XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System锁闩
带有密锁和联锁的车尾连接...
Brendan Crowley，Knorr Brake Corp. Ryan Crowley，Atkins Global NA Richard Curtis，Curtis Engineering Consulting Steven Dedmon，Standard Steel LLC Joe Di Liello，VIA Rail Canada Inc. David Diaz，LTK Engineering Services Adam Eby，Amtrak Phillippe Etchessahar，ALSTOM Transport Gary Fairbanks，联邦铁路管理局 Robert Festa，MTA Long Island Rail Road Steve Finegan，Atkins Global NA Gavin Fraser，Jacobs Francesco Fumarola，ALSTOM Transport Edward Gacsi，New Jersey Transit Joe Gagliardino，Arcosa Sebastien Geraud，ALSTOM Transport Jeffrey Gordon，联邦铁路管理局 Guillaume Ham-Livet，ALSTOM Transport Nick Harris，LTK Engineering Services Jasen Haskins，Atkins Global NA James Herzog，LTK Engineering Services Kenneth Hesser，LTK Engineering Services Lew Hoens，MTA Metro-North Railroad Christopher Holliday，STV Inc. George Hud，LTK 工程服务公司 John Janiszewski，LTK 工程服务公司 MaryClara Jones，运输技术中心 Robert Jones，Stadler 铁路集团 Larry Kelterborn，LDK Advisory，Inc. Joseph Kenas，庞巴迪运输公司 Peter Klauser，车辆动力学 Heinz-Peter Kotz，西门子交通公司 Scott Kramer，Arcosa Tammy Krause，Atkins Global NA Pallavi Lal，LTK 工程服务公司 Peter Lapre，联邦铁路管理局 Nicolas Lessard，庞巴迪运输公司 Cameron Lonsdale，标准钢铁有限责任公司 Daniel Luskin，美国铁路公司 Chris Madden，美国铁路公司 Francesco Maldari，MTA 长岛铁路 Brian Marquis，沃尔普国家铁路公司运输。系统。中心 Eloy Martinez，LTK 工程服务 Francis Mascarenhas，Metra Raynald Masse，Reseau de Transport Metropolitain Robert May，LTK 工程服务 Ronald Mayville，Simpson Gumpertz & Heger，Inc. Richard Mazur，Wabtec Corp. Patrick McCunney，Atkins Global NA Gerard McIntyre，Knorr Brake Corp. Bryan McLaughlin，Knorr Brake Corp.
Schlage NDE 系列无线锁数据表
NDE 无线锁将锁、凭证读取器、门位置传感器和请求退出开关整合到一个装置中，从而简化了安装。NDE 无线锁采用标准 ND 圆柱形门准备，只需一把十字螺丝刀即可在几分钟内完成安装；无需安装其他组件、钻孔或在每个开口处布线。NDE 配有最流行的 Schlage ND 杆、钥匙槽和饰面，可提供满足几乎所有设施要求的有吸引力的选择。NDE 非常适合办公室和套房入口、会议室、公共区域门、居民单元和带有圆柱形门准备的敏感存储区域。
Albion光滑与时尚数字蓝牙锁
使用功能强大的TTLOCK应用程序，锁定和用户设置很容易配置和管理。可以通过PIN代码，RFID凭据，通过BLE管理的Ekeys和Mechanical Key Override提供给家人和访问者的访问。通过添加McGrath锁WiFi网关，您可以使用TTLOCK应用程序将Albion远程解锁。
新型 RS-232 IC 具有 1µA 电源电流、±15kV ESD...
ESD 测试的注意事项 1) 务必使用标准测试设备。ESD 测试的可重复性本身已经非常困难，更不用说通过自制设备引入额外的未知数。对于 IEC 801-2 测试，Maxim 使用 Schaffner 的 NSG 435 ESD 枪。对于按照 MIL-STD-883 方法 3015.7 进行测试，Maxim 使用 IMCS 的 Model 4000 测试仪。 2) 在 ESD 测试之前和之后，务必对被测设备执行一整套参数测试。ESD 通常会导致灾难性的故障，但也可能引入细微的和潜在的损坏，这些损坏之后会表现为现场故障。尤其应密切监测漏电流以检测这种损坏。 3) 务必测试整个 ESD 电压范围（而不仅仅是上限）。许多 ESD 保护结构可以承受保证的最高 ESD 电压，但在较低水平下会失效。Maxim 测试每个器件引脚，从 200V 开始，以 200V 为增量递增，直到发生故障或达到 ESD 测试仪的极限。4) 务必要求性能符合所有相关标准。例如，MIL-STD-883 模拟 IC 在组装和分销（运输）过程中遇到的 ESD。仅适用于连接到本地系统外部的引脚的 IEC 801-2 模拟可能发生在终端设备中的 ESD 事件。5) 务必在通电和断电时执行 IEC 801-2 测试。一些竞争 IC（包括双极型和 CMOS）在通电时受到 ESD 事件时会出现 SCR 闩锁。SCR 闩锁可以 c
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
管理控制 IC 驱动功率级中的瞬变
在第一种情况下，使用“理想自举”电路，其中 VCC 由零欧姆电源驱动，理想二极管为 VB 供电。下冲现在与 Vcc 相加，导致自举电容器过充电，如图 2 所示。举例来说，如果 VCC =15V，则超过 10V 的 VS 下冲会迫使浮动电源超过 25V，从而有二极管 D1 击穿和随后闩锁的风险。现在假设自举电源被图 3 中的理想浮动电源取代，这样 VBS 在任何情况下都是固定的。请注意，使用低阻抗辅助电源代替自举电路可以解决这种情况。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。