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用于能量色散 X 射线的硅漂移探测器模拟...
扫描电子显微镜与能量色散 X 射线光谱法 (SEM-EDS) 相结合是一种应用广泛的元素微分析方法。硅漂移探测器 (SDD) 的集成显著增强了 EDS 性能，由于其灵敏面积大、输出电容低，因此能够精确识别元素。对 SDD 的精确模拟可以提供洞察力，使未来模型的设计和优化成为可能，而无需昂贵且耗时的实验迭代。此外，当前基于模型的 EDS 应用量化方法已达到其最大预测精度。因此，创建更精确的模拟模型可以帮助在这些量化模型中实现更高的精度，这对所有 EDS 应用都具有极大的价值。考虑到这一目标，基于 Geant4、Allpix Squared 和 COMSOL Multiphysics 开发了一个用于在 EDS 中建模 SDD 的模拟框架。模拟涵盖整个物理流程，包括目标样品的特征 X 射线发射及其在探测器中的吸收。探测器内产生的电荷载体通过 SDD 的内部电场传播，并测量它们各自的电荷贡献以模拟 EDS 光谱。模拟模型与现有文献和内部实验测量结果进行了比较，在 SDD 调整良好的情况下显示出很强的一致性。讨论了模拟框架的局限性，并探索了进一步的研究以提高准确性和速度。关键词：X 射线光谱、硅漂移探测器、扫描电子显微镜、探测器模拟
使用2D- ...能量色散X射线荧光光谱仪
引言NEX CG II是多元元素分散X射线荧光（EDXRF）光谱仪，可在许多行业中执行快速定性和定量的痕量元素分析和地址需求。这种下一代高端光谱仪是痕量重金属和卤素分析的理想选择，这是对多个部门的需求增加。这些功能使NEX CG II特别适合于环境监测，工业废物应用，再生材料，电子组件，药物材料，化妆品等。此外，NEX CG II通过几乎所有基质中的铀（U）提供了非破坏性分析，从油和液体到固体，金属，聚合物，粉末，粉末，糊状，涂料和薄项。与常规EDXRF光谱仪不同，nex
GG索引 用SmartLab的锂离子电池材料表征 nanopix-we 使用2D- ... 评估结晶聚合物材料 能量色散X射线荧光光谱仪
1。简介石墨及其工业用途的发现可以追溯到16世纪，即在第1届工业革命之前的200多年，该革命是从18世纪中期到19世纪中期。石墨的第一次工业用途是用作铅笔铅和降压材料。现在用于包括核能在内的各种高科技领域。每年生产超过120万吨石墨，未来需求的上升趋势。石墨廉价且分布在世界范围内。根据可验证的资料来源，存在数百年来满足需求的储备。现有的石墨供应几乎是有限的。一旦将石墨的碎屑剥落，它就会成为一种令人着迷的材料，称为“石墨烯”，这是一个令人惊叹的发现，直到2004年才发生。石墨烯比铁钢强1000倍，其电导率和导热性的10倍以上是金属，并且是当今已知的最薄，最轻巧的功能。2010年，诺贝尔物理学奖因其发现而获得。创新的材料和产品可以使用石墨烯在各种领域创建。因此，世界各地的研究机构和公司几乎将石墨烯的实际应用中的研究和开发进行。在发现以来的几年中，已经开发了电子产品，声学产品，声学产品，每日商品，轮胎，高尔夫球，运动服和鞋子，从而利用石墨烯来提高冲击强度，电导率特征等。