研究了Sn-Bi-Cu、Sn-Bi-Ni、Sn-Bi-Zn、Sn-Bi-Sb合金的超塑性变形行为。本研究旨在测定Sn-Bi二元合金的应变速率敏感性指数m。在不同横梁速度下进行25、40、60和80 ℃拉伸试验,测定指数m。结果表明,指数m随Bi浓度和试验温度的增加而增大。在60和80 ℃时,Sn-Bi合金的指数m均超过了3.0,这是超塑性变形行为的阈值。研究发现,Sn-Bi共晶组织对亚共晶Sn-Bi合金的超塑性变形有显著的影响。
测试理事会执行弹道、射程安全性和链路裕度分析以及根据要求定制的保真度测试后数据分析。从规划、开发、仪表、发射服务、数据收集和数据分析,该部门的目标是通过严格的事件驱动流程、降低成本和基于定制需求的工程为作战武器系统开发和测试提供全方位服务。
Polk 2 联合循环转换(2017 年)、SoBRA 光伏发电新增项目(2019 年 - 2021 年)以及 Big Bend 1 现代化项目(2023 年)为 TEC 系统提供了丰富的低成本能源,而太阳能夏季稳定容量贡献已将备用裕度需求转移到冬季。
在法国核研究所的框架下,CEA 与 AREVA 和 EDF 合作开发了铬涂层,旨在保护当前的锆合金核燃料包层材料免受高温蒸汽氧化(尤其是在意外条件下)的影响。本文重点介绍了锆合金-4 和基材上的铬涂层包层的最新研究结果。AREVA 发表了一篇补充论文 [1]。图中显示了铬涂层的典型制造微观结构。在 415°C(蒸汽,100 巴)下对未涂层参考材料和铬涂层锆合金-4 基样品进行了初步高压釜氧化试验,结果显示上一代 Cr 涂层的制备结果非常令人鼓舞。此外,还介绍了在蒸汽中高温 (HT) 氧化后获得的结果。结果表明,与传统的未涂层材料相比,迄今为止开发的铬涂层可以显著改善高温氧化后的包层机械性能(即延展性和强度)。因此,开发的铬涂层为冷却剂缺失事故(LOCA)提供了显著的额外裕度,并且在一定程度上为超越 LOCA 的条件提供了显著的额外裕度。
摘要 — 统计技术经常用于预测电子系统的性能。工艺变化考虑了制造时材料参数的不确定性,会对模拟集成电路的产量产生不利影响。对由于制造参数变化而导致的模拟电路关键输出参数变化进行统计分析,以预测产量,是模拟芯片制造中必不可少的步骤。在这项工作中,我们使用严格的统计方法来检查典型模拟电路的性能。我们设计了一个 65 nm 技术的两级 CMOS 差分放大器配置,使用 ACM 模型参数来检查工艺变化下的产量。我们采用三种不同的蒙特卡罗模型(均匀、高斯、最坏情况)来检查设计的 CMOS 差分放大器关键性能参数的统计变化。据报道,在典型工艺参数变化 10% 的情况下,关键差分放大器参数、最大增益、增益裕度和相位裕度都会发生变化。在最坏情况分布的情况下,变化最大,而在高斯分布的情况下,变化最小。结果表明,工艺变异对设计的CMOS差分放大器的成品率有显著影响。在高斯分布的情况下,增益裕度(dB)、相位裕度(度)和最大增益(dB)的标准差分别为11、25和24。
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