Meihua Fang 1 , Zheng liang 1 , Yingkui Gong 2* , Jianfei Chen 1 , Guiping Zhu 1 ,Ting Liu 2 , Yu tian 2 , Yu Zhou 2
现代加速器首选非侵入式测量方法来表征束流参数。电离轮廓监测器 (IPM) [1–3] 和束流诱导荧光监测器 (BIF) [4–8] 被广泛用作许多加速器中的非侵入式束流轮廓监测器。在此类监测器中,粒子束与残留气体相互作用,导致气体分子电离或发射荧光。束流与气体相互作用产生的副产物可以通过外部电磁场(离子和电子)收集,或使用独立光学系统(荧光)检测,以提供初级束流的一维分布信息。根据背景压力水平,它们通常需要较长的积分时间或加载额外的工作气体。后者将产生较大的压力凸起区域,并可能导致初级束流性能下降