功能EN 50615:2015(B类)针对防火设备的特定要求和电动霍布(Cooktops)安全性(炉灶)安全性EN 60730-1:2011自动电气控件和类似用途,第1部分:一般需求EN 60335-1:2012年家庭和类似的电气设备和类似的电气设备,第1部分:60335-2-31:2012:2012:2012:2012:2012:2012:2012:2012:2012:2012:用于射程引擎盖。(Cl。20)无线电和EMC EN 300 328(v.1.8.1)ERM和EMC宽带传输系统EN 301 489-1:2011(v1.9.2)ERM和EMC无线电设备和服务EN 301 489-17:2009:2009(v2.1.1.1) 40 GHz频率范围EN 55014-1:2006 / CISPR 14-1电磁兼容性 - 家用电器,电动工具和类似设备的要求。EN 55022:2010电磁兼容性 - 进行和辐射排放。EN 61000 -family EN 61000-3-2:2006 + A1:2009 + A2:2009 Harmonic current emissions EN 61000-3-3:2008 Voltage fluctuation and flicker EN 61000-4-2:2009 Electrostatic discharge immunity EN 61000-4-3:2006 + A1:2009 Radiated RF-field immunity EN 61000-4-4:2004 Electrical fast瞬态免疫EN 61000-4-5:2006激增免疫力EN 61000-4-6:2009进行了RF场免疫EN 61000-4-11:2004电压倾角和短暂的中断和短暂中断ROHS ROHS EN 50581:2012 Espoo,2018年3月16日
TL7700-SEP 中主要的单粒子效应 (SEE) 事件是单粒子闩锁 (SEL)。从风险/影响的角度来看,SEL 的发生可能是最具破坏性的 SEE 事件,也是太空应用的最大隐患。TL7700-SEP 使用了双极工艺 JI1。CMOS 电路可能会产生 SEL 和 SEB 敏感性。如果高能离子通过引起的过量电流注入足以触发寄生交叉耦合 PNP 和 NPN 双极结构的形成(形成于 p-sub 和 n-well 以及 n+ 和 p+ 触点之间),则可能会发生 SEL。单事件引发的寄生双极结构在电源和接地之间形成高电导路径(产生通常比正常工作电流高几个数量级的稳态电流),该路径持续存在(“锁定”),直到断电或设备被高电流状态破坏。TL7700-SEP 在重离子 LET EFF 高达 43 MeV-cm 2 /mg 时未表现出 SEL,通量为 10 7 离子/cm 2 且芯片温度为 125°C。
专家工程师可以正确判断各种 AT 模型的换挡质量。如果 CSQ-SDL 创建的分类器可以像工程师一样正确判断其他未用于学习的 AT 模型的换挡质量,那么从实际角度来看,这将是很有趣的。为了回答这个问题,在第二项研究中,我们研究了 CSQ-SDL 为给定的 AT 模型 A 创建的分类器相对于其他模型的多功能性。其他模型是具有类似硬件的 AT 模型 B 和没有类似硬件的 AT 模型 C。事实证明,在 B 的情况下没有发现明显的恶化,而在 C 的情况下发现了明显的恶化。在第三项研究中,我们进行了另一项实验,使用自动编码器测量 AT 模型 A、B 和 C 的相似性,并表明如果有足够的数据,它会识别出 B 和 A 相似,而 C 和 A 不相似。
¾ 采用 CMOS 工艺制造,低功耗 ¾ 很宽的工作电压范围( V DD =2.4V ~ 15V ) ¾ 最大到 12 位三态地址管脚或 6 位数据输出管脚 ¾ SD827 2B 解码可选择锁存型(后缀- L )和瞬态型(后缀- M )数据输出 ¾ 封装形式为 DIP18 、 SOP18 、 SOP20 或 CHIP (裸芯片)
通过仅使用蛋白质和化合物的一维结构进行分析,可以极快地进行计算(比对接模拟快 2,000 倍以上),同时达到与使用现有三维结构进行分析相同的精度。
秘书、副相、内阁官房长官、防卫政策局长、作战计划局长、人事教育局长、会计装备局长、区域合作局长、技术总监、大臣官房副总干事吉田、参谋长联席会议长、地面参谋长、海上参谋长(代理海上参谋长)、空军副参谋长(代理)空军参谋长)、技术研究总部主任、装备设施总部主任
1 IT ロードマップ:特定の IT 领域について、现在から 5年经验先までの技术の进化や动向を NRI が予测したもの