自动化硬件(HW)安全漏洞检测和在设计阶段的缓解措施必须有两个原因:(i)必须在芯片制造之前,因为装修后修复程序可能是昂贵甚至不切实际的; (ii)现代HW的规模和复杂性引起了人们对损害中央情报局三合会的未知漏洞的担忧。虽然大型语言模型(LLM)可以在半导体环境中彻底改变HW设计和测试过程,但可以利用LLMS自动纠正HW设计中固有的安全性 - 相关漏洞。这项研究在寄存器转移水平(RTL)设计中阐述了LLM集成的种子,重点是自主解决与安全有关的漏洞的能力。分析涉及比较方法论,评估可伸缩性,可解释性和识别未来的研究方向。潜在的探索领域包括开发用于HW Secupity任务的专业LLM架构,并使用特定领域的知识来增强模型性能,从而导致可靠的自动化安全性测量和与HW脆弱性相关的降低风险。
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