XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System蔡伟
管理政府采购项目中的供应链风险——第五次采购的成功因素和经验教训
我感谢他付出的时间、关注和友谊。与他共事将永远是我在 RBS 最美好的经历之一。我还要感谢委员会成员：陈伟伟教授、鲁道夫·洛伊施纳教授、杨南教授和齐连教授。这些导师都对这篇论文的成功完成起到了重要作用。我的家人给了我巨大的资源，给了我很多爱、支持和理解。
HKT率先推出交互式眼部AI机器人1...
配备人工智能的eye AI机器人能够识别人脸和物体，并进行语音互动。通过头部、脸颊、手掌和身体上的多个传感器，eye AI机器人会通过不同的身体动作进行互动，使互动更加有趣。在语言学习方面，eye AI机器人帮助孩子沉浸在互动环境中，在活泼轻松的环境中学习英语和普通话。它还预装了应用程序，共提供3000多本英语、普通话和/或粤语的真人配音有声电子书2。此外，eye AI机器人还配备了STEM和编码学习应用程序。孩子们可以创建指令来控制机器人的动作，从而提高他们的解决问题的能力、创造力和计算思维。透过STEM，鼓励儿童主动学习和练习逻辑思维，为未来做好准备。眼科AI机器人的人体骨骼检测技术结合歌舞，吸引儿童通过唱歌、跳舞和与机器人一起锻炼进行体感互动。为了方便沟通，父母和监护人可以在外出时打电话回家，通过机器人与孩子进行语音和视频聊天。他们还可以通过机器人的前置摄像头查看家中和孩子的情况。HKT Home董事总经理蔡伟德先生表示：“在眼科服务15年的历史中，我们始终如一地通过提供教育、信息和娱乐内容来满足每个家庭成员的需求。今天是eye智能通讯服务的新里程碑。在现有的平板电脑基础上，我们又将全新的eye AI Robot 3添加到我们的产品组合中，让语言和STEM学习变得有趣而轻松。”
会议正式记录 星期四，6 月 16 日 ...
麦美娟议员，B.B.S.，J.P.郭伟强议员，J.P.葛佩玲议员，B.B.S.，J.P.廖长江议员，G.B.S.，J.P. IR 博士 卢伟国议员，G.B.S.，M.H.，J.P.吴永嘉议员，B.B.S.，J.P. 博士 何君尧议员，J.P.周浩鼎议员邵家辉，太平绅士陈振英议员，太平绅士张国钧议员，太平绅士陆颂雄议员，太平绅士刘国勋议员，M.H.，太平绅士郑永信议员，M.H.，太平绅士谢伟铨议员，B.B.S.，太平绅士江毓芬议员 朱国强议员 李世荣议员M.H.李浩义博士，M.H.，J.P.李伟宏先生
针对 DHODH（嘧啶从头生物合成中的限速酶）的新型强效抑制剂，可广谱抗 RNA 病毒，包括新出现的冠状病毒 SARS-CoV-2
熊瑞 2, † , 张雷克 3, † , 李世良 2, † , 孙元 3 , 丁敏一 2 , 王勇 1 , 赵永亮 1 , 吴艳 3 , 尚伟娟 3 , 蒋夏明 3 , 单继伟 2 , 沉子豪 2 , 童一 2 , 徐柳新 2 , 陈宇 1 , 英乐刘 1 , 邹刚 4 , Dimitri Lavillete 4 , 赵振江 2 , 王锐 2 , 朱丽丽 2 , 肖耕夫 3 , 兰柯 1 , 李洪林 2,* , 徐克 1,4,* 1 武汉大学生命科学学院病毒学国家重点实验室,
通过非无线通信方式直接实现人类思想的交流......
马倩 1,3,4,† , 高伟 2,5,† , 肖强 1,3,4 , 丁凌松 2,5 , 高天一 2,5 , 周亚军 2,5 , 高欣欣 1,3,4 , 陶岩 1,3,4 , 刘车 1,3,4 , 谷泽 1,3,4 , 孔翔红 6 , Qammer H. Abbasi 7 、李连林 4,8 、邱成伟 6* 、李元庆 2,5* 、崔铁军 1,3,4* 1 东南大学电磁空间研究所，南京 210096 2 华南理工大学自动化科学与工程学院，广州 510641 3 东南大学毫米波国家重点实验室，南京 210096中国第四智能超材料中心琶洲实验室，广州 510330，中国 5 琶洲实验室脑机接口研究中心，广州 510330，中国 6 新加坡国立大学电气与计算机工程系，新加坡 7 格拉斯哥大学詹姆斯瓦特工程学院，格拉斯哥，G12 8QQ，英国 8 北京大学电子学系，先进光通信系统与网络国家重点实验室，100871 北京，中国 † 马倩和高伟：这些作者对这项工作做出了同等贡献。*共同通讯作者：tjcui@seu.edu.cn；auyqli@scut.edu.cn；chengwei.qiu@nus.edu.sg。
使用创新多物理场建模进行电迁移风险评估和电路优化 蔡重阳 1，杨志 2，李远 3，Padam Jai
摘要 随着晶体管越来越小、越来越密集，电子的物理流动可能会因电迁移 (EM) 在互连处形成空隙和裂缝，从而随着时间的推移抑制器件的性能。不符合 EM 规范的电路设计可能会导致灾难性故障和 SI/PI 性能下降。缓解 EM 的一种方法是在铜线层之间使用多个通孔来减少电流拥挤效应。然而，通孔的数量可能会影响关键接头内的电流密度和电流再分布。当前的研究主要集中在基于经验 Black 方程预测 EM 故障时间 (TTF)。然而，这种方法可能无法提供足够的关于空隙形成和裂纹扩展的见解，并反映可能影响 TTF 的电流再分布。在本研究中，我们比较了具有不同结构设计的球栅阵列 (BGA) 测试载体的 EM 寿命，并开发了一种基于多物理场迁移考虑焊点中原子扩散的方法，以研究通孔对电流再分布的影响。此外，还模拟了裂纹扩展以了解失效机制。在 150C 下对无通孔和有 8 个通孔的 BGA 走线施加 5A、7A 和 9A 电流以比较电磁性能。此外，每个测试结构都采用两种不同的表面处理：A 和 B。根据实验结果，执行基于原子通量发散 (AFD) 的有限元分析 (FEA) 模拟以与实验结果进行比较。发现与菊花链走线相比，8 个通孔可以显著降低电流拥挤效应。研究表明，8 个和 4 个通孔的电磁阻力优于无通孔走线，并有助于预测不同结构的电磁寿命，为设计优化提供指导。 关键词 电迁移、可靠性、多物理场、有限元分析、电路优化
