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提出的活动领域的概述：参见（单个事件效应）对COTS设备的测试和可靠性分析分析对在UCL Louvain-La-Neuve辐照的电子设备的长期可靠性（BE）活动领域将取决于对组件工程的基本知识的发展，产品保证原理以及对EEE EEE组合对EEE EEE的辐射效应的基本知识。 尤其是支持辐射测试运动的支持，包括开发测试设置和对EEE组件的随后数据分析，尤其是针对COTS设备的EEE组件，重点是在UCL Cyclone重离子设施中进行的SEE SEE SEE SEE SEE SEE进行，这是用于在不同类型的conconeration Evalence and Intrications consonic conconization and Conconization consications consications consications and Conticalization contications and Conconization的contications consications的表现。 对重型离子测试提交的COTS设备的可靠性评估：SEL（单个事件锁存）的影响，高电流事件和单个事件功能中断零件的长期可靠性。 最佳工业实践对使用脉冲激光测试的运作和开发，以模拟空间辐射对微电子设备的影响。 对标准化活动的贡献，从而改善了现有的单一事件效果测试指南和测试方法。提出的活动领域的概述：参见（单个事件效应）对COTS设备的测试和可靠性分析分析对在UCL Louvain-La-Neuve辐照的电子设备的长期可靠性（BE）活动领域将取决于对组件工程的基本知识的发展，产品保证原理以及对EEE EEE组合对EEE EEE的辐射效应的基本知识。尤其是支持辐射测试运动的支持，包括开发测试设置和对EEE组件的随后数据分析，尤其是针对COTS设备的EEE组件，重点是在UCL Cyclone重离子设施中进行的SEE SEE SEE SEE SEE SEE进行，这是用于在不同类型的conconeration Evalence and Intrications consonic conconization and Conconization consications consications consications and Conticalization contications and Conconization的contications consications的表现。对重型离子测试提交的COTS设备的可靠性评估：SEL（单个事件锁存）的影响，高电流事件和单个事件功能中断零件的长期可靠性。最佳工业实践对使用脉冲激光测试的运作和开发，以模拟空间辐射对微电子设备的影响。对标准化活动的贡献，从而改善了现有的单一事件效果测试指南和测试方法。
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