度高于 200 ◦ C 和场高于 1.5 MV/cm 时才能观察到移动铜,证实了该键合界面对铜漂移具有良好的稳定性。索引术语 — 晶圆对晶圆 (W2W) 键合、可靠性、电介质击穿、混合焊盘泄漏。
