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目标是开发一种先进的传感工具，以提高半导体芯片检查的精度，减少芯片故障，提高能源效率。量子钻石微芯片成像仪类似于磁共振成像（MRI），可对半导体芯片进行非侵入式和非破坏性成像，克服了传统方法在芯片尺寸减小时检测异常的局限性。它利用钻石中的氮空位中心以及专门的硬件和软件，大大增强了故障分析、设备开发和优化过程。它还可以可视化多层芯片中的三维电荷流，以实现高级缺陷识别。它将在微电子、生物和地质成像以及磁场精细成像等领域得到广泛应用。
印度首款量子钻石微芯片成像仪
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