使用铜线或绝缘线进行引线键合可带来许多优势,但也带来许多新挑战。全球范围内对此进行了深入研究,并得出了许多新发现和解决方案。本文回顾了使用铜线或绝缘线进行先进微电子封装的引线键合的最新进展。本文回顾了最近发表或发布的期刊文章、会议文章和专利。本文简要分析了使用铜线或绝缘线进行引线键合的优势和问题/挑战,例如引线开路和短尾缺陷、针脚/楔形键合的键合性差、铜线氧化以及弱支撑结构上的硬线。本文讨论了使用铜线或绝缘线进行引线键合的多种问题解决方案以及最新发现/发展。通过提供的参考文献,读者可以通过阅读原始文章和专利文件进行更深入的探索。2010 Elsevier Ltd. 保留所有权利。
这项研究介绍了一种创新的多学科设计方法,用于高度导电和轻巧的针脚的散热器,利用石墨烯技术的优势。主要目的是优化电动汽车(EV)中基于硅碳化物(SIC)的逆变器的热管理。在模块上,在模块上进行了综合分析,包括扫描电子显微镜(SEM)和能量色散X射线光谱(EDS),在模块上进行了全面的分析。采用3D结合传热(CHT)方法的详细流体动力学模型用于评估与冷却液接触的SIC功率开关的热行为。多学科分析最初是在基于铝制的散热器上实施的,经过实验验证,随后与石墨烯进行了比较。与热链设计中的石墨烯的整合表现出显着的改进,包括在6 L/min min流体流量的情况下,传热系数(HTC)增加了24.4%,热电阻(接收到流体)降低了19.6%。因此,与铝制版本相比,基于石墨烯的散热器中的SIC芯片的温度升高11.5%。通过采用石墨烯而不是传统金属实现的SIC逆变器的冷却解决方案的改进,作为概念证明。这表示在性能和功率密度之间的关键平衡方面向前迈出了一步。
•与BQ25703A兼容的针脚和软件•充电1至4S电池从广泛的输入源 - 3.5-V至24-V输入操作电压 - 支持USB2.0,USB 3.0,USB 3.0,USB 3.1(C型C)和USB电源(USB供应(USB-PD)输入(USB-PD)输入(USB-PD) - 无需(USB-PD)的运算 - 毫无目前的运算 - (IDPM和VDPM)针对来源超负荷•电源/当前的CPU节流电源监视器 - 全面的ProChot轮廓,IMVP8/IMVP9符合符合的和电池电流监视器 - 系统电源监视器 - IMVP8/IMVP9兼容•符合范围的电压DC(NVDC)电源型电池管理 - 无电量型电池组件 - 电池组件 - 电池启动 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池 - 电池电量 - 电池 - 电池 - 电池电量 - diode operation in supplement mode • Power up USB port from battery (USB OTG) – 3-V to 20.8-V VOTG With 8-mV resolution – Output current limit up to 6.4 A with 50-mA resolution • TI patented Pass Through Mode (PTM) for system power efficiency improvement and battery fast charging • When system is powered by battery only, Vmin Active Protection (VAP) mode supplements battery from input capacitors during system peak power spike •输入当前优化器(ICO)以提取最大输入功率•800-kHz或1.2-MHz可编程的可编程开关频率,以2.2-µh或1.0-µh电感器或1.0-µh电感器•用于灵活的系统配置的主机控制接口 - I 2 C端口最佳系统性能和状态的最佳系统性能和状态报告 - 无需进行EC的限制•电动量•电动量•电动量•电动量•电动量•电动量•电动量•电动量•电动量•
摘要在50年前,当最初将电线拉测试方法添加到MIL-STD 883中时,在方法D的条件D条件D条件D条件D中,键强度(破坏性键拉测试),测试程序和最小拉力值是基于大多数超声楔键合的拉力测试,仅是几个不同直径的超声楔形铝和金线。将原始数据的最小拉力值推断为覆盖金线和铝线的较宽的电线直径范围。自从这种测试方法发布以来,电子产业已经生产了铜超声楔键,大约15年前采用了大约15年前的铜热球键合,甚至开发了银热球球键的利基市场。该行业还建立了特殊债券,例如安全债券,反向债券也称为“球上的针迹”,甚至是多环线和丝带。在所有时间里,均未对2011年方法中的测试程序和最小拉力值进行审查,以确定它们对这些新材料或新型债券的适当性,即使该行业对所有人都广泛提及了测试方法,因此,默认情况下,该行业接受了所有人的使用。2013年底,我领导了JEDEC的JC14.1小组委员会,包装设备的可靠性测试方法,以更新JEDEC JESD22-B116,Ball Bond剪切剪切测试方法,以扩大其范围,以包括Cu Ball Bonds的剪切。工作组花了三年时间来解决必要的技术问题,以确保修订后的测试方法充分解决了铜球债券的剪切,并提出了最低可接受的剪切值。关键词工作组通过图纸和图像制作了一个大大改进的文档,描绘了黄金和铜键的不同剪切失败模式,并添加了几个信息丰富的附件,以帮助执行测试方法。到2018年,显然,电子行业中最常见的电线拉力测试方法都没有在更新其文档以包括CU线债券方面取得任何重大进展。因此,JC14.1工作组同意与JC-13.7小组委员会(新的电子设备技术)共同合作,以在JC14.1下创建一个新的,拉力拉力测试方法文档,该文档将成为JESD22-B116的伴侣。此新文档将使用2011,条件C和D作为基础,但在其范围上扩展以覆盖超声波楔和热球键的铜线键。新的测试方法将描述Ball Pull测试的过程和针脚拉的测试,该过程通过AEC Q006引用了铜键,使用铜(CU)电线互连对组件的资格要求。测试方法还将提供有关如何对当今使用的几种不同键类型进行拉力测试的指导,包括反向键,多环键和堆叠的模具。工作组计划提出JC14.1将在JESD47中引用的铜线键的最小拉值,这是集成电路的压力测试驱动的资格。After the joint working group completes its work, which is targeted for some time in 2022, JC13.7 would then be able to use the output of this working group to update Method 2011 Conditions C & D. This paper will first briefly discuss the updates made to B116 to cover Cu wire bonds, but mainly focus on the work that has so far been completed by the joint working group, including a general outline of the proposed new document, JESD22-B120, Wire Bond Pull Test 方法 。
我正在寻求帮助,并分享我在 4XL 上使用 Android 12 的令人沮丧的经历。自从升级到 A12 以来,我一直收到烦人的推送通知,说电池表无法读取。昨天醒来时,我的手机在充电仅两分钟后就没电了。除非插上电源,否则它不会重新开机,即使插上电源,也只能持续很短的时间。我尝试了多个充电器,但 Ampere 无法检测到任何充电问题。更糟糕的是,Verizon 的技术支持没有帮助,并告诉我他们无法/不会解锁我的引导加载程序。尝试恢复到 Android 11 后,我意识到由于被锁定在当前操作系统中,因此无法选择该选项。电池问题似乎是与 A12 相关的软件问题。有没有人遇到过这种情况?如果您有任何针对引导加载程序锁定的手机的解决方案,请分享!否则,直接从 Google 购买似乎是可行的方法。自收到 2021 年 6 月的安全更新以来,Google Pixel 设备(尤其是 Pixel 4 XL)一直面临一个反复出现的问题。用户不断受到“读取电池计量器时出现问题”系统 UI 通知的轰炸,该通知几乎每小时都会出现一次。尽管有大量报告,但谷歌尚未公开评论此事,但谷歌支持社区的一位产品专家已证实该问题正在升级。即使更新到最新的 Android 软件并重新启动设备后,问题仍然存在。虽然一些用户通过更换电池或降级到 2021 年 5 月的安全更新找到了临时解决方案,但这些解决方法并不被视为永久解决方案。要降级到 2021 年 5 月的安全更新,用户可以按照分步指南将 5 月的出厂映像刷入他们的 Pixel 4 XL 设备。但是,此过程需要谨慎,必须正确完成以避免任何进一步的复杂情况。必须注意的是,虽然这些解决方法提供了临时修复,但 Google 仍需要解决根本问题,以确保 Pixel 4 XL 设备上的无缝用户体验。在刷新 5 月出厂映像并在开发者选项中禁用自动系统更新后,我的 Pixel 4 XL 上再次出现了“读取电池计量器时出现问题”通知。希望 Google 能尽快为这个问题提供永久修复。与此同时,如果用户遇到此问题,可能需要联系 Pixel 支持并更换或维修电池。我自掏腰包让 UBIF 更换电池,然后将其带回给他们并让他们诊断问题(免费)。如果他们确认是主板问题,至少我会知道。市场上有许多低质量的电池,这可能是导致此问题的原因。CNLiberal 分享了他们自己在主板针脚连接器上遇到类似问题的经历。他们也开始看到与我相同的消息,但最初手机充电正常,直到问题变得更加频繁,最终一直发生。当出现“?”符号时,手机无法充电,因此他们不得不在插电的情况下使用手机一周。维修店向他们展示了 MB 连接器在显微镜下确实损坏了。由于智利的维修成本太高,他们决定购买一台新的 Pixel 5a 5g。最近,我把手机带回 UBIF,他们说谷歌会在 4 小时后免费更换电池。现在我的手机显示的电池百分比正确,这很奇怪,因为谷歌最初告诉我它不在 Pixel 延长保修范围内(几周前我曾使用我的 IMEI 与他们核实过)。更奇怪的是,当我 6 月份去 UBIF 询问是否在保修范围内时,他们说不,我必须支付 100 美元(+税)来更换电池。现在要么 UBIF 真的免费更换了电池,要么新电池上的连接器松了,他们没有告诉我就把它放回去了。我遇到了同样的问题,“?”标志出现了,我今天下午在 ubreakifix 有一个约会,看看他们是否能帮我。与他们交谈后,我将在今天晚些时候更新。