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World File Search System空隙
QCBED 测量铝纳米空隙周围的空位浓度、晶格收缩和键合电子密度
Philip Nakashima 副教授 1、Yu-Tsun Shao 博士 2,3、Zezhong Zhang 博士 4,5,6、Andrew Smith 博士 7、Tianyu Liu 博士 8、Nikhil Medhekar 教授 1、Joanne Etheridge 教授 7,9、Laure Bourgeois 教授 1,9、Jian-Min Zuo 教授 10,11 1 澳大利亚克莱顿莫纳什大学材料科学与工程系，2 美国洛杉矶南加州大学 Mork Family 化学工程与材料科学系，3 美国洛杉矶南加州大学纳米成像核心卓越中心，4 比利时安特卫普大学材料研究电子显微镜 (EMAT)，5 比利时安特卫普大学 NANOlab 卓越中心，6 英国牛津大学材料系，7 克莱顿莫纳什大学物理与天文学院，澳大利亚，8 日本仙台东北大学先进材料多学科研究所，9 澳大利亚克莱顿莫纳什大学莫纳什电子显微镜中心，10 美国厄巴纳-香槟伊利诺伊大学材料科学与工程系，11 美国厄巴纳-香槟伊利诺伊大学材料研究实验室，背景包括目标我们着手对非均质晶体材料中纳米结构周围的键合电子密度进行首次位置分辨测量。迄今为止，所有键合电子密度和电位研究仅涉及均质单相材料；然而，大多数为我们服务的材料由于其包含的纳米结构而具有混合特性，这通常是设计使然。我们还注意到，材料缺陷无处不在且不可避免，因此我们可以从单一均质晶体的名义上完美的区域推导出材料特性的假设在范围和“实际”应用方面是有限的。这项工作旨在提供一种新功能，用于查询纳米结构和非均质材料中纳米结构周围的键合电子密度。我们的首次尝试涉及名义纯度（99.9999+%）铝中的纳米空隙。在实现这一目标的过程中，我们必须准确绘制空位浓度并确定空位引起的相关晶格收缩，以便能够精确测量晶体势和电子密度的傅立叶系数（结构因子）（误差小于 0.1%），因此我们取得了多项发现。© 作者，由 EDP Sciences 出版。这是一篇开放获取文章，根据知识共享署名许可 4.0 条款分发（https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/）。
启动仪式 - 船舶结构委员会
水分或挥发性产品。孔隙主要发生在手工铺层中。如果树脂分配管道的完整性得到保证，树脂灌注和传递模塑 (RTM) 等成型方法不易受空气夹带的影响。单个或孤立的大气泡也称为空隙。这些气泡大到足以具有结构意义，也可以单独检测和测量。当层间界面处出现较大的平面空隙时，这些空隙被称为分层。
Cu靶垫粗糙度和溶液流对生长模式的影响以及电气Cu膜中的空隙形成
摘要 - 研究了Cu靶垫粗糙度对来自两个不同CU浴的Electrols Cu的生长模式的影响，其浴A具有基于氰化物的基础，而Bath B Bath B Bath B Bath B Bath B Bath B Bath Bath Bate Bate Bate Bate Bate Base Base Base stobilizer System。两个浴室通常在PCB行业中使用。在BATH B的情况下，对于高于R A 5 300 nm高的平均目标垫粗糙度，观察到了两种生长模式。第一个模式是次级Cu下形态学的复制，而第二种模式则主要在底物晶体的暴露位点形成球形晶粒（Cu结节）。这些Cu结节通常具有与纳米类动物朝向其碱基的theefthed Electrolesscuthickness和Containa高密度相当的半径。相关的空隙形成似乎与弱盲菌中的CU/CU/CU互连相关。有趣的是，对于基于氰化物的浴A形成结节的趋势被广泛抑制，而基于氰化物的浴则是对目标垫粗糙度的nododule nodoul nodoul nodoup nodoup to y 5 1,000 nm。当研究溶液输送和交换时，很明显，较低的汇率会对电气cu的沉积产生负面影响，即使表现出的粗糙度值也可能表明，也可以预期具有不良结节和空隙的结果。
巨型量子电动力学对纳米化的单SIV颜色中心
通过氧化石墨烯膜（GOM）的水转运，并且已经广泛研究了无机和有机溶质的排斥。然而，GO薄片的横向大小对膜性能的影响尚不清楚。在这里，我们研究了使用各种尺寸的薄片制造的GOM的水渗透和分离性能。用较大的薄片制备的膜显示出更高的水通量。我们的实验清楚地表明，GOM由薄片和空隙结构组成。蒙特卡洛模拟表明，通过空隙的水运输比通过GO膜中的薄片快于薄片。此外，对于用更大尺寸的Go片制备的膜而言，空隙更为主导，因此，对于较大的薄片膜而言，较高的水通量。此外，用大薄片制备的GOM有效地拒绝了98％以上的Geosmin（GSM）和2-甲基异位酚（MIB），具有高可重现性，稳定的水通量为1.49 LMH。我们的结果有助于更好地理解GOM的复杂结构，其中膜的排斥性能主要取决于层间空间，但水的运输受空隙的控制。我们的研究还证明了GOM在饮用水净化技术中的工业潜力。
探索和利用地下空隙来实现长期月球人的人类习惯：运输，挑战和补救技术利用
探索和利用地下空隙来实现长期月球人的人类习惯：运输，挑战和补救技术利用了充气的结构和mycoarchitection。Christopher Maurer 1，James Head 2，Lynn J. Rothschild 3。1个红屋。克利夫兰，哦。chris@redhousestudio.net，布朗大学，普罗维登斯，RI。james_head@brown.edu。3 NASA AMES。 Moffett Field，CA。 lynn.J.Rothschild@nasa.gov。 简介和背景：月球和火星的长期人类外观和居住概念通常呼吁建造地面栖息地（例如小屋，外壳，建筑物等。 ），使用多种原位资源（ISRU）进行建筑材料和启用构造技术。 所有这些技术都需要非常重要的建筑材料，能源和水的可用性。 On the basis of funding from the NASA Ad- vanced Innovative Concepts (NIAC) program, we have been investigating synthetic biology, Mycoarchitecture [1], and flexible, foldable and inflatable forms [2], to ad- dress the significant upmass penalty of taking building materials to Lunar and Martian destinations and develop- ing Myco-Architecture-enabled capabilities to build habi- tats in situ at destination. 在这项贡献中，我们探索了候选人的原位栖息地（熔岩管和堤防尖端空隙），以及如何利用我们的NIAC资助的技术发展来准备此类自然地下空隙（图。3 NASA AMES。Moffett Field，CA。 lynn.J.Rothschild@nasa.gov。 简介和背景：月球和火星的长期人类外观和居住概念通常呼吁建造地面栖息地（例如小屋，外壳，建筑物等。Moffett Field，CA。lynn.J.Rothschild@nasa.gov。简介和背景：月球和火星的长期人类外观和居住概念通常呼吁建造地面栖息地（例如小屋，外壳，建筑物等。），使用多种原位资源（ISRU）进行建筑材料和启用构造技术。所有这些技术都需要非常重要的建筑材料，能源和水的可用性。On the basis of funding from the NASA Ad- vanced Innovative Concepts (NIAC) program, we have been investigating synthetic biology, Mycoarchitecture [1], and flexible, foldable and inflatable forms [2], to ad- dress the significant upmass penalty of taking building materials to Lunar and Martian destinations and develop- ing Myco-Architecture-enabled capabilities to build habi- tats in situ at destination.在这项贡献中，我们探索了候选人的原位栖息地（熔岩管和堤防尖端空隙），以及如何利用我们的NIAC资助的技术发展来准备此类自然地下空隙（图。1-3）用于长期人类居住。1，底部）。月球和火星上的自然地下空隙：地球和行星研究揭示了长期居住和保护避免月球和火星表面条件的极端和危险的另一种概念。地球火山学家长期以来都知道，富富火山喷发会产生熔岩流，其面孔可以冷却和屋顶，从而形成了深度的熔岩管，并继续从喷发地点流出熔岩[3]。最终，这些充满熔岩的地下熔岩管从流动的前面排出，留下一个埋藏的，通常是弯曲的，熔岩管（图1顶部），通常可以通过屋顶上的孔进入，称为“天窗”（图
真空对 PEM 中金/铝线键合高温降解的影响
金属间化合物的生长和转变伴随着金/金属间化合物界面处键合内部以及键合外围的铝接触垫中空隙的形成。空隙是由于 Al 和 Au 原子扩散速率差异（Kirkendall 效应）形成的空位聚结而产生的。金属间化合物的形成使键合更坚固，但由于金属间化合物的体积变化，与 Au 和 Al 相比，键合更脆，机械应力更大 [1, 3]。由于金属间化合物的形成，引线键合的电阻仅增加几十毫欧姆 [1, 4]。在退化的初始阶段，空隙不会显著影响键合的机械强度和接触电阻。然而，长时间暴露在高温下会增加空洞，直至键合变得机械脆弱和/或电阻增加到可接受水平以上，从而导致设备故障。