长期植入的神经微电极是神经科学研究和新兴临床应用的有力工具,但由于它们在体内数月后容易失效,因此其实用性受到限制。一种失效模式是保护导电迹线免受盐水环境影响的绝缘材料的降解。研究表明,机械应力会加速材料降解,而机械应力往往集中在凸起的地形上,例如导电迹线。因此,为了避免凸起的地形,我们开发了一种制造技术,将迹线凹进(埋入)干蚀刻、自对准沟槽中。沟槽的深度和迹线的厚度相匹配,以使上覆的绝缘材料平坦,根据有限元建模,这可以降低绝缘材料中的应力集中。在这里,我们详细介绍了工艺优化、固有应力建模以及使用 SEM、聚焦离子束横截面、轮廓测量和电化学阻抗测试进行表征。该技术不需要额外的掩模,易于与现有工艺集成,并产生约 10 纳米内的平整度。
对于具有高压轨迹的微电子设备,可在真空环境中起作用,重要的是要知道真正的损坏电压对压力的影响以避免发生故障。Paschen定律在压力和距离变化时是众所周知的崩溃电压行为方程。它的常见数学表达[1]是在两个平行导电板的均匀字段假设下写的。最近有一些作品,其中一些特殊导体配置的不均匀的电晶体以及在真空中的PCB痕迹考虑的,压力高达10 -1 mbar [2]。也有关于均匀场,非常低的距离(10 UM及更近)和低真空的帕申曲线行为异常的报告[3,4]。在这里,我们介绍了对一种不均匀领域的paschen效应的研究,这是针对一种常见的PCB痕量构造的,距离距离为100 um,低真空度最高为10 -4 TORR。在本文的第2节中,我们提供了简化的理论估计,该理论估计使用Townsend标准对最小崩溃电压。在第3节中,描述了测量压力的崩溃电压依赖性的实验设置,并在第4节中提出了真空相机中PCB迹线的实验研究结果。
系统连接续 图 8 显示了如何在单个 I2S 总线上连接两个 I2S 麦克风。R41–R44 用于抑制或终止各自的迹线。如果迹线在电气上很长,则它们应该是阻抗在 50-120 欧姆范围内的受控阻抗迹线。当迹线的长度(以英寸为单位)大于上升/下降时间(以 nS 为单位)的 2 倍时,该迹线被视为在电气上很长。即使迹线在电气上不长,R41-R44 也可以用作阻尼电阻(27-51 欧姆),通过减少由杂散电感和电容引起的过冲和振铃来改善信号完整性。无论哪种情况,R41-R44 都应尽可能靠近驱动迹线的设备(信号源)。如果电容器和麦克风之间的走线电感最小化,去耦电容器(C32-33 和 C34-35)最有效。这可以通过使用短而宽的走线来实现。如果在麦克风下方使用接地平面,则将电容器接地垫直接连接到带有过孔的平面,而无需使用任何走线。
导电迹线和嵌入式电子产品 - 增材制造领域正在展开一场军备竞赛,以 3D 打印各种应用的导电迹线。这种能力将彻底改变电子产品和部件的零件设计和组装,这已不是什么秘密。从历史上看,挑战在于导电性和均匀性。通过与美国空军合作,Impossible Objects 正在开发一种打印导电迹线的新方法,并为嵌入式电子产品制定指导方针。这为具有预测性产品健康监测系统的智能产品铺平了道路。
摘要 — 迹线比优化问题包括最大化两个迹线算子之间的比率,并且经常出现在去噪或判别分析的降维问题中。在本文中,我们提出了一种分布式自适应算法来解决网络范围协方差矩阵上的迹线比优化问题,该矩阵捕获无线传感器网络中传感器之间的空间相关性。我们专注于完全连接的网络拓扑,在这种情况下,分布式算法通过在每个给定节点上仅共享观察到的信号的压缩版本来减少通信瓶颈。尽管进行了这种压缩,仍然可以证明该算法能够收敛到最大迹线比,就好像所有节点都可以访问网络中的所有信号一样。我们提供模拟结果来证明所提算法的收敛性和最优性。索引词 — 降维、分布式优化、迹线比、判别分析、SNR 优化、无线传感器网络。
• Bypass capacitor placement – Place near the positive supply terminal of the device – Provide an electrically short ground return path – Use wide traces to minimize impedance – Keep the device, capacitors, and traces on the same side of the board whenever possible • Signal trace geometry – 8mil to 12mil trace width – Lengths less than 12cm to minimize transmission line effects – Avoid 90° corners for signal traces – Use an unbroken ground plane在信号迹线下方 - 带有地面的信号迹线周围的洪水填充区域 - 对于超过12厘米的迹线•使用阻抗控制的迹线•源 - 端端使用输出附近的串联阻尼电阻器•避免分支;缓冲信号必须单独分支
图3。28/20/52 mol%PEGDA/PEGMEA/PFPA随机共聚物网络的FTIR-ATR。 从底部到顶部:黑色痕迹是在取代之前,红色迹线是在与三乙胺水作为对照中反应后,绿色迹线在THF中与1-(3-氨基氨基丙基)咪唑反应后,蓝色迹线在THF中与十二烷胺反应后。 请注意,PFPA的消失在1780、1520和985 cm -1延伸,酰胺的形成在1660 cm -1左右。 在十二烷基取代的产品中〜2925 cm -1处的信号与C-H拉伸相对应,在咪唑取代的产物中,信号与665和623 cm -1的信号对应于咪唑环弯曲。 35-3628/20/52 mol%PEGDA/PEGMEA/PFPA随机共聚物网络的FTIR-ATR。从底部到顶部:黑色痕迹是在取代之前,红色迹线是在与三乙胺水作为对照中反应后,绿色迹线在THF中与1-(3-氨基氨基丙基)咪唑反应后,蓝色迹线在THF中与十二烷胺反应后。请注意,PFPA的消失在1780、1520和985 cm -1延伸,酰胺的形成在1660 cm -1左右。在十二烷基取代的产品中〜2925 cm -1处的信号与C-H拉伸相对应,在咪唑取代的产物中,信号与665和623 cm -1的信号对应于咪唑环弯曲。35-36
γk:= v×(∂u)×(0,t),n x表示ω的外部单位正常,|⟨b x,n x⟩| 2是重量。重要的是要注意,对于经典的跟踪操作员,我们希望重量为|⟨b x,n x⟩| ,即没有正方形。但是,如果存在这样的痕迹,它仍然是一个空旷的问题。两个迹线之间的差异是,对于弱迹线,对于属于H 1 KIN(ωT)的两个函数的零件公式没有集成。因此,直接针对自己的解决方案测试方程是不可行的。尽管如此,使用弱迹线,我们可以针对NICE测试函数测试方程,以获得重新归一化公式,Lemma 2.6,它可以替代经典的能量估计。在本文中,我们表示U | γk=TrγK(U),这意味着在弱痕量含义中了解了边界值。
图5。1 -like(浅蓝色)或2个(洋红色)痕迹的1D直方图由混合溶液测量的不同模型排序。基于使用0.4 nm片段作为输入的分类结果显示为实线。作为参考,使用剪切迹线作为输入的分类结果在此重现为阴影区域。(a)应用于0.4 nm片段的CNN模型会产生3066 1类和5216 2类样痕迹(与3406 1类似于3406 1 -like和4876 2-在使用完整迹线时喜欢痕迹)。(b)应用于0.4 nm片段的PC 1 /1DH模型产生6053 1类和2229 2类样痕迹(与4397 1-类似于4397 1 -like和3901 2 -like tlace时,使用完整的痕迹时)。(c)应用于0.4 nm片段的KMeans/2DH模型产生392 1-类似于7890 2-像痕迹(与5260 1 -like和3022 2 -2 -like Traces相比,当使用完整的迹线时)。(d)应用于0.4 nm片段的逻辑回归模型产生的4730 1类和3553 2类样痕迹(与4569 1-类似于4569 1的痕迹和3713 2 -2 -like tlace tlace时使用完整痕迹时)。
在标记为 1 的部分中,分析物 2(橙色迹线)的保留时间比分析物 1(紫色迹线)更长。在标记为 2 的图表部分,两种分析物在该 %B 成分下以单个峰的形式同时流出。最后,在标记为 3 的部分中,分析物 1 的保留时间比分析物 2 更长。LSS 模型是色谱优化软件的基础,也是方法开发的强大工具。图 4 显示了使用 HALO 90 Å AQ-C18、2.7 µm 色谱柱的不规则样品混合物的示例。