M OTZKUS C.、M ACÉ T.、GAIE -L EVREL F.、D UCOURTIEUX S.、D ELVALLEE A.、D IRSCHERL K.、HODOROABA V.-D.、P OPOV I.、P OPOV O.、K USELMAN I.、TAKAHATA K.、E HARA K.、A USSET P.、M AILLÉ M.、M ICHIELSEN N.、B ONDIGUEL S.、G ENSDARMES F.、M ORAWSKA L.、J OHNSON G.R.、F AGHIHI E.M.、K IM C.S.、K IM Y.H.、C HU M.C.、GUARDADO J.A.、S ALAS A.、卡帕内利G.、COSTA C.、B OSTROM T.、J AMTING A.K.、 L AWN M.A.、A DLEM L. 和 V ASLIN -R EIMANN S.,“利用在线和离线测量技术表征空气中 SiO 2 纳米粒子的尺寸:
计量学对于设计、生产、自然科学和技术科学领域的进步具有重要意义,因为提高测量精度是人类了解自然、发现和实际应用科学成果的最有效途径之一。精确的科学。测量精度的显着提高一再成为基础科学发现的主要先决条件。因此,1932年测量水密度精度的提高导致了氢的重同位素——氘的发现,这决定了核能的快速发展。由于对光干涉实验研究结果的巧妙理解,高精度地进行了实验,并驳斥了先前存在的关于光源和接收器相互运动的观点,爱因斯坦创造了举世闻名的光干涉理论。相对论。世界计量学创始人D.I.门捷列夫说过,科学从测量开始。计量对于所有行业来说对于解决提高生产效率和产品质量的问题都非常重要。让我们举几个例子来说明测量在国家中的实际作用:测量设备的成本约占机械工程设备所有成本的 15%,无线电电子设备约占设备总成本的 25%;该国每天都会进行大量不同的测量,总计有数十亿人从事与测量相关的职业,这一数字相当大
聚类分析的目的是找到相似的观察结果组。例如,有了客户购买习惯数据库,零售商可能希望将具有相似购买模式的客户归为一组。有了这些组,就可以进行进一步的分析。聚类分析首先要衡量两个观察结果的相似性或差异性。然后将最相似的观察结果聚类在一起。在本文档中,我们介绍了两种形式的聚类分析,即 k 均值(第 1.2 节)和层次聚类(第 1.3 节)。在第 1.4 节中,我们描述了一种呈现层次聚类分析结果的图形方法,称为树状图。第 2.1 节中描述的案例研究给出了使用其中一些技术进行聚类分析的示例。聚类分析期间定义的组可用于提供对感兴趣的数据集的一些见解,或可用作其他分析技术的输入,例如判别分析。
nist.gov › publication › get_pdf PDF 作者:MVV Keller · 2008 · 被引用次数:107 — 作者:MVV Keller · 2008 被引用次数:107 The quantum metrology triangle is a test of the consistency of three quantum electrical ... comparison of Nb/AI/AlO、/A1/AIO/Al/Nb Josephson.
“未来工厂”(FoF)是一个具有自主信息流和决策的互联生产环境,它构成了制造业的数字化转型,以提高效率和竞争力。透明度、可比性和可持续的质量都需要可靠的测量数据、处理方法和结果。该项目将为工业应用中测量数据的完整生命周期建立一个计量框架:从具有数字预处理输出的单个传感器的校准能力到与工业传感器网络中的机器学习(ML)相关的不确定性量化。在实际测试平台中的实施将证明其实际适用性,并为行业未来的采用提供模板。需要
对于此项目,我们正在寻找一位了解固态物理并热衷于具有计量挑战和仪器的实验项目的硕士或工程师。您将在技术人员的支持下与三名常驻研究人员组成的团队一起工作。欲了解更多信息,请联系 sophie.djordjevic@lne.fr 。完整的申请应包括简历和研究兴趣的简短描述。
• 整合临床和药代动力学数据,为所有 TA 的药理学和非房室分析准备分析数据集,以供内部决策和监管备案 • 遵循严格、系统的流程,在研究中一致地解释源数据的缺陷,从而实现建模活动
OCD方法是快速,无损,在线能力,对大多数相关的结构参数非常敏感,并具有高3D功能。它们被广泛用于过程开发和控制以及在线计量学中。他们还提供高统计相关性,适合同时进行多参数测量。但是,OCD方法的主要挑战是潜在的参数互相关和基于模型的分析中固有的歧义。必须解决更多的结构参数和更复杂的几何形状,这些问题将变得更加重要。当前的OCD方法还面临着敏感性的问题,这是由于相对于不断收缩的结构所使用的辐射的较大波长。此外,存在依赖性材料参数(介电函数)的问题,例如通过量子限制。因此,OCD迫切需要新颖或基本增强的计量学,无论是基于图像的局部探测,都具有增强的分辨率,以及具有增强的灵敏度和性能的快速集合探测。
要求更高的精度,无论是行业为控制生产而必须进行的测量,还是 NIST 为支持行业而必须进行的测量。本报告研究了美国多个离散零件制造行业尺寸公差的一些最新变化,
传统工厂如果不进行额外的物理系统测试,就无法回答这些问题中的大多数,这会带来风险和昂贵的物理开发。它还会促使公差收紧,从而增加成本,而不一定能解决问题。